DDR測試
主要的DDR相關規(guī)范,對發(fā)布時間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預取長度、端接、接收機均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細對比??梢钥闯鯠DR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進,同時也在逐漸采用更先進的工藝和更復雜的技術來實現(xiàn)這些目標。以DDR5為例,相 對于之前的技術做了一系列的技術改進,比如在接收機內(nèi)部有均衡器補償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓練優(yōu)化信號時序、支持總線反轉和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。 DDR的規(guī)范要求進行需求;河北DDR測試修理
DDR5具備如下幾個特點:·更高的數(shù)據(jù)速率·DDR5比較大數(shù)據(jù)速率為6400MT/s(百萬次/秒),而DDR4為3200MT/s,DDR5的有效帶寬約為DDR4的2倍?!じ偷哪芎摹DR5的工作電壓為1.1V,低于DDR4的1.2V,能降低單位頻寬的功耗達20%以上·更高的密度·DDR5將突發(fā)長度增加到BL16,約為DDR4的兩倍,提高了命令/地址和數(shù)據(jù)總線效率。相同的讀取或寫入事務現(xiàn)在提供數(shù)據(jù)總線上兩倍的數(shù)據(jù),同時限制同一存儲庫內(nèi)輸入輸出/陣列計時約束的風險。此外,DDR5使存儲組數(shù)量翻倍,這是通過在任意給定時間打開更多頁面來提高整體系統(tǒng)效率的關鍵因素。所有這些因素都意味著更快、更高效的內(nèi)存以滿足下一代計算的需求。設備DDR測試安裝DDR測試技術介紹與工具分析;
DDR應用現(xiàn)狀隨著近十年以來智能手機、智能電視、AI技術的風起云涌,人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高,DDRSDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。目前,用于主存的DDRSDRAM系列的芯片已經(jīng)演進到了DDR5了,但市場上對經(jīng)典的DDR3SDRAM的需求仍然比較旺盛。測試痛點測試和驗證電子設備中的DDR內(nèi)存,客戶一般面臨三大難題:如何連接DDR內(nèi)存管腳;如何探測和驗證突發(fā)的讀寫脈沖信號;配置測試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測試。
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標。
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術人員,嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范,配備高性能的權能測試設備,提供給客戶更精細更權能的全方面的專業(yè)服務。 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認證測試、預認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試等方面測試服務。 DDR3的DIMM接口協(xié)議測試探頭;
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要注意的是,由于DDR的總線上存在內(nèi)存控制器和內(nèi)存顆粒兩種主要芯片,所以DDR的信號質量測試理論上也應該同時涉及這兩類芯片的測試。但是由于JEDEC只規(guī)定了對于內(nèi)存顆粒這一側的信號質量的要求,因此DDR的自動測試軟件也只對這一側的信號質量進行測試。對于內(nèi)存控制器一側的信號質量來說,不同控制器芯片廠商有不同的要求,目前沒有統(tǒng)一的規(guī)范,因此其信號質量的測試還只能使用手動的方法。這時用戶可以在內(nèi)存控制器一側選擇測試點,并借助合適的信號讀/寫分離手段來進行手動測試。 DDR測試系統(tǒng)和DDR測試方法與流程;設備DDR測試安裝
DDR3規(guī)范里關于信號建立;河北DDR測試修理
DDR測試
DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的,但是通常DDR芯片采用BGA封裝,引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方式,其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳處的信號質量,一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據(jù)實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數(shù),來計算期望位置處的信號波形,再對這個信號做進一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計。圖5.15展示了典型的DDR4和DDR5信號質量測試環(huán)境,以及在示波器中進行去嵌入操作的界面。 河北DDR測試修理