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晶體取向的測定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標系的位向關(guān)系。雖然可以用光學(xué)方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以精確地單晶定向,同時還能得到晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。一般用勞埃法單晶定向,其根據(jù)是底片上勞埃斑點轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法。晶體可以作為X射線的空間衍射光柵。奧林巴斯XRD公司哪家好

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H；樣品振動系統(tǒng)，測量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測器，探測效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時機箱溫度不超過35℃；數(shù)據(jù)庫：PDF2由國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個礦物數(shù)據(jù)。 連云港衍射儀生產(chǎn)廠家衍射儀的制作方法難嗎？上海澤權(quán)告訴您。

通過儀器分析測試，對鈦白粉產(chǎn)品進行更加直觀的表征分析，X射線衍射儀（XRD）與X熒光光譜儀（XRF）對于鈦白粉產(chǎn)品的研究提供了一個客觀的基礎(chǔ)，為鈦白粉生產(chǎn)過程中的工藝控制，產(chǎn)品應(yīng)用的品質(zhì)提高提供了更加準確、快速的評價手段。X射線衍射儀和X熒光光譜儀為鈦白粉產(chǎn)品的進一步研究提供了強有力的技術(shù)支持，其分析測試結(jié)果重復(fù)性好、再現(xiàn)性強、人為因素少，在鈦白粉分析中有著非常多方面的應(yīng)用空間。X射線衍射儀無法檢測出來，這就可以說明X射線衍射儀對樣品的分析不多方面，還需要進一步進行分析。通過分析元素組成與物質(zhì)組成，二者的結(jié)果可以互相驗證，從而使分析結(jié)果更加準確。

一個小晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關(guān)的。一個衍射總可找到一個晶面族HKL，使它與入射線在此面族上符合反射關(guān)系，就以此面族的符號HKL作為此衍射之指數(shù)。對于x射線衍射，當光程差等于波長的整數(shù)倍時，晶面的散射線將加強，此時滿足的條件為2dsinθ=nλ---布拉格方程，其中，d為晶面間距，θ為入射線，反射線與反射晶面之間的夾角，λ為波長，n為反射級數(shù)，布拉格方程是x射線在晶體產(chǎn)生衍射時的必要條件而非充分條件。有些情況下晶體雖然滿足布拉格方程，但不一定出現(xiàn)衍射，即所謂系統(tǒng)消光。選擇衍射儀有哪些方法？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管（見圖1）,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產(chǎn)生X射線。當X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。衢州衍射儀代理費用

x射線粉末衍射可以計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。奧林巴斯XRD公司哪家好

X射線衍射的一般實驗過程： 1．樣品制備 對于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右，即過320目（約40mm）的篩子，還要求試樣無擇優(yōu)取向。因此，通常應(yīng)用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨后使用。 對于塊狀樣品應(yīng)切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑。 2．充填試樣 將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。 塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。奧林巴斯XRD公司哪家好