使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計有足夠的熱量，允許一個范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個典型的組裝案例，其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中，噴嘴比組件小得多，且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的，包括電路板制造和電鍍殘留物、人機交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染?？紤]到這一點，每當遇到不可接受的結(jié)果時，這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中，應(yīng)該定義一個“正常”的結(jié)果范圍，但是當結(jié)果超出預(yù)期范圍時，可能會...

電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω，電阻測量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測量電壓，因為儀器恒壓工作測量漏電流，用歐姆定理...

在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時間的試驗，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性...

CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生...

絕緣不良是電氣設(shè)備失效和安全事故的常見原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點，因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)，專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長時間使用或特定環(huán)境下可能會老化，導(dǎo)致表面電阻下降，進而影響整個系統(tǒng)的安全性。通過定期進行SIR測試，可以早期發(fā)現(xiàn)這些問題，及時采取措施，避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測試系統(tǒng)，以其高度的自動化和智能化，能夠在各種條件下快速、準確地完成測試任務(wù)，**提高了檢測效率和準確性。對于制造商而言，這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強，也是對品牌信譽的有力背書。智能電阻具有高精度的特點。江蘇電阻測試訂做價格電阻測試《優(yōu)化清洗工藝的智慧眼：GWH...

幾種測試方法有助于這一評級，其中許多電化學(xué)可靠性測試方法都適用于助焊劑。(注:對于J-STD-004B中規(guī)定的錫膏助焊劑或含芯焊錫線的助焊劑，有些方法可能略有不同)。設(shè)計特征和工藝驗證對于準備制造一個新的PCB組件非常關(guān)鍵。這將包括調(diào)查來料、開發(fā)適當?shù)暮附庸に噮?shù)、并**終敲定一個經(jīng)過很多步驟驗證的典型的PCB組件。這將花費比用于驗證每個組裝過程多得多的時間。本文將重點討論工藝驗證步驟中應(yīng)該進行的測試，助焊劑特性測試IPC要求焊接用的所有助焊劑都按照J-STD-004（目前在B版中)_進行分類。這份標準概述了助焊劑的基本性能要求和用于描述助焊劑在焊接過程中和組裝后在環(huán)境中與銅電路的反應(yīng)的行業(yè)標...

10、在500小時的偏壓加載后，可以進行額外的T/H/B條件。然而，**少要進行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結(jié)果之一。11、在確定為CAF失效之前，應(yīng)該確認連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區(qū)域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測試線纜的線路切斷。所有的測試結(jié)束后，如果發(fā)現(xiàn)某塊測試板連接線兩端的電阻確實小于菊花鏈區(qū)域的電阻，那么這塊測試板就不能作為數(shù)據(jù)分析的依據(jù)。常規(guī)結(jié)果判定：1.96小時靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆，即判定樣本失效；2.當**終測試絕緣電阻R2<108歐姆，或者在測試過程中有3次記錄或以上出現(xiàn)R2<108歐姆即判定樣本失效。離子在單位強度(V/m)電場作用下...

必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機理，找出失效原因，反饋給設(shè)計、制造和使用，共同研究和實施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認結(jié)果的失效原因，可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測試（包括破壞性實驗）。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ)，元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進設(shè)計和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性。系統(tǒng)標配≥256通道，可分為16組測試單元，同...

為了提高PCB板的絕緣性能，可以采取一些措施。首先，要保持PCB板的清潔。在制造過程中，要注意防止污染物的進入，例如在操作過程中要戴手套，避免手部污染。其次，要選擇合適的材料。一些材料具有較好的絕緣性能，可以在PCB板的制造中使用。此外，還可以采用一些特殊的工藝，例如涂覆絕緣層或使用特殊的涂料，來提高PCB板的絕緣性能。PCB離子遷移絕緣電阻測試是一項重要的測試方法，用于評估PCB板的絕緣性能。通過測量絕緣電阻，可以判斷PCB板的絕緣性能是否符合要求。為了提高PCB板的絕緣性能，可以采取一些措施，例如保持清潔、選擇合適的材料和采用特殊的工藝。通過這些措施，可以提高PCB板的絕緣性能，確保電子產(chǎn)...

NO.3PCB制程鉆孔鉆孔參數(shù)不當或鉆針研磨次數(shù)太多會導(dǎo)致孔壁表面凹凸起伏大。在化學(xué)濕加工過程中，表面凹陷之處易聚集或包覆金屬鹽類溶液，易滲入到薄弱結(jié)合部的細微裂縫中，從而導(dǎo)致出現(xiàn)CAF的可靠性問題。因此需選擇較合適的鉆孔參數(shù)和較新的鉆針，以確保鉆孔的質(zhì)量。除膠渣除膠渣若參數(shù)選擇不當，除膠不凈會影響電鍍的質(zhì)量，增加CAF失效的機會。因此根據(jù)不同類型材料需選擇合適的除膠參數(shù)。壓合需要選擇合適的壓合程序，尤其是多層板要注意層壓參數(shù)的匹配性，確保壓合的質(zhì)量。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。陜西電阻測試操作電阻測試電化學(xué)遷移被認為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會導(dǎo)致產(chǎn)品在...

