GB/T 13540-2009地震試驗

上海天梯檢測技術(shù)有限公司振動測試： 系統(tǒng)整機(jī)振動測試標(biāo)準(zhǔn) GBT2423.56 隨機(jī)振動&包裝振動 1.Test PSD1: 0.002G2/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G2/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G2/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振動 1.Test Acceleration: 2G 2.Test Frequency: 5-500Hz 3.Displacement: 4.4mm(peak-to-peak) 4.Sweep velocity: 1 Oct/min 5.Test Axis: X, Y, Z three axes 6.Test Time: 1 hour per axis 上海天梯檢測技術(shù)有限公司嚴(yán)格執(zhí)行國家GBT2423.56法規(guī)以及國際通用的法規(guī)。常見的地震測試有哪些？GB/T 13540-2009地震試驗

上海天梯檢測技術(shù)有限公司地震測試的目的： 地震發(fā)生時，通訊信號及電子產(chǎn)品都會被損害，提前對電子工業(yè)級及通訊設(shè)備的測試非常重要，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個特點來加以說明。 首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長。其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實驗室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。軌道交通地震認(rèn)證一般的地震測試項目包含哪些內(nèi)容?

上海天梯檢測技術(shù)有限公司地震試驗?zāi)康模?1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺點，評價產(chǎn)品地震達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況 2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息 3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行地震鑒定或驗收 4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理 5.為改進(jìn)產(chǎn)品地震，制定和改進(jìn)地震試驗方案，為用戶選擇用產(chǎn)品提供依據(jù)。 氣候環(huán)境地震試驗項目:高溫、低溫、溫度沖擊(氣態(tài)及液態(tài))、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、高壓蒸煮、砂塵、鹽霧腐蝕、淋雨、太陽輻射、光老化等

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級（外殼防護(hù)試驗）： 外殼防護(hù)等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 地震測試的主要內(nèi)容是什么呢？

上海天梯檢測技術(shù)有限公司振動測試： 振動測試方法 首先： 先進(jìn)行隨機(jī)振動，將待測產(chǎn)品固定在振動平臺上，在開機(jī)狀態(tài)下，要求產(chǎn)品保持滿負(fù)載運(yùn)行，在X,Y,Z三個軸向中心各運(yùn)行1H檢測異?，F(xiàn)象發(fā)生。 第二步： 正弦振動，在非開機(jī)狀態(tài)下尋找產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的危險頻率，在X,Y,Z三個軸向中心各運(yùn)行1H檢測異?，F(xiàn)象發(fā)生。在產(chǎn)品的研發(fā)階段，任何存在的隱藏問題都要被剔除，而正弦振動就是考量產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計的一劑猛藥。正弦振動可以輕易查找出產(chǎn)品存在共振現(xiàn)象時的共振點，以此不但可以確定產(chǎn)品的危險頻率，還可以論證產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)完好性。 第三步： 為了覆蓋到常用的振動環(huán)境，天梯也專門定義了包裝振動的測試條件，采用帶包裝隨機(jī)振動的方式，模擬產(chǎn)品的包裝條件，將產(chǎn)品固定在平臺上進(jìn)行包裝振動的隨機(jī)振動測試，頻率為5~500Hz，總均方根加速度值2.16Grms，同樣是三軸向各1H的測試時間。地震測試具體怎么選擇呢？NB/T 20337-2015地震實驗室

地震測試需要使用什么設(shè)備？GB/T 13540-2009地震試驗

上海天梯檢測——輸入瞬態(tài)高壓測試 PFC電路采用平均值電路進(jìn)行過欠壓保護(hù)，因此在輸入瞬態(tài)高壓時，PFC電路可能會很快實現(xiàn)保護(hù)，從而造成損壞，測試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評估地震。 測試方法： A、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號，輸入電壓從限功率點加5V跳變?yōu)?00V，從示波器上讀出過壓保護(hù)**00V的周期數(shù)N，作為以下試驗的依據(jù)。 B、額定輸入電壓，電源模塊帶滿載運(yùn)行，在輸入上疊加300V的電壓跳變，疊加的周期數(shù)為（N－1），疊加頻率為1次/30s，共運(yùn)行3小時。GB/T 13540-2009地震試驗

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