快恢復(fù)二極管SF168CTD

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-06-27

   快恢復(fù)二極管的總功率損耗與正向通態(tài)壓降VF,通態(tài)電流IF,反向電壓VR,反向漏電流IR,正向過沖電壓Vfp,反向恢復(fù)漏電流峰值Irp。以及反向電流下降時(shí)間tb等有關(guān)。盡管如此,對于給定的快恢復(fù)二極管應(yīng)用,通態(tài)電流和反向電壓通常應(yīng)用電路決定的,只要不超過額定使用條件即可。然而在給定的IF和VR條件下的VF,IR,Vrp,Irp和tb等二極管的特性卻是由所使用的快恢復(fù)二極管本身的性能決定的。我們能通過算式5清楚地看到,上述任何一個(gè)參數(shù)的升高都將導(dǎo)致功率損耗的増加。相反地,如果我們能夠降低其中的某些參數(shù)值,則可以降低功率損耗,在所有的功率損耗中,通態(tài)損耗所占比例,因此降低通態(tài)損耗是降低總功率損耗的主要路徑和方法。而對于通態(tài)損耗來講,正向電流由應(yīng)用條件和額定決定,為恒定值,占空比也由應(yīng)用條件決定,由算式1可以清楚地看到降低正向壓降是降低功率損耗的主要途徑。而正向壓降正是快恢復(fù)二極管本身的性能能力決定的。所以選擇低功耗二極管主要的要看在同等條件下的正向壓降。壓降越低的,其功耗也越低。MUR2040CT二極管的主要參數(shù)。快恢復(fù)二極管SF168CTD

   二極管的軟度可以獲取更進(jìn)一步操縱。圖3SONIC軟恢復(fù)二極管的壽命控制該二極管回復(fù)波形異常的平滑從未振蕩,所以電磁擾亂EMI值十分低。這種軟恢復(fù)二極管不僅引致開關(guān)損失縮減,而且容許除去二極管的并聯(lián)RC緩沖器。使用軸向壽命抑制因素可以取得較佳性能的二極管。電力電子學(xué)中的功率開關(guān)器件(IGBT、MOSFET、BJT、GTO)總是和迅速二極管相并聯(lián),在增加開關(guān)頻率時(shí),除傳導(dǎo)損耗以外,功率開關(guān)的固有的功用和效率均由二極管的反向恢復(fù)屬性決定(由圖2的Qrr,IRM和Irr特點(diǎn)表示)。所以對二極管要求正向瞬態(tài)壓降小,反向回復(fù)時(shí)間斷,反向回復(fù)電荷少,并且具備軟恢復(fù)特點(diǎn)。反向峰值電流IRM是另一個(gè)十分關(guān)鍵的屬性。反向電流衰變的斜率dirr/dt由芯片的工藝技術(shù)和擴(kuò)散參數(shù)決定。在電路中,這個(gè)電流斜率與寄生電感有關(guān),例如連接引線,引起過電壓尖峰和高頻干擾電壓。dirr/dt越高(“硬回復(fù)”屬性),二極管和并聯(lián)的開關(guān)上產(chǎn)生的附加電壓越高。反向電流的緩慢衰減(“軟恢復(fù)”特點(diǎn))是令人令人滿意的屬性。所有的FRED二極管都使用了“軟恢復(fù)”特點(diǎn),SONIC二極管的恢復(fù)屬性更“軟”,它們的阻斷電壓范圍寬,使這些迅速軟恢復(fù)二極管能夠作為開關(guān)電源(SMPS)的輸出整流器。快恢復(fù)二極管SF168CTD快恢復(fù)二極管的型號有哪些?

   20A以下的快恢復(fù)及超快恢復(fù)二極管大都使用TO-220封裝形式。從內(nèi)部構(gòu)造看,可分為單管、對管(亦稱雙管)兩種。對管內(nèi)部涵蓋兩只快恢復(fù)二極管,根據(jù)兩只二極管接法的不同,又有共陰對管、共陽對管之分。圖2(a)是C20-04型快恢復(fù)二極管(單管)的外形及內(nèi)部構(gòu)造。(b)圖和(c)圖分別是C92-02型(共陰對管)、MUR1680A型(共陽對管)超快恢復(fù)二極管的外形與結(jié)構(gòu)。它們均使用TO-220塑料封裝,主要技術(shù)指標(biāo)見表1。幾十安的快恢復(fù)二極管一般使用TO-3P金屬殼封裝。更大容量(幾百安~幾千安)的管子則使用螺栓型或平板型封裝形式。2.檢測方法1)測量反向恢復(fù)時(shí)間測量電路如圖3。由直流電流源供規(guī)定的IF,脈沖發(fā)生器經(jīng)過隔直電容器C加脈沖信號,運(yùn)用電子示波器觀察到的trr值,即是從I=0的日子到IR=Irr日子所經(jīng)歷的時(shí)間。設(shè)器件內(nèi)部的反向恢電荷為Qrr,有關(guān)系式trr≈2Qrr/IRM由式()可知,當(dāng)IRM為一定時(shí),反向回復(fù)電荷愈小,反向回復(fù)時(shí)間就愈短。2)常規(guī)檢測方式在業(yè)余條件下,運(yùn)用萬用表能檢測快回復(fù)、超快恢復(fù)二極管的單向?qū)щ娦裕约皟?nèi)部有無開路、短路故障,并能測出正向?qū)▔航怠H襞湟哉讱W表,還能測量反向擊穿電壓。實(shí)例:測量一只超快恢復(fù)二極管,其主要參數(shù)為:trr=35ns。

