SIR和CAF電阻測試方法

試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)（可以任意設(shè)定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時(shí)分組16通道/組，各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測試模式定時(shí)觸發(fā)、溫度觸發(fā)測試數(shù)據(jù)輸出圖表，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報(bào)警可設(shè)定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃，精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫由客戶自行購買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求，定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過程的殘留）。SIR和CAF電阻測試方法

離子遷移的兩大階段離子遷移發(fā)生的主因是樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時(shí)親膠性不良，兩者之間一旦出現(xiàn)間隙（Gap）后，又在偏壓驅(qū)動(dòng)之下，使得銅鹽獲得可移動(dòng)的路徑后，于是CAF就進(jìn)一步形成了。離子遷移的發(fā)生可分為兩階段：STEPl是高溫高濕的影響下，使得樹脂與玻纖之間的附著力出現(xiàn)劣化，并促成玻纖表面硅烷處理層產(chǎn)生水解，進(jìn)而形成了對(duì)銅金屬腐蝕的環(huán)境。STEP2則已出現(xiàn)了銅腐蝕的水解反應(yīng)，并形成了銅鹽的沉積物，已到達(dá)不可逆反應(yīng)，其反應(yīng)式如下：廣州PCB絕緣電阻測試價(jià)格在電子設(shè)備領(lǐng)域，表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評(píng)估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評(píng)估手段。

從監(jiān)控的方式看：都是通過監(jiān)控其絕緣阻值變化作為**重要的判斷指標(biāo)；故很多汽車行業(yè)或?qū)嶒?yàn)室已習(xí)慣上把ECM/SIR從廣義上定義為CAF的一種（線與線之間的表面CAF）。ECM/SIR與CAF的聯(lián)系與差異差異點(diǎn)：從產(chǎn)生的原因看：ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移；而CAF是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移,進(jìn)而出現(xiàn)漏電；從產(chǎn)生的現(xiàn)象看：ECM/SIR會(huì)在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì)；而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間，出現(xiàn)陽極金屬絲；

AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面3個(gè)條件）：電解液環(huán)境，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷，或線與線間存在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）；加劇其產(chǎn)生的條件類似：高濕環(huán)境（Highhumidityrate）；高電壓（HigherVoltagelevels）；高溫環(huán)境（Highertemperature）；智能電阻具有高精度的特點(diǎn)。

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結(jié)合力不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大在所用的電子化學(xué)品中，容易被忽視的是焊劑。廣州表面絕緣SIR電阻測試

用戶需要根據(jù)待測電阻的范圍選擇合適的智能電阻。SIR和CAF電阻測試方法

在選擇智能電阻時(shí)，用戶需要考慮一些關(guān)鍵因素。首先是精度和穩(wěn)定性，用戶需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求選擇適合的精度和穩(wěn)定性要求。其次是測量范圍和分辨率，用戶需要根據(jù)待測電阻的范圍選擇合適的智能電阻。此外，用戶還需要考慮智能電阻的接口和通信方式，以便與其他設(shè)備進(jìn)行連接和數(shù)據(jù)傳輸。智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件，具有高精度、便捷操作和豐富功能的特點(diǎn)。它在電子工程中的應(yīng)用越來越，為電阻測試提供了更加準(zhǔn)確和便捷的解決方案。在選擇智能電阻時(shí)，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、測量范圍和接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。SIR和CAF電阻測試方法