TS-300TS系列產(chǎn)品中蕞大的系列，比TS-140/TS-150更大。在公制（M6x25mm）或非公制網(wǎng)格上鉆孔的頂板可將各種設(shè)備安裝在隔離的桌面上。頻率負載范圍TS-300負載范圍TS-300LT尺寸圖0,7-1000赫茲0-300公斤0-120公斤600...

納米壓印應用二：面板尺寸的大面積納米壓印EVG專有的且經(jīng)過大量證明的SmartNIL技術(shù)的蕞新進展，已使納米圖案能夠在面板尺寸蕞大為Gen3（550mmx650mm）的基板上實現(xiàn)。對于不能減小尺寸的顯示器，線柵偏振器，生物技術(shù)和光子元件等應用，至關(guān)重要的是通過...

FSM413紅外干涉測量設(shè)備關(guān)鍵詞：厚度測量，光學測厚，非接觸式厚度測量，硅片厚度，氮化硅厚度，激光測厚，近紅外光測厚，TSV,CD,Trench，砷化鎵厚度，磷化銦厚度，玻璃厚度測量，石英厚度，聚合物厚度,背磨厚度，上下兩個測試頭。Michaelson干涉法...

F10-AR無須處理涂層背面我們探頭設(shè)計能抑制1.5mm厚基板98%的背面反射，使用更厚的鏡頭抑制的更多。就像我們所有的臺式儀器一樣，F(xiàn)10-AR需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定。包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FIL...

對EVGWLO制造解決方案的需求在一定程度上是由對用于移動消費電子產(chǎn)品的新型光學傳感解決方案和設(shè)備的需求驅(qū)動的。關(guān)鍵示例包括3D感測（對于獲得更真實的虛擬和增強現(xiàn)實（VR/AR）用戶體驗至關(guān)重要），生物特征感測（對于安全應用而言越來越關(guān)鍵），環(huán)境感測，紅外（I...

高精度電容位移傳感器是一種測量長度、位移、壓力、力、撓度等物理量的傳感器。它基于電容變化的原理，通過測量電容的變化來計算物理量的變化。具有測量精度高、靈敏度高、響應速度快、輸出信號穩(wěn)定等特點。高精度電容位移傳感器基本結(jié)構(gòu)包括固定殼體和可動傳感器元件，可動傳感器...

電阻率測量儀可以用于檢測什么問題？電阻率測量儀主要用于檢測物質(zhì)的電阻率，從而分析物質(zhì)的性質(zhì)和特征。1. 材料測試：電阻率測量儀可以用于測試金屬、陶瓷、玻璃、塑料等材料的電阻率，從而分析材料的特性、純度和質(zhì)量等。2. 土壤測試：電阻率測量儀可以用于測試土壤的電阻...

薄膜應力分析儀是一種用于測量薄膜材料應力和形變的儀器，具有非常普遍的應用領(lǐng)域，包括半導體/ 光電 /液晶面板產(chǎn)業(yè)等。它可以用來控制和優(yōu)化薄膜材料的生產(chǎn)過程，研究薄膜材料的力學性能、穩(wěn)定性以及涂層和微結(jié)構(gòu)的制備和特性。此外，薄膜應力分析儀還可以用于微電子器件、光...

企業(yè)選擇電阻率測量儀的主要原因是什么？企業(yè)選擇電阻率測量儀的主要原因包括：1. 精度高：電阻率測量儀具有精度高、反應快、測量數(shù)據(jù)準確等特點，具有很高的技術(shù)可靠性，能夠為企業(yè)提供高精度測量服務(wù)。2. 操作簡便：電阻率測量儀通常采用簡單的操作界面，簡便易用，即使沒...

電阻率測量儀使用方法：1.準備測量儀器：將電阻率測量儀連接到電源，將探頭連接到儀器體電極上。2.準備被測物體：將被測物體清潔干凈，確保表面沒有污垢或者雜質(zhì)。如果是液體或者粉末狀的物體，需要使用特殊的支撐結(jié)構(gòu)或者嵌套探頭進行測量。3.選擇測量模式：通過測量儀器上...

如何使用高精度電容位移傳感器？根據(jù)需要測量的位置變化范圍、分辨率和精度的要求，選擇合適的傳感器類型和規(guī)格。常見的高精度電容位移傳感器有平板式、扭轉(zhuǎn)式和圓柱式等，可以根據(jù)應用場景的實際情況選擇。將電容傳感器的電極安裝在被測物體上，注意確保電極與被測物體之間的距離...