   8、絕緣涂層;9、電隔離層;10、粘合層。實(shí)際實(shí)施方法下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案展開明了、完整地描述,顯然,所敘述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分推行例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域平常技術(shù)人員在從未做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所贏得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。如圖1、2所示,現(xiàn)提出下述實(shí)施例:一種高壓快回復(fù)二極管芯片,包括芯片本體1,所述芯片本體1裹在熱熔膠2內(nèi),所述熱熔膠2裹在在封裝外殼3內(nèi),所述封裝外殼3由金屬材質(zhì)制成,所述封裝外殼3的內(nèi)部設(shè)有散熱組件,所述散熱組件包括多個(gè)散熱桿4,多個(gè)散熱桿4呈輻射狀固定在所述芯片本體1上,所述散熱桿4的另一端抵觸在所述封裝外殼3的內(nèi)壁,所述散熱桿4與所述芯片本體1的端部上裹有絕緣膜5,所述散熱桿4的內(nèi)部中空且所述散熱桿4的內(nèi)部填入有冰晶混合物6。在本實(shí)施例中,所述封裝外殼3的殼壁呈雙層構(gòu)造且所述封裝外殼3的殼壁的內(nèi)部設(shè)有容納腔7,所述容納腔7與所述散熱桿4的內(nèi)部連接,所述容納腔7的內(nèi)部也填入有冰晶混合物6。散熱桿4內(nèi)融解的冰晶混合物6不停向外傳遞,充分傳熱。在本實(shí)施例中,所述散熱桿4至少設(shè)有四根。MURB3060CT是什么類型的管子?

快恢復(fù)二極管模塊工藝結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)圖1超快恢復(fù)二極管模塊內(nèi)部電路連接圖本模塊是由二個(gè)或二個(gè)以上的FRED芯片按一定的電路(見圖1)連成后共同封裝在一個(gè)PPS(加有40%的玻璃纖維)外殼內(nèi)制成,模塊分絕緣型(模塊銅底板對各主要電極的絕緣耐壓Uiso≥)和非絕緣型二種,其特點(diǎn)(1)采用高、低溫氫(H2)、氮(N2)混合氣體保護(hù)的隧道爐和熱板爐二次焊接工藝,使焊接溫度、焊接時(shí)間和傳送帶速度之間有較好的匹配,并精確控制升溫速度、恒溫時(shí)同和冷卻速度,使焊層牢固,幾乎沒有空洞,從而降低了模塊熱阻、保證模塊出力,根據(jù)模塊電流的大小,采用直接焊接或鋁絲超聲鍵合等方法引出電極,用RTV橡膠、及組份彈性硅凝膠和環(huán)氧樹脂等三重保護(hù),又加采用玻璃鈍化保護(hù)的、不同結(jié)構(gòu)的進(jìn)口FRED芯片,使模塊防潮、防震,工作穩(wěn)定。(2)銅底板預(yù)彎技術(shù):模塊采用了高導(dǎo)熱、高絕緣、機(jī)械強(qiáng)度高和易焊接,且熱膨脹系數(shù)很接近硅芯片的氮化鋁陶瓷覆銅板(ALNDBC板),使焊接后各材料內(nèi)應(yīng)力低,熱阻小,并避免了芯片因應(yīng)力而破裂。為了解決銅底板與DBC板間的焊接問題,除采用銅銀合金外。并在焊接前對銅底板進(jìn)行一定弧度的預(yù)彎。如圖2(a),焊后如圖2(b)。MURF1020CT是什么類型的管子?福建快恢復(fù)二極管MUR1060CTR

MUR2040CS是什么類型的管子?快恢復(fù)二極管SF168CTD

 選擇快恢復(fù)二極管時(shí),主要看它的正向?qū)▔航?、反向耐壓、反向漏電流等。但我們卻很少知道其在不同電流、不同反向電壓、不同環(huán)境溫度下的關(guān)系是怎樣的,在電路設(shè)計(jì)中知道這些關(guān)系對選擇合適的快恢復(fù)二極管顯得極為重要,尤其是在功率電路中??旎謴?fù)二極管的反向恢復(fù)時(shí)間為電流通過零點(diǎn)由正向轉(zhuǎn)換成反向,再由反向轉(zhuǎn)換到規(guī)定低值的時(shí)間間隔,實(shí)際上是釋放快恢復(fù)二極管在正向?qū)ㄆ陂g向PN結(jié)的擴(kuò)散電容中儲存的電荷。反向恢復(fù)時(shí)間決定了快恢復(fù)二極管能在多高頻率的連續(xù)脈沖下做開關(guān)使用,如果反向脈沖的持續(xù)時(shí)間比反向恢復(fù)時(shí)間短,則快恢復(fù)二極管在正向、反向均可導(dǎo)通就起不到開關(guān)的作用。PN結(jié)中儲存的電荷量與反向電壓共同決定了反向恢復(fù)時(shí)間,而在高頻脈沖下不但會使其損耗加重,也會引起較大的電磁干擾。所以知道快恢復(fù)二極管的反向恢復(fù)時(shí)間正確選擇快恢復(fù)二極管和合理設(shè)計(jì)電路是必要的,選擇快恢復(fù)二極管時(shí)應(yīng)盡量選擇PN結(jié)電容小、反向恢復(fù)時(shí)間短的,但大多數(shù)廠家都不提供該參數(shù)數(shù)據(jù)??旎謴?fù)二極管SF168CTD