使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計有足夠的熱量,允許一個范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個典型的組裝案例,其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中,噴嘴比組件小得多,且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的,包括電路板制造和電鍍殘留物、人機交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染??紤]到這一點,每當(dāng)遇到不可接受的結(jié)果時,這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中,應(yīng)該定義一個“正?!钡慕Y(jié)果范圍,但是當(dāng)結(jié)果超出預(yù)期范圍時,可能會有許多潛在的原因。提供質(zhì)量的售后服務(wù)對于電阻測試設(shè)備的供應(yīng)商來說至關(guān)重要。廣東智能電阻測試訂做價格
一般而言,SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導(dǎo)致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時,選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。廣西sir電阻測試誠信合作一個的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細的產(chǎn)品說明和操作手冊。
PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時,原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點場、熱能、機械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下,電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。
8、在整個測試過程中,建議每24到100個小時需要換用另外的電阻檢測器,確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中,為了保證測試的準確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應(yīng)該被算作一次失效。因為陽極導(dǎo)電絲是很細的,很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了,測試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時,電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當(dāng)測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時,顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后(一共596個小時),像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進行實時監(jiān)控,測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理。
在七天的測試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開始24小時的穩(wěn)定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是:持續(xù)時間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進行。樣板的制備和ECM測試一樣,都是依據(jù)方法制備(如圖1)。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時可能存在一定的誤差。湖北pcb離子遷移絕緣電阻測試有哪些
智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣,可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。廣東智能電阻測試訂做價格
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計方案;(當(dāng)然重點還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時,會造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項受客戶產(chǎn)品設(shè)計的制約;產(chǎn)品的防濕保護設(shè)計;解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計,如涉及海運,建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;廣東智能電阻測試訂做價格