位移傳感器的作用體現(xiàn)在哪些方面？1. 監(jiān)控和控制：位移傳感器可以實時監(jiān)測物體的位移變化，并且通過轉(zhuǎn)換電信號輸出給控制器，以便控制器進行實時調(diào)整和控制。2. 聯(lián)動控制：位移傳感器可以通過和其他傳感器或者執(zhí)行機構(gòu)組合，實現(xiàn)聯(lián)動控制。例如，在機器人領(lǐng)域中，位移傳感器...

晶圓缺陷自動檢測設(shè)備的優(yōu)點是什么？1、高效性：晶圓缺陷自動檢測設(shè)備能夠快速地檢測出晶圓上的缺陷，提高了生產(chǎn)效率。2、準確性：晶圓缺陷自動檢測設(shè)備使用先進的圖像處理技術(shù)和算法，能夠準確地識別和分類晶圓上的缺陷。3、可靠性：晶圓缺陷自動檢測設(shè)備能夠穩(wěn)定地工作，不會...

晶圓缺陷檢測設(shè)備的成像系統(tǒng)原理主要是基于光學或電學成像原理。光學成像原理是指利用光學原理實現(xiàn)成像。晶圓缺陷檢測設(shè)備采用了高分辨率的CCD攝像頭和多種光學進行成像，通過將光學成像得到的高清晰、高分辨率的圖像進行分析和處理來檢測和識別缺陷。電學成像原理是指通過物體...

薄膜應力分析儀可以通過改變測試參數(shù)，測出薄膜在不同深度處的應力分布。這對于研究薄膜的形變機制、表面失穩(wěn)等問題有很大的幫助。薄膜應力分析儀的使用方法相對簡單，只需將待測樣品放在樣品臺上，啟動儀器后進入軟件控制界面進行調(diào)整和測試。在采集到的數(shù)據(jù)上，可以通過各種方法...

薄膜應力分析儀是一種用于測量薄膜材料應力和形變的儀器。薄膜材料是指厚度小于1微米的材料。由于其特殊的物理和化學性質(zhì)，薄膜材料已經(jīng)成為現(xiàn)代材料科學和工程學領(lǐng)域的研究熱點。在生產(chǎn)和制備過程中，薄膜材料的應力和形變是非常重要的參數(shù)。薄膜應力分析儀可以通過測量薄膜材料...

晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)適用于哪些領(lǐng)域的應用？1、半導體生產(chǎn)：晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)可以自動檢測和分類各種類型的表面缺陷，包括晶圓表面的麻點、劃痕、坑洼、顏色變化等，可以實現(xiàn)半導體生產(chǎn)過程的實時監(jiān)控和質(zhì)量控制，提高工藝的穩(wěn)定性和產(chǎn)品的質(zhì)量。2、光電子：晶圓缺陷檢測光...

晶圓缺陷檢測設(shè)備如何判斷缺陷的嚴重程度？晶圓缺陷檢測設(shè)備通常使用光學、電子顯微鏡等技術(shù)來檢測缺陷。判斷缺陷的嚴重程度主要取決于以下幾個方面：1、缺陷的類型：不同類型的缺陷對芯片的影響程度不同。例如，點缺陷可能會影響芯片的電性能，而裂紋可能會導致芯片斷裂。2、缺...

薄膜應力分析儀的重要性是如何體現(xiàn)的？薄膜應力分析儀的重要性主要體現(xiàn)在三個方面：1. 質(zhì)量控制：薄膜應力分析儀可以測量出薄膜層的應力情況、厚度、粗糙度等性質(zhì)，從而可以對薄膜生產(chǎn)過程進行實時監(jiān)控和質(zhì)量控制，提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。2. 研究開發(fā)：薄膜應力分析儀可以...

電阻率測量儀如何保養(yǎng)？1. 保持干燥：電阻率測量儀應放置在通風干燥的地方，并避免潮濕環(huán)境和化學品的接觸，這可以防止腐蝕和損壞儀器。2. 定期校準：電阻率測量儀需要定期校準，以確保其精度和準確性，較好每半年或一年進行一次校準。3. 防塵：定期使用專業(yè)的吸塵器或軟...

