半導(dǎo)體分立器件∶二極管、三極管、場效應(yīng)管、達(dá)林頓陣列、半導(dǎo)體光電子器件等;被動元件:電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報器;繼電器;電連接器;開關(guān)及面板元件;電源模塊:濾波器、電源模塊、高壓隔離運(yùn)放、DC/DC、DC/AC;功率器件:功率器件、大功率器件;連接器:圓形連接器、矩形,印刷版插座等。元器件篩選覆蓋標(biāo)準(zhǔn):GJB7243-2011軍電子元器件篩選技術(shù)要求;GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗方法;GJB360A-96電子及電?元件試驗方法;GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序;GJB40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法;QJ10003—2008進(jìn)?元器件篩選指南;MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試驗方法;MIL-STD-883G;在電子設(shè)備領(lǐng)域,表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。陜西離子遷移絕緣電阻測試操作
必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測試(包括破壞性實驗)。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進(jìn)設(shè)計和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。廣西表面絕緣SIR電阻測試設(shè)備半導(dǎo)體元器件隨著技術(shù)和生產(chǎn)工藝的進(jìn)步,其可靠性得到了長足的發(fā)展。
當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認(rèn)證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn),但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會被環(huán)氧基板編織布所吸收,增強(qiáng)基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會增電化學(xué)遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學(xué)劑。
幾種測試方法有助于這一評級,其中許多電化學(xué)可靠性測試方法都適用于助焊劑。(注:對于J-STD-004B中規(guī)定的錫膏助焊劑或含芯焊錫線的助焊劑,有些方法可能略有不同)。設(shè)計特征和工藝驗證對于準(zhǔn)備制造一個新的PCB組件非常關(guān)鍵。這將包括調(diào)查來料、開發(fā)適當(dāng)?shù)暮附庸に噮?shù)、并**終敲定一個經(jīng)過很多步驟驗證的典型的PCB組件。這將花費(fèi)比用于驗證每個組裝過程多得多的時間。本文將重點討論工藝驗證步驟中應(yīng)該進(jìn)行的測試,助焊劑特性測試IPC要求焊接用的所有助焊劑都按照J(rèn)-STD-004(目前在B版中)_進(jìn)行分類。這份標(biāo)準(zhǔn)概述了助焊劑的基本性能要求和用于描述助焊劑在焊接過程中和組裝后在環(huán)境中與銅電路的反應(yīng)的行業(yè)標(biāo)測試方法。一旦經(jīng)過測試,就可以使用諸如“ROL0”之類的代碼對助焊劑進(jìn)行分類。該代碼表示助焊劑基礎(chǔ)成分、活性水平和鹵化物的存在。以ROL0為例,它表示:助焊劑是松香基,低活性等級,此助焊劑不含鹵化物。作業(yè)現(xiàn)場的塵埃、水及揮發(fā)溶劑的蒸氣、大氣煙霧、微小顆粒有機(jī)物、角質(zhì)及靜電引起的帶電粒子等。
在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試。廣東pcb離子遷移絕緣電阻測試廠家供應(yīng)
HAST箱里經(jīng)過一定時長測試,在85h觀察時發(fā)現(xiàn)1#樣品亮燈異常;陜西離子遷移絕緣電阻測試操作
選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。電阻測試配件是電子行業(yè)中不可或缺的測試工具,它的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。在選擇電阻測試配件時,需要考慮準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性、適用范圍和品牌信譽(yù)等因素。只有選擇合適的配件,才能保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。廣州維柯多通道SIR-CAF表面絕緣電阻電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對電阻測試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實際需求選擇適用范圍的配件。一般來說,具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。陜西離子遷移絕緣電阻測試操作