信號(hào)完整性和低功耗在蜂窩電話設(shè)計(jì)中是特別關(guān)鍵的考慮因素，EP諧波吸收裝置有助三階諧波頻率輕易通過(guò)，并將失真和抖動(dòng)減小至幾乎檢測(cè)不到的水平。隨著集成電路輸出開(kāi)關(guān)速度提高以及PCB板密度增加，信號(hào)完整性已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設(shè)計(jì)必須關(guān)心的問(wèn)題之一。元器件和PCB板...

2.PCB的疊層（stackup）和阻抗對(duì)于一塊受PCB層數(shù)約束的基板（如4層板）來(lái)說(shuō)，其所有的信號(hào)線只能走在TOP和BOTTOM層，中間的兩層，其中一層為GND平面層，而另一層為VDD平面層，Vtt和Vref在VDD平面層布線。而當(dāng)使用6層來(lái)走線時(shí)，設(shè)計(jì)一種...

（1）速度快：接口的傳輸速度高達(dá)480 Mbit／s，完全能滿足高速數(shù)據(jù)交換的要求； （2）連接簡(jiǎn)單快捷：所有的 USB設(shè)備利用通用的連接器，無(wú)需打開(kāi)主機(jī)機(jī)箱就可簡(jiǎn)單方便地連人計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)熱拔插； （3）無(wú)需外接電源：USB電源向低壓設(shè)備提供 5V電源； ...

由于FRL模式比較高支持12Gbps速率，要求示波器帶寬不低于23G。有兩種配置方式適用不同客戶需求；另外需要HDMI2.1的治具，EDID/SCDCcontroller也需要支持HDMI2.1以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試。配置一：使用SMAcable方法兩臺(tái)DPO...

DDR5具備如下幾個(gè)特點(diǎn)：·更高的數(shù)據(jù)速率·DDR5比較大數(shù)據(jù)速率為6400MT/s（百萬(wàn)次/秒），而DDR4為3200MT/s，DDR5的有效帶寬約為DDR4的2倍?！じ偷哪芎摹DR5的工作電壓為1.1V，低于DDR4的1.2V，能降低單位頻寬的功耗達(dá)2...

當(dāng)今的電子設(shè)計(jì)工程師可以分成兩種，一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問(wèn)題，一種是將要遇到信號(hào)完整性問(wèn)題。對(duì)于未來(lái)的電子設(shè)備，頻率越來(lái)越高，射頻元器件越來(lái)越小，越來(lái)越集中化、模塊化。因此電磁信號(hào)未來(lái)也會(huì)變得越來(lái)越密集，所以提前學(xué)習(xí)信號(hào)完整性和電源完整性相關(guān)的...

目前，hdmi是被設(shè)計(jì)來(lái)取代較舊的模擬信號(hào)影音發(fā)送接口如scart或rca等端子的。它支持各類電視與計(jì)算機(jī)視頻格式，包括sdtv、hdtv視頻畫(huà)面，再加上多聲道數(shù)字音頻。hdmi與去掉音頻傳輸功能的udi都繼承dvi的技術(shù)“傳輸小化差分信號(hào)”tmds，從本質(zhì)上...

ADC、示波器前端架構(gòu)及使用的探頭決定了示波器硬件能夠支持將垂直量程設(shè)置降到多低。所有示波器的垂直刻度設(shè)置都有一個(gè)極限點(diǎn)，超過(guò)這個(gè)點(diǎn)，硬件不再起作用，這時(shí)，即使用戶繼續(xù)使用旋鈕將垂直刻度設(shè)置變得更低，也不會(huì)改進(jìn)分辨率，因?yàn)檫@時(shí)用的是軟件放大功能。示波器廠商通常...

trombone線的時(shí)延是受到其并行走線之間的耦合而影響，一種在不需要提高其間距的情況下，并且能降低耦合的程度的方法是采用sawtooth線。顯然，sawtooth線比trombone線具有更好的效果。但是，依來(lái)看它需要更多的空間。由于各種可能造成時(shí)延不同的原...