當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn)，但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會被環(huán)氧基板編織布所吸收，增強基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會增電化學(xué)遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層...

在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預(yù)處理，...

01電化學(xué)遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細，電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外，還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力，可實現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類型全部需要通過電化學(xué)遷移測試才能獲得入門資格。其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。廣東電阻測試誠信合作電阻測試電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測試儀器。它通常由多...

使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計有足夠的熱量，允許一個范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個典型的組裝案例，其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中，噴嘴比組件小得多，且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的，包括電路板制造和電鍍殘留物、人機交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染。考慮到這一點，每當遇到不可接受的結(jié)果時，這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中，應(yīng)該定義一個“正?！钡慕Y(jié)果范圍，但是當結(jié)果超出預(yù)期范圍時，可能會...

線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素：無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度，還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物（包括助焊劑殘留物）。由于這種失效機制是動態(tài)變化的，理想狀況是對每種設(shè)計和裝配都進行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題：如何比較好地描述一個組件的電化學(xué)遷移傾向。表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機理取決于四個因素：銅、電壓、濕度和離子種類。當環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時，能夠與表面上的任何離子相互作用，使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應(yīng)，它們在電壓的作用下，被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟：水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積...

一個的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供及時的技術(shù)支持。當用戶在使用設(shè)備時遇到問題時，他們應(yīng)該能夠及時聯(lián)系到供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊。供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊應(yīng)該由經(jīng)驗豐富的工程師組成，能夠快速診斷和解決問題。他們可以通過電話、電子郵件或在線聊天等方式與用戶進行溝通，幫助用戶解決問題。還可以提供遠程技術(shù)支持服務(wù)。通過遠程技術(shù)支持，供應(yīng)商的工程師可以通過互聯(lián)網(wǎng)遠程連接到用戶的設(shè)備，進行故障診斷和修復(fù)。這種方式不僅可以節(jié)省用戶的時間和成本，還可以提高故障排除的效率。當用戶遇到問題時，他們只需要聯(lián)系供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊，工程師就可以遠程連接到設(shè)備并進行故障排查。電阻測試是一種常見的電子測試方法。湖北制造電阻測試廠家...

電阻測試種類繁多，包括靜態(tài)電阻測試、動態(tài)電阻測試、溫度電阻測試等。靜態(tài)電阻測試是常見的電阻測試方法之一。它通過將待測電阻與一個已知電阻串聯(lián)，然后通過測量電路中的電壓和電流來計算待測電阻的阻值。這種測試方法簡單易行，適用于大多數(shù)電阻測試場景。在進行靜態(tài)電阻測試時，需要注意測試電路的穩(wěn)定性和準確性，以確保測試結(jié)果的可靠性。動態(tài)電阻測試是一種更為精確的電阻測試方法。它通過在待測電阻上施加一個交變電壓或交變電流，然后測量電路中的相位差和幅度來計算待測電阻的阻值。與靜態(tài)電阻測試相比，動態(tài)電阻測試可以消除電路中的噪聲和干擾，提高測試結(jié)果的準確性。動態(tài)電阻測試常用于對高精度電阻的測試，例如精密儀器和測量設(shè)備...

PCB離子遷移絕緣電阻測試是一項重要的測試方法，用于評估PCB板的絕緣性能。在電子產(chǎn)品制造過程中，PCB板的絕緣性能是至關(guān)重要的，它直接影響著產(chǎn)品的可靠性和安全性。因此，進行PCB離子遷移絕緣電阻測試是必不可少的。PCB離子遷移是指在電場作用下，PCB板表面的離子會遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。這種現(xiàn)象主要是由于PCB板表面的污染物引起的，例如油污、灰塵、水分等。當這些污染物存在時，它們會在電場的作用下形成離子，進而遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。電阻測試用于測量電路中的電阻值。廣西供應(yīng)電阻測試牌子電阻測試5.1.硬件連接與操作步驟1)事先準備好要求測試的PCB樣品，...

AF與ECM/SIR都是一個電化學(xué)過程；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面3個條件）：電解液環(huán)境，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷，或線與線間存在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfiber...

電阻測試種類繁多，包括靜態(tài)電阻測試、動態(tài)電阻測試、溫度電阻測試等。靜態(tài)電阻測試是常見的電阻測試方法之一。它通過將待測電阻與一個已知電阻串聯(lián)，然后通過測量電路中的電壓和電流來計算待測電阻的阻值。這種測試方法簡單易行，適用于大多數(shù)電阻測試場景。在進行靜態(tài)電阻測試時，需要注意測試電路的穩(wěn)定性和準確性，以確保測試結(jié)果的可靠性。動態(tài)電阻測試是一種更為精確的電阻測試方法。它通過在待測電阻上施加一個交變電壓或交變電流，然后測量電路中的相位差和幅度來計算待測電阻的阻值。與靜態(tài)電阻測試相比，動態(tài)電阻測試可以消除電路中的噪聲和干擾，提高測試結(jié)果的準確性。動態(tài)電阻測試常用于對高精度電阻的測試，例如精密儀器和測量設(shè)備...

