X射線衍射儀（XRD）是材料無損表征的有力工具。運用衍射原理，可實現(xiàn)粉末、塊體、薄膜等樣品的測試分析，可以精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，也就是說可以精確的進行物相分析，定性、定量分析及殘余應(yīng)力的分析。X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點陣常數(shù)的精密測定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計算和宏觀殘余應(yīng)力測定及結(jié)晶度計算等。衍射儀購買需要多少錢？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！淮安衍射儀哪個品牌好X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線, ...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。安徽奧林巴斯Terra便攜...

X射線衍射儀的用途是什么？當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。X射線衍射儀使用注意事項：固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5...

便攜式X射線衍射儀的優(yōu)勢特點都有哪些呢？ 1、便攜式：儀器采用防水防塵箱體一體機設(shè)計，無任何機械運動部件，輕便小巧，便于攜帶，可用于實驗室/現(xiàn)場科研。 2、集成性：XRD和XRF技術(shù)集成。在每次檢測中，可以同時采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)，提供材料成分、物相和結(jié)構(gòu)信息，方便檢測結(jié)果的添加。 3、簡單性：儀器一鍵操作，無需校正，自動檢測，無需額外注意高壓系統(tǒng)和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（不需要額外的高壓和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)）。 4、按全性：專業(yè)多重防護輻射處理，測量過程中儀器全位無輻射泄漏。 5、數(shù)據(jù)傳輸：便攜式X射線衍射儀通過USB、藍牙、WiFi與筆記本電腦連接，對屏幕儀器進行實時控制和分析。 6、環(huán)...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強度的比較，可進行定量分析。上海澤權(quán)衍射儀安...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀(jì)初就有報道，但當(dāng)時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。粉末衍射可解決...

X射線熒光光譜儀的原理是什么？X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進行疊加求和，反映的晶格的對稱性信息；不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實用角度的答案，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的，因為動力學(xué)效應(yīng)很弱，不會出現(xiàn)本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。衍射儀的規(guī)格介紹。歡迎來電咨詢上海澤...

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)是通過對樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例；很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度；新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)；產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面...

被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。衍射儀的應(yīng)用范圍十分廣闊。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！連云港衍射儀X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項： （1）固體樣...

X射線衍射儀（X-raydiffraction，XRD）是一種通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀主要由四大部分組成：X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器為高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線，改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長，調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。主要分密閉式和可拆卸式，多方面使用的是密閉式，由陰極燈絲、陽極、聚焦罩等組成。X射線衍射儀可幫助客戶迅速準(zhǔn)確獲得分析結(jié)果。南通衍射儀大概多少錢衍射儀中特征X射線是一種波長很短（20～0.06nm）的...

射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（...

X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來求解晶體結(jié)構(gòu)，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準(zhǔn)確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的結(jié)構(gòu)就準(zhǔn)確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低，不易測得。如何在三維空間測得盡可能多的，盡可能準(zhǔn)確的衍射線強度成為對X射線單晶體衍射儀的基本要求。 實驗儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢？常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體。轉(zhuǎn)動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、...

XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。 X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。上海澤權(quán)...

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時又要求制作定向的試片）。上海澤權(quán)的...

x射線有哪些特點？各種衍射方法有何不同 1、穿透作用。X射線因其波長短，能量大，照在物質(zhì)上時，只一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過，表現(xiàn)出很強的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來。 2、電離作用。物質(zhì)受X射線照射時，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量，根據(jù)這個原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。 3、熒光作用。X射線波長很短不可...

衍射儀中探測器的用途接收樣品衍射線(光子)信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡?瞬時脈沖)信號。計數(shù)器的種類分為：正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器、蓋革計數(shù)器。要求定量關(guān)系較為準(zhǔn)確的情況下習(xí)慣使用正比計數(shù)器，蓋革計數(shù)器的使用已逐漸減少。除此以外，還有鋰漂移硅計數(shù)器、位能正比計數(shù)器等。衍射儀中電路的主要功能：保證計數(shù)器能有比較好狀態(tài)的輸出脈沖，把技術(shù)電脈沖變?yōu)槟軌蛑庇^讀取或記錄的數(shù)值。與測量工作者關(guān)系密切的技術(shù)測量裝置：定標(biāo)器和技術(shù)率器。通常做的是粉末衍射，可以得到樣品在不同角度的衍射強度。浙江奧林巴斯XRD哪家好輻射波長對衍射峰強的關(guān)系是：衍射峰強主要取決于晶體結(jié)構(gòu)，但是樣品的質(zhì)量吸收系數(shù)（MAC）與入射線的波長有關(guān)，因此同一...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。“X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀"。安徽奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司有哪些x...

“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計算混合物質(zhì)的比例。 6，計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途。衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，反映著衍射方向（角度）和強度。鹽城衍射儀代理商X射線衍射相分析（...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀(jì)初就有報道，但當(dāng)時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。衍射儀的特點分...

多晶體衍射儀計數(shù)測量方法分為連續(xù)掃描和步進（階梯）掃描兩種。1.連續(xù)掃描法：連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高，一般用于對樣品的全掃描測量（如物相定性分析）。步進掃描法：步進掃描測量精度高并受步進寬度與步進時間的影響，適用于做各種定量分析工作。測量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，對衍射先進行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀的市場價格。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些x射線衍射圖譜： 橫坐標(biāo)：角度（度），...

X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù)。安徽奧林巴斯XRD批發(fā)廠家用x射線照射固體時，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級的電子被擊出物體之外...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強度的比較，可進行定量...

X射線衍射儀（XRD）是材料無損表征的有力工具。運用衍射原理，可實現(xiàn)粉末、塊體、薄膜等樣品的測試分析，可以精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，也就是說可以精確的進行物相分析，定性、定量分析及殘余應(yīng)力的分析。X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點陣常數(shù)的精密測定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計算和宏觀殘余應(yīng)力測定及結(jié)晶度計算等。衍射儀服務(wù)哪家好？上海澤權(quán)告訴您。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！浙江奧林巴斯XRD定制廠家X射線源焦點與計數(shù)管窗口分別位于測角儀圓周上，樣品位于測角儀圓的正中心。在入射光路上有固定式梭拉狹縫和可調(diào)式...

被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。x衍射定量分析中的樣品要求中，粒度325目是什么意思？浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀哪家可以代理在研...

晶體取向的測定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。雖然可以用光學(xué)方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以精確地單晶定向,同時還能得到晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。一般用勞埃法單晶定向,其根據(jù)是底片上勞埃斑點轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標(biāo)軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法。晶體可以作為X射線的空間衍射光柵。奧林巴斯XRD公司哪家好便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射...

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液...

衍射儀中探測器的用途接收樣品衍射線(光子)信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡?瞬時脈沖)信號。計數(shù)器的種類分為：正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器、蓋革計數(shù)器。要求定量關(guān)系較為準(zhǔn)確的情況下習(xí)慣使用正比計數(shù)器，蓋革計數(shù)器的使用已逐漸減少。除此以外，還有鋰漂移硅計數(shù)器、位能正比計數(shù)器等。衍射儀中電路的主要功能：保證計數(shù)器能有比較好狀態(tài)的輸出脈沖，把技術(shù)電脈沖變?yōu)槟軌蛑庇^讀取或記錄的數(shù)值。與測量工作者關(guān)系密切的技術(shù)測量裝置：定標(biāo)器和技術(shù)率器。上海的衍射儀服務(wù)廠家。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！安徽奧林巴斯XRD工藝流程X射線衍射儀技術(shù)。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成...