在HDMI2.1源端測(cè)試中，示波器模擬了sink的行為，提供了端接電阻和端接電壓。EDID仿真器模擬sink的EDID，提供分辨率/速率信息，HDMI2.0的EDID仿真器也提供SCDC信息，完成與source的溝通，使source輸出需要TMDS信號(hào)。測(cè)試項(xiàng)...

HDMI測(cè)試 除了HDMI以外，另一種應(yīng)用非常的數(shù)字顯示接口方案就是DisplayPort(DP)。 DP的發(fā)起組織也是VESA,其主要優(yōu)勢(shì)在于非常高的數(shù)據(jù)速率、方便的連接、完善的內(nèi)容保 護(hù)及基于包交換的數(shù)據(jù)傳輸方式。DP采用了與PCle及USB3....

電子產(chǎn)品測(cè)試是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段，通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試中的基礎(chǔ)概念。 一、測(cè)試對(duì)象 電子產(chǎn)品測(cè)試的對(duì)象是各種電子產(chǎn)品，包括手機(jī)、電腦、數(shù)碼相...

電子產(chǎn)品測(cè)試是通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。電子產(chǎn)品測(cè)試的目的是評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在的缺陷和問(wèn)題，并提供改進(jìn)產(chǎn)品的依據(jù)。 電子產(chǎn)品測(cè)試一般包括以下幾個(gè)方面： 1....

電子產(chǎn)品測(cè)試是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段，通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試中的基礎(chǔ)概念。 一、測(cè)試對(duì)象 電子產(chǎn)品測(cè)試的對(duì)象是各種電子產(chǎn)品，包括手機(jī)、電腦、數(shù)碼相...

電子產(chǎn)品測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等進(jìn)行測(cè)試的一種方法。通過(guò)測(cè)試，可以檢查產(chǎn)品是否符合用戶的需求和期望，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力和市場(chǎng)占有率。 電子產(chǎn)品測(cè)試的范圍非常，包括手機(jī)、電腦、平板、家電、汽車(chē)電子、醫(yī)...

圖測(cè)量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量：在眼圖測(cè)量中，疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣，可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在，疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多，則眼的張開(kāi)程度會(huì)越小，就越能測(cè)到惡劣的情況，但相應(yīng)的測(cè)試時(shí)間也會(huì)變長(zhǎng)。為了在測(cè)...

測(cè)試工具和設(shè)備 電子產(chǎn)品測(cè)試需要使用各種測(cè)試工具和設(shè)備，如萬(wàn)用表、示波器、信號(hào)源、模擬器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備，以及各種軟件測(cè)試工具和自動(dòng)化測(cè)試工具。這些測(cè)試工具和設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面。 ...

為什么需要進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試？ 答：電子產(chǎn)品測(cè)試可以評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在的缺陷和問(wèn)題，并提供改進(jìn)產(chǎn)品的依據(jù)。通過(guò)測(cè)試，可以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力和用戶滿意度。 電子產(chǎn)品測(cè)試包括哪些方面？ 答：...

3.可靠性測(cè)試：可靠性測(cè)試是測(cè)試產(chǎn)品的可靠性，包括壽命、穩(wěn)定性、可靠度等。測(cè)試方法可以采用壽命測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、抗干擾測(cè)試等。壽命測(cè)試是通過(guò)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行測(cè)試，得到產(chǎn)品的壽命數(shù)據(jù)。環(huán)境測(cè)試是模擬不同環(huán)境條件下的測(cè)試，檢查產(chǎn)品在不同環(huán)境下的表現(xiàn)?？垢蓴_測(cè)...

圖測(cè)量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量：在眼圖測(cè)量中，疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣，可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在，疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多，則眼的張開(kāi)程度會(huì)越小，就越能測(cè)到惡劣的情況，但相應(yīng)的測(cè)試時(shí)間也會(huì)變長(zhǎng)。為了在測(cè)...

電子產(chǎn)品測(cè)試需要使用各種測(cè)試工具和設(shè)備，如萬(wàn)用表、示波器、信號(hào)源、模擬器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備，以及各種軟件測(cè)試工具和自動(dòng)化測(cè)試工具。這些測(cè)試工具和設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面。 測(cè)試人員是電子產(chǎn)品...