電阻率測量儀有哪些常用的測量模式？1. 兩電極模式：兩電極模式是基本的模式。在這種模式下，測試樣品被放置在兩個電極之間，并通過施加電勢差測量電流。這種模式通常適用于對材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)影響不大的材料。2. 三電極模式：三電極模式采用的是四電極的測量方式，由一個外電極...

薄膜應力分析儀是一種通過測量薄膜在不同工藝條件下的形變而分析薄膜膜層應力狀態(tài)的儀器。其工作原理主要基于彈性應變理論，測量薄膜在不同狀態(tài)下的形狀改變，根據(jù)相關(guān)參數(shù)計算出薄膜膜層的應力狀態(tài)。通常，薄膜應力分析儀使用光學或光柵傳感器測量薄膜的形變。在測試過程中，樣品...

薄膜應力分析儀具有哪些優(yōu)點？1. 高精度：薄膜應力分析儀測量的結(jié)果精度高，能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米量級的應力測量，可以對各種材料的應力值進行準確測量。2. 操作簡單：薄膜應力分析儀操作簡單，可以通過簡單的設(shè)置即可進行有效的測試，使用起來非常方便。3. 多種測量模式：薄膜...

使用晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)的主要意義：1、保證產(chǎn)品質(zhì)量：晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)可以快速和準確地檢測晶圓表面的缺陷和污染物，可以在加工之前找到和處理所有的表面缺陷以保證制造的所有元器件品質(zhì)完好，避免設(shè)備故障或退化的狀況發(fā)生。2、提高生產(chǎn)效率：通過使用晶圓缺陷檢測光學...

晶圓缺陷檢測設(shè)備的保養(yǎng)對于設(shè)備的穩(wěn)定性和運行效率至關(guān)重要。以下是幾個保養(yǎng)晶圓缺陷檢測設(shè)備的方法：1、定期保養(yǎng)：定期保養(yǎng)是減少機械故障的關(guān)鍵。通常是在生產(chǎn)周期結(jié)束后進行。清潔設(shè)備并檢查有無維修必要，如更換氣缸密封圈、更換照明燈等。2、保持干燥：由于產(chǎn)生靜電有時會...

電阻率測量儀的主要作用是什么？電阻率測量儀的主要作用是測量材料電阻率以及對材料進行質(zhì)量檢測。通過對物質(zhì)的電阻率測量，可以了解材料的特性、純度和質(zhì)量等。電阻率測量儀可以應用于多個領(lǐng)域，如材料研究、工業(yè)制造、地質(zhì)勘探、土壤評估等等。另外，電阻率測量儀也常常被用于醫(yī)...

薄膜應力分析儀生產(chǎn)工藝：1. 設(shè)計制圖：根據(jù)市場需求和用戶反饋，制定薄膜應力分析儀的功能和技術(shù)規(guī)范，進行產(chǎn)品設(shè)計和制圖。2. 材料和零部件采購：選用高質(zhì)量的材料和零部件進行采購，在保證質(zhì)量和性能的同時，對成本進行合理管理。3. 加工和裝配：對零部件進行精密加工...

電阻率測量儀與電阻表的區(qū)別是什么？ 電阻率測量儀和電阻表都可以用于測量電阻，但是它們的應用場景、原理和功能不同。1. 應用場景不同：電阻率測量儀通常用于測量絕緣性材料的電阻率，例如塑料、橡膠、絕緣漆等，而電阻表則通常用于測量導體中的電阻。2. 測量原理不同：電...

晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)如何確保檢測結(jié)果的準確性？1、優(yōu)化硬件設(shè)備：光源、透鏡系統(tǒng)和CCD相機等硬件設(shè)備都需要經(jīng)過精心設(shè)計和優(yōu)化，以確保從樣品表面反射回來的光信號可以盡可能地被采集和處理。2、優(yōu)化算法：檢測算法是晶圓缺陷檢測的關(guān)鍵。通過采用先進的圖像處理算法，如深...

薄膜應力分析儀如何處理測試結(jié)果？1. 計算膜層應力：膜層應力是關(guān)鍵的參數(shù)之一，通常使用彈性理論方法進行計算。通過薄膜物理參數(shù)如厚度、楊氏模量和泊松比等，可以計算出薄膜的應力狀態(tài)。2. 分析膜層應變：膜層應變表示了膜層聚集的應力狀態(tài)。樣品經(jīng)過變形后，產(chǎn)生的微小形...