導(dǎo)電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重，究其原因，是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。選擇...

一個的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供及時的技術(shù)支持。當用戶在使用設(shè)備時遇到問題時，他們應(yīng)該能夠及時聯(lián)系到供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊。供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊應(yīng)該由經(jīng)驗豐富的工程師組成，能夠快速診斷和解決問題。他們可以通過電話、電子郵件或在線聊天等方式與用戶進行溝通，幫助用戶解決問題。還可以提供遠程技術(shù)支持服務(wù)。通過遠程技術(shù)支持，供應(yīng)商的工程師可以通過互聯(lián)網(wǎng)遠程連接到用戶的設(shè)備，進行故障診斷和修復(fù)。這種方式不僅可以節(jié)省用戶的時間和成本，還可以提高故障排除的效率。當用戶遇到問題時，他們只需要聯(lián)系供應(yīng)商的技術(shù)支持團隊，工程師就可以遠程連接到設(shè)備并進行故障排查。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表...

一般我們使用這個方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION)，另外，它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment，導(dǎo)電性細絲物，陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗。 注：CAF主要在測試助焊劑對PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評估污染物對組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點除了可偵測局部的污染外，也可以測得離子及非離子污染物對印刷電路板(PCB)可靠度的影響，其效果遠比其他方法(如清潔度試驗、鉻酸銀試驗…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密，焊點與焊點也越來越...

Sir電阻測試可以應(yīng)用于各種不同的電路中。無論是簡單的電路還是復(fù)雜的電路，都可以使用Sir電阻測試來測量電阻值。這種測試方法不僅適用于實驗室環(huán)境，也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中，Sir電阻測試可以用來檢測電路中的故障，提高生產(chǎn)效率。除了測量電阻值，Sir電阻測試還可以用來檢測電路中的其他問題。例如，它可以用來檢測電路中的短路和斷路。通過測量電磁場的變化，可以判斷電路中是否存在短路或斷路問題。這種測試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問題，并進行修復(fù)。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時可能存在一定的誤差。廣東表面絕緣電阻測試原理電阻測試多功能電阻測試設(shè)備是一種集成了多種測試功能的設(shè)備，可以同時進行多種...

電阻測量儀是一種專門用于測量電阻值的儀器。它通過將待測電阻與已知電阻進行比較，從而得到準確的電阻值。電阻測量儀具有高精度、快速測量的特點，適用于各種電阻值的測量。電阻測試夾具是一種用于固定和連接電阻的工具。它通常由導(dǎo)電材料制成，具有良好的導(dǎo)電性能和穩(wěn)定的連接效果。電阻測試夾具可以幫助工程師快速、準確地進行電阻測試，提高工作效率。選擇電阻測試配件時，首先要考慮其準確性。準確的測試結(jié)果對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要，因此需要選擇具有高精度的電阻測試配件。選擇智能電阻時，用戶需要考慮測量范圍和分辨率。江蘇智能電阻測試售后服務(wù)電阻測試離子遷移絕緣電阻測試是一種常用的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測方法。它通過測量材...

PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點場、熱能、機械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下，電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。智能電阻可以直接通過連接到計算機或移動設(shè)備上進行測試。江蘇表面絕緣SIR電阻測試...

試驗通道數(shù)1-256通道試驗時間0---9999小時（可以任意設(shè)定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時分組16通道/組，各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測試模式定時觸發(fā)、溫度觸發(fā)測試數(shù)據(jù)輸出圖表，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報警可設(shè)定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃，精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實時監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟...

試驗通道數(shù)1-256通道試驗時間0---9999小時（可以任意設(shè)定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時分組16通道/組，各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測試模式定時觸發(fā)、溫度觸發(fā)測試數(shù)據(jù)輸出圖表，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報警可設(shè)定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃，精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實時監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟...

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測量電壓，因為儀器恒壓工作測量漏電流，用歐姆定理計算電阻值。電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104 -1 x1014 Ω，電阻測量精度：1x104 -1x1010Ω≤±2%， 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 ...

一、產(chǎn)品特點1．**溫度監(jiān)測系統(tǒng)，使測試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗箱。2．采用高可靠性、高精度的測試儀器，并經(jīng)過CE認證，在計量方面均可溯源到國際標準。3．面向用戶開發(fā)的測試軟體，充分滿足不同用戶的獨特要求，使測試軟體的操作介面更完善、更方便。4．模組式的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，使維修方便、快捷；具有良好的可擴展性。5．采用反應(yīng)時間小于3毫秒并且壽命高達1000萬次的開關(guān)控制系統(tǒng)，確保測試的可靠性。6．**的UPS供電系統(tǒng)，使測試系統(tǒng)能夠保證測試資料的可靠性，可以保證在突然斷電時測量資料不丟失。7.細小的模塊外接插頭，使每個插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗的通孔。二、設(shè)計原理導(dǎo)通電阻的測試方式是先對被測物體施加一...