浙江sir電阻測(cè)試有哪些

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測(cè)試方法通常是認(rèn)證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn)，但是NiAu和HASL工藝的殘留物對(duì)PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會(huì)被環(huán)氧基板編織布所吸收，增強(qiáng)基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會(huì)增電化學(xué)遷移的趨勢(shì)。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學(xué)劑。表面絕緣阻抗(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過程的殘留）。浙江sir電阻測(cè)試有哪些

在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中，隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長時(shí)，稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF，本文中不會(huì)討論這種情況，但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí)，它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長，比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測(cè)試。可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn)，例如：熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測(cè)試每一種考驗(yàn)因素對(duì)系統(tǒng)的影響，通常以加速老化的方式來測(cè)試。這也就是說，測(cè)試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對(duì)象主要是各種測(cè)試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為：在直流偏壓的影響下，印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子，由電場(chǎng)運(yùn)輸重新沉積在陰極上。湖南pcb絕緣電阻測(cè)試批量定制離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試電阻值顯現(xiàn)出來。

PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下，電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。什么是PCB/PCBA絕緣失效？PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時(shí)，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-500，可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長時(shí)間的測(cè)試樣品，觀察并記錄被測(cè)樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理，客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式，對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測(cè)試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測(cè)試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測(cè)試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測(cè)試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測(cè)量范圍1x106-1x1014Ω電阻測(cè)量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。測(cè)試控制軟件管理模塊：用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。

電子元器件篩選的目的：剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點(diǎn)：篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。不改變?cè)骷逃惺C(jī)理和固有可靠性。對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選。篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目：檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗(yàn)、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)。環(huán)境應(yīng)?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動(dòng)態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍：半導(dǎo)體集成電路：時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲(chǔ)器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;選擇智能電阻時(shí)，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。浙江sir電阻測(cè)試有哪些

智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測(cè)試。浙江sir電阻測(cè)試有哪些

隨著電子設(shè)備的小型化、集成度提高，對(duì)材料的絕緣性能要求也日益嚴(yán)格。廣州維柯信息技術(shù)有限公司走在科技前沿，通過不斷的技術(shù)創(chuàng)新，推出了SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)，為材料科學(xué)和電氣工程領(lǐng)域帶來了一場(chǎng)技術(shù)分享。該系統(tǒng)采用了準(zhǔn)確的傳感器技術(shù)和數(shù)據(jù)分析算法，能夠深入分析材料表面絕緣性能的細(xì)微變化，為科研工作者提供了寶貴的數(shù)據(jù)支持，促進(jìn)了新材料的研發(fā)和應(yīng)用。同時(shí)，廣州維柯還注重用戶體驗(yàn)，系統(tǒng)設(shè)計(jì)兼顧了易用性和精確性，即便是復(fù)雜測(cè)試也能輕松完成，有效縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到市場(chǎng)的周期。浙江sir電阻測(cè)試有哪些