2產(chǎn)品知識(shí)：測(cè)試人員需要了解所測(cè)試產(chǎn)品的特點(diǎn)、功能、性能、安全和兼容性等方面的知識(shí)，以便能夠設(shè)計(jì)和執(zhí)行相應(yīng)的測(cè)試用例。 3測(cè)試工具和設(shè)備：測(cè)試人員需要熟悉各種測(cè)試工具和設(shè)備的使用方法和操作技巧，以便能夠準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)試工作 4測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范：測(cè)試...

電子產(chǎn)品測(cè)試是通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。電子產(chǎn)品測(cè)試的目的是評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在的缺陷和問(wèn)題，并提供改進(jìn)產(chǎn)品的依據(jù)。 電子產(chǎn)品測(cè)試一般包括以下幾個(gè)方面： 1....

二、電子產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)特點(diǎn) 1多樣性：不同的電子產(chǎn)品具有不同的功能和特性，需要采用不同的測(cè)試方法和技術(shù)。 2復(fù)雜性：電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理較為復(fù)雜，需要深入了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)才能進(jìn)行測(cè)試。 3精度要求高：電子產(chǎn)品測(cè)試需要精確地測(cè)量各項(xiàng)...

電子產(chǎn)品測(cè)試方法及分析可以根據(jù)不同的測(cè)試目的和要求，采用不同的測(cè)試方法和技術(shù)。以下是常見(jiàn)的幾種電子產(chǎn)品測(cè)試方法及分析： 1.功能測(cè)試：功能測(cè)試是測(cè)試產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否正常工作。測(cè)試方法可以采用手動(dòng)測(cè)試或自動(dòng)化測(cè)試。手動(dòng)測(cè)試需要人工操作產(chǎn)品，檢查各項(xiàng)功...

電子產(chǎn)品測(cè)試設(shè)備需要考慮以下幾個(gè)方面： 1.測(cè)試需求：根據(jù)測(cè)試的需求和目的，確定需要測(cè)試哪些方面，如功能、性能、可靠性、安全和兼容性等。不同的測(cè)試方面需要不同的測(cè)試設(shè)備。 2.測(cè)試對(duì)象：根據(jù)測(cè)試的對(duì)象，確定需要哪些測(cè)試設(shè)備。不同類型的電子產(chǎn)品需...

3.黑盒測(cè)試技術(shù) 黑盒測(cè)試技術(shù)是指在不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼的情況下，對(duì)電子產(chǎn)品的輸入和輸出進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)模擬用戶的操作和場(chǎng)景來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品的功能和性能。黑盒測(cè)試技術(shù)適用于多種類型的產(chǎn)品測(cè)試，可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的功能缺陷和性能問(wèn)題。 4.灰盒測(cè)試技...

電子產(chǎn)品測(cè)試的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)主要包括以下幾個(gè)方面： 1.自動(dòng)化測(cè)試：隨著技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)化測(cè)試將成為電子產(chǎn)品測(cè)試的主流。自動(dòng)化測(cè)試可以提高測(cè)試效率和質(zhì)量，減少測(cè)試成本和時(shí)間。 2.人工智能測(cè)試：人工智能測(cè)試是未來(lái)電子產(chǎn)品測(cè)試的重要發(fā)展方向。人工智...

4測(cè)試環(huán)境：測(cè)試環(huán)境是指進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所處的環(huán)境條件，包括溫度、濕度、電磁場(chǎng)等因素。 5測(cè)試設(shè)備：測(cè)試設(shè)備是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的儀器和設(shè)備，包括信號(hào)發(fā)生器、示波器、頻譜儀、溫濕度計(jì)等。 6測(cè)試程序：測(cè)試程序是進(jìn)行電子產(chǎn)品測(cè)試所需的軟件程序...

5.兼容性測(cè)試技術(shù) 兼容性測(cè)試技術(shù)是指對(duì)電子產(chǎn)品在不同操作系統(tǒng)、瀏覽器、設(shè)備和軟件環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，以確保產(chǎn)品的兼容性和穩(wěn)定性。兼容性測(cè)試技術(shù)需要測(cè)試人員具備一定的設(shè)備和軟件知識(shí)，可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在不同環(huán)境下的問(wèn)題和缺陷。 6.可靠性測(cè)試技術(shù) ...