安徽通信DDR測試

來源: 發(fā)布時間:2023-02-12

DDR測試

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫,即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同,又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣,而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的,因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。 DDR3信號質(zhì)量自動測試軟件;安徽通信DDR測試

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測試軟件運(yùn)行后,示波器會自動設(shè)置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測量并匯總成一個測試報(bào)告,測試報(bào)告中列出了測試的項(xiàng)目、是否通過、spec的要求、實(shí)測值、margin等。圖5.17是自動測試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以輔助用戶進(jìn)行內(nèi)存參數(shù)的配置,比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì)量的影響。除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關(guān)鍵參數(shù)測試失敗后,可以針對這個參數(shù)進(jìn)行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進(jìn)行參數(shù)統(tǒng)計(jì),根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應(yīng)的波形位置, 安徽通信DDR測試DDR在信號測試中解決的問題有那些;

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DDR4/5的協(xié)議測試除了信號質(zhì)量測試以外,有些用戶還會關(guān)心DDR總線上真實(shí)讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確,以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等,這時就需要進(jìn)行相關(guān)的協(xié)議測試。DDR的總線寬度很寬,即使數(shù)據(jù)線只有16位,加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線,更寬位數(shù)的總線甚至?xí)玫缴习俑€。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進(jìn)行同時捕獲并進(jìn)行協(xié)議分析,適合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測試的基本方法是通過相應(yīng)的探頭把被測信號引到邏輯分析儀,在邏輯分析儀中運(yùn)行解碼軟件進(jìn)行協(xié)議驗(yàn)證和分析。

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除了DDR以外,近些年隨著智能移動終端的發(fā)展,由DDR技術(shù)演變過來的LPDDR(Low-PowerDDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快。LPDDR主要針對功耗敏感的應(yīng)用場景,相對于同一代技術(shù)的DDR來說會采用更低的工作電壓,而更低的工作電壓可以直接減少器件的功耗。比如LPDDR4的工作電壓為1.1V,比標(biāo)準(zhǔn)的DDR4的1.2V工作電壓要低一些,有些廠商還提出了更低功耗的內(nèi)存技術(shù),比如三星公司推出的LPDDR4x技術(shù),更是把外部I/O的電壓降到了0.6V。但是要注意的是,更低的工作電壓對于電源紋波和串?dāng)_噪聲會更敏感,其電路設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)性更大。除了降低工作電壓以外,LPDDR還會采用一些額外的技術(shù)來節(jié)省功耗,比如根據(jù)外界溫度自動調(diào)整刷新頻率(DRAM在低溫下需要較少刷新)、部分陣列可以自刷新,以及一些對低功耗的支持。同時,LPDDR的芯片一般體積更小,因此占用的PCB空間更小。 DDR3總線上的工作時序;

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DDR應(yīng)用現(xiàn)狀隨著近十年以來智能手機(jī)、智能電視、AI技術(shù)的風(fēng)起云涌,人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計(jì)算機(jī)存儲器的需求不斷提高,DDRSDRAM也不斷地響應(yīng)市場的需求和技術(shù)的升級推陳出新。目前,用于主存的DDRSDRAM系列的芯片已經(jīng)演進(jìn)到了DDR5了,但市場上對經(jīng)典的DDR3SDRAM的需求仍然比較旺盛。測試痛點(diǎn)測試和驗(yàn)證電子設(shè)備中的DDR內(nèi)存,客戶一般面臨三大難題:如何連接DDR內(nèi)存管腳;如何探測和驗(yàn)證突發(fā)的讀寫脈沖信號;配置測試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測試。DDR工作原理與時序問題;安徽通信DDR測試

DDR壓力測試的內(nèi)容有那些;安徽通信DDR測試

如何測試DDR?

DDR測試有具有不同要求的兩個方面:芯片級測試DDR芯片測試既在初期晶片階段也在封裝階段進(jìn)行。采用的測試儀通常是內(nèi)存自動測試設(shè)備,其價值一般在數(shù)百萬美元以上。測試儀的部分是一臺可編程的高分辨信號發(fā)生器。測試工程師通過編程來模擬實(shí)際工作環(huán)境;另外,他也可以對計(jì)時脈沖邊沿前后進(jìn)行微調(diào)來尋找平衡點(diǎn)。自動測試儀(ATE)系統(tǒng)也存在缺陷。它產(chǎn)生的任意波形數(shù)量受制于其本身的后備映象隨機(jī)內(nèi)存和算法生成程序。由于映象隨機(jī)內(nèi)存深度的局限性,使波形只能在自己的循環(huán)內(nèi)重復(fù)。因?yàn)镈DR帶寬和速度是普通SDR的二倍,所以波形變化也應(yīng)是其二倍。因此,測試儀的映象隨機(jī)內(nèi)存容量會很快被消耗殆盡。為此,要保證一定的測試分辨率,就必須增大測試儀的內(nèi)存。建立測試頭也是一個棘手的問題。因?yàn)镈DR內(nèi)存的數(shù)據(jù)讀取窗口有1—2ns,所以管腳驅(qū)動器的上升和下降時間非常關(guān)鍵。為保證在數(shù)據(jù)眼中心進(jìn)行信號轉(zhuǎn)換,需要較好的管腳驅(qū)動器轉(zhuǎn)向速度。在頻率為266MHz時,開始出現(xiàn)傳輸線反射。設(shè)計(jì)工程師發(fā)現(xiàn)在設(shè)計(jì)測試平臺時必須遵循直線律。為保證信號的統(tǒng)一性,必須對測試頭布局進(jìn)行傳輸線模擬。管腳驅(qū)動器強(qiáng)度必須能比較大限度降低高頻信號反射。 安徽通信DDR測試

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