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在太陽能電池片生產(chǎn)中,EL檢測(cè)儀可以應(yīng)用于太陽能電池片分機(jī)來識(shí)別機(jī)器視覺系統(tǒng)不容易識(shí)別的內(nèi)部缺點(diǎn),如黑心、黑斑、斷柵、隱裂、碎片等缺點(diǎn)。在電池片、硅片的分選中,普通的缺點(diǎn)、顏色可通過機(jī)器視覺系統(tǒng)進(jìn)行識(shí)別判斷,但對(duì)于一些內(nèi)部缺點(diǎn)系統(tǒng)不易識(shí)別或容易漏檢,這樣就導(dǎo)致分選設(shè)備誤判或漏判分選效率不高。目前的EL檢測(cè)儀技術(shù)可實(shí)現(xiàn)電池片正、反缺點(diǎn)、顏色、內(nèi)部缺點(diǎn)進(jìn)行識(shí)別判斷分選,檢測(cè)速度達(dá)到國(guó)際同類水平,檢測(cè)效率大幅提高。檢測(cè),就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司,讓您滿意,歡迎您的來電!江蘇el檢測(cè)設(shè)備價(jià)格
隱裂形成的緣由和光伏組件檢測(cè)方法電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋就是隱裂,隱裂了的電池片會(huì)加快電池片功率減退,組件的正常使用壽命被影響了,而且在機(jī)械載荷下電池片的隱裂會(huì)擴(kuò)大,有導(dǎo)致開路性破壞的可能,隱裂還有幾率會(huì)造成熱斑效應(yīng)。因?yàn)槎喾矫嬖蚬餐饔孟略斐闪穗[裂的產(chǎn)生,組件受力不均,還有可能造成電池片的隱裂是在運(yùn)輸、倒運(yùn)的過程中劇烈的抖動(dòng)。使用EL檢測(cè)儀進(jìn)行EL成像檢測(cè)是會(huì)在光伏組件在出廠前進(jìn)行的。為了獲取并判定組件的缺陷,該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理,利用高分辨率的CCD相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像。山東人工智能檢測(cè)儀器上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測(cè),有想法的可以來電咨詢!
上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司1、太陽能電池組件缺點(diǎn)檢測(cè)(EL)全自動(dòng)測(cè)試儀利用晶體硅的電致發(fā)光原理,利用辨率的CCD相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,獲取并判定組件的缺點(diǎn)。2、具有靈敏度高、檢測(cè)速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點(diǎn),是提升光伏組件品質(zhì)的關(guān)鍵設(shè)備;紅外檢測(cè)可以掌握太陽電池內(nèi)部問題,為改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供依據(jù),提升產(chǎn)品質(zhì)量,可以對(duì)問題組件進(jìn)行及時(shí)返修,盡可能的降低損失。3、原裝進(jìn)口日本TDK-LAMBDA可編程電源,從100VAC到240VAC大范圍的工作輸入電壓,保證了工作狀態(tài)穩(wěn)定性;其輸出電壓、電流和其它各功能操作的切換和調(diào)節(jié)可通過人工和控制軟件界面控制,輸出精確度到千分位;其帶載輸出功率比較大可到760瓦,且自帶過載保護(hù),避免了誤操作對(duì)電池片的損壞。4、全封閉光學(xué)系統(tǒng)和恒溫冷卻系統(tǒng)使測(cè)試環(huán)境保持在全暗室和恒溫環(huán)境下,保證了整個(gè)系統(tǒng)運(yùn)行的穩(wěn)定性;避免了因外界雜光和溫度不均造成測(cè)試成像噪點(diǎn),保證了測(cè)試的直觀性和準(zhǔn)確性。5、專業(yè)PC控制軟件,監(jiān)控整個(gè)測(cè)試流程,并可與客戶系統(tǒng)對(duì)接,滿足不同應(yīng)用需求。
多晶硅組件的制作工藝與單晶硅差不多,但是多晶硅的光電轉(zhuǎn)換效率則要降低一些。多晶硅比單晶硅太陽能電池的制作成本要便宜一些,材料制造簡(jiǎn)便,節(jié)約電耗,總的生產(chǎn)成本較低,因此得到大量發(fā)展。外觀上多晶硅電池片的四個(gè)角呈現(xiàn)方角,表面有類似冰花一樣的花紋。對(duì)于使用者來說,單晶硅電池和多晶硅電池沒有太大的區(qū)別,它們的壽命和穩(wěn)定性都很好。單晶硅電池平均轉(zhuǎn)換效率要比多晶硅高,但是目前價(jià)格比多晶也高。非晶硅組件也就是我們所說的薄膜組件,它的制作工藝過程簡(jiǎn)化,硅材料消耗很少,電耗更低,它的主要優(yōu)點(diǎn)是在弱光條件也能發(fā)電。但非晶硅太陽電池存在的主要問題是光電轉(zhuǎn)換效率偏低。檢測(cè),就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司,有想法的可以來電咨詢!
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EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑域,該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光,故紅外相片中反映出黑心,此類發(fā)光現(xiàn)象和硅襯底少數(shù)載流子濃度有關(guān)。這種電池片中心部位的電阻率偏高。EL檢測(cè)儀,又稱太陽能組件電致發(fā)光缺點(diǎn)檢測(cè)儀,是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件進(jìn)行缺點(diǎn)檢測(cè)及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測(cè)試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會(huì)發(fā)出1000-1100nm的紅外光,測(cè)試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個(gè)波長(zhǎng)的光并成像于電腦上。因?yàn)橥姲l(fā)的光與PN結(jié)中離子濃度有很大的關(guān)系,因此可以根據(jù)圖像來判斷硅片內(nèi)部的狀況。江蘇el檢測(cè)設(shè)備價(jià)格