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廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時(shí)測量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測量電壓,因?yàn)閮x器恒壓工作測量漏電流,用歐姆定理計(jì)算電阻值。電阻值的測定時(shí)間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測試范圍1x104 -1 x1014 Ω,電阻測量精度:1x104 -1x1010Ω≤±2%, 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%很多用戶在使用電阻測試設(shè)備過程中會(huì)遇到各種問題。廣州pcb板電阻測試系統(tǒng)
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計(jì)方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計(jì)方案;(當(dāng)然重點(diǎn)還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時(shí),會(huì)造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項(xiàng)受客戶產(chǎn)品設(shè)計(jì)的制約;產(chǎn)品的防濕保護(hù)設(shè)計(jì);解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計(jì),如涉及海運(yùn),建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;廣州CAF電阻測試分析電阻測試用于測量電路中的電阻值。
在進(jìn)行電阻測試時(shí),需要注意一些關(guān)鍵的因素,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。首先,測試儀器的選擇非常重要,應(yīng)選擇具有高精度和穩(wěn)定性的測試儀器。其次,測試環(huán)境的控制也很重要,應(yīng)盡量避免干擾和噪聲的影響。,測試方法的選擇也需要根據(jù)具體的測試需求進(jìn)行,以確保測試結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性,電阻測試是電子工程中不可或缺的一部分。不同的電阻測試方法適用于不同的測試需求,可以幫助工程師評估電路性能和改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)。在進(jìn)行電阻測試時(shí),需要注意測試儀器的選擇、測試環(huán)境的控制和測試方法的選擇,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。希望本文對讀者了解電阻測試種類和應(yīng)用有所幫助。
1、保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會(huì)造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過5分鐘。3、測量電阻。采用50V的直流偏置電壓,用100V的測試電壓測試每塊板的菊花鏈網(wǎng)絡(luò)的絕緣電阻前至少充電60S的時(shí)間。偏置電壓的極性和測試電壓的極性必須隨時(shí)保持一致。電阻測試設(shè)備比較復(fù)雜。
智能電阻通過相應(yīng)的軟件或應(yīng)用程序,用戶可以輕松地進(jìn)行電阻測試,并且可以實(shí)時(shí)查看和分析測試結(jié)果。這種便捷的操作方式提高了工作效率,減少了測試過程中的人為誤差。此外,智能電阻還具有更加豐富的功能和應(yīng)用場景。除了基本的電阻測試功能外,智能電阻還可以提供其他附加功能,比如溫度測量、電流測量等。這些功能的集成使得智能電阻可以在更的領(lǐng)域中應(yīng)用,比如自動(dòng)化控制系統(tǒng)、電力系統(tǒng)和通信系統(tǒng)等。智能電阻的應(yīng)用范圍更加,可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。提供質(zhì)量的售后服務(wù)對于電阻測試設(shè)備的供應(yīng)商來說至關(guān)重要。江蘇離子遷移電阻測試
離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場作用下的移動(dòng)速度稱之為離子遷移率,它是分辨被測離子直徑大小的一個(gè)重要參數(shù)。廣州pcb板電阻測試系統(tǒng)
CAF形成過程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問題1)樹脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問題1)孔粗-鉆孔太過粗糙,造成玻纖束被拉松或分離而出現(xiàn)間隙;2)除膠渣-PCB制程之PTH中的除膠渣過度,或沉銅浸入玻纖束發(fā)生燈芯效應(yīng),過度的燈芯加上孔與孔相距太近時(shí),可能會(huì)使得其間板材的絕緣品質(zhì)變差加速產(chǎn)生CAF效應(yīng)。廣州pcb板電阻測試系統(tǒng)