在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質量都是產品性能與壽命的基石。隨著技術的飛速發(fā)展,PCBA的復雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產過程中產生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統,正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?!旧疃榷床欤_監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統 GWHR256系統遵循IPC-TM-650標準,專為PCBA的可靠性評估而設計,它能夠實時監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現象。用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估。貴州離子遷移絕緣電阻測試供應商
這種生長可能發(fā)生在外部表面、內部界面或穿過大多數復合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子,由電場運輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應過程中,隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當金屬纖維絲在線路板表面以下生長時,稱為導電陽極絲或CAF,本文中不會討論這種情況,但這也是一個熱門話題。當電化學遷移發(fā)生在線路板的表面時,它會導致線路之間的金屬枝晶狀生長,比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進行測試??煽康碾娮咏M裝產品必須能在不同的環(huán)境中經受住各種影響因素的考驗,例如:熱、機械、化學、電等因素。測試每一種考驗因素對系統的影響,通常以加速老化的方式來測試。這也就是說,測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學可靠性的方法。IPC將電化學遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導電金屬纖維絲的生長貴州PCB絕緣電阻測試其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬(陰極)遷移。
無論使用何種助焊劑,總會在焊接后的PCB及焊點上留下或多或少的殘留物,這些殘留物不僅影響PCBA的外觀,更可怕的是構成了對PCB可靠性的潛在威脅;特別是電子產品長時間在高溫潮濕條件下工作時,殘留物便可能導致線路絕緣老化以及腐蝕等問題,進而出現絕緣電阻(SIR)下降及電化學遷移(ECM)的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實施,相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香(樹脂)助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程,然而其殘留物的影響始終是大家尤為關心的方面[1]-[4]。
當PCB受到離子性物質的污染、或含有離子的物質時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現象(類似錫須,容易造成短路),這種現象稱為離子遷移。當存在這種現象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質,通過表面絕緣電阻(SIR)測試數據可以直接反映PCB的清潔度。系統可通過曲線、表格的形式對測試數據進行實時監(jiān)控,測試數據自動存儲和管理。
SIR(表面絕緣電阻)測試在電子制造業(yè)中扮演著至關重要的角色,是確保產品質量與可靠性的基石。它專注于評估印刷電路板(PCB)和其他電子組件表面的絕緣性能,防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導致的短路問題。通過模擬長期使用條件下的電氣性能變化,SIR測試幫助制造商識別并解決潛在的電氣故障,保障電子產品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運行,從而提高客戶滿意度和市場競爭力。廣州維柯的SIR(表面絕緣電阻)測試測試電壓高達 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度,20ms/所有通道每秒的速度。其中離子污染就是造成PCB板失效問題的一個重要原因。浙江pcb離子遷移絕緣電阻測試歡迎選購
離子污染導致異常的離子遷移,終導致產品失效,常見的是PCB板的腐蝕、短路等。貴州離子遷移絕緣電阻測試供應商
廣州維柯多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統——GWHR256-500,通道數16-256/128/64/32(通道可選)測試組數1-16組(組數可選)測試時間1-9999小時(可設置)偏置電壓1-500VDC(0.1V步進)測試電壓1-500VDC(0.1V步進)偏置電壓輸出精度±設置值1%+200mV(5-500VDC)測試電壓輸出精度±設置值1%+200mV(5-500VDC)電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%測試間隔時間1-600分鐘(可設置)取值速度20mS/所有通道測試電壓穩(wěn)定時間1-600秒(可設置)高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護電流閾值5–500uA數據顯示數據可曲線顯示限流電阻1MΩ電源配置配置不間斷電源UPS測試線線材特氟龍鍍銀屏蔽線(≥1014?,200℃)長度標配3.5m操作系統Windows系統選配溫濕度監(jiān)測模塊不含windows操作系統,office軟件、數據庫貴州離子遷移絕緣電阻測試供應商