CAK45F-Y-6.3V-680uF-K

    賦能：通過電化學(xué)反應(yīng)，制得五氧化二鉭氧化膜，作為鉭電容器的介質(zhì)。b)氧化膜厚度：電壓越高，氧化膜的厚度越厚，所以提高賦能電壓，氧化膜的厚度增加，容量就下降c)氧化膜的顏色：不同的形成電壓干涉出的氧化膜的顏色也不同，隨著電壓的升高，顏色呈周期性化。d)形成電壓：經(jīng)驗(yàn)公式（該公式只能在小范圍內(nèi)提高電壓，如果電壓提高的幅度很大，就不是很準(zhǔn)確，要加保險(xiǎn)系數(shù)）。(恒壓電壓);C2------要示的容量C2=KCR(K根據(jù)后道的容量收縮情況而定,可適時(shí)修改，一般情況下，容量小，后道容量損失較小，容量大，后道容量損失就大，低比容粉，容量損失較小，比容越高，后道容量損失就越大。通常，CR≤1UF，K=；CR>1UF,K=)。 鉭電容具有高可靠性，長時(shí)間使用后不會出現(xiàn)容量衰減或漏電流增加等問題。CAK45F-Y-6.3V-680uF-K

鉭電容器使用時(shí)的生產(chǎn)過程因素導(dǎo)致的失效，很多用戶往往只注意到鉭電容器性能的選擇和設(shè)計(jì),而對于貼片鉭電容安裝使用時(shí)容易出現(xiàn)的問題視而不見;舉例如下;A,不使用自動貼裝而使用手工焊接,產(chǎn)品不加預(yù)熱,直接使用溫度高于300度的電烙鐵較長時(shí)間加熱電容器,導(dǎo)致電容器性能受到過高溫度沖擊而失效.B,手工焊接不使用預(yù)熱臺加熱,焊接時(shí)一出現(xiàn)冷焊和虛焊就反復(fù)使用烙鐵加熱產(chǎn)品.C,使用的烙鐵頭溫度甚至達(dá)到500度.這樣可以焊接很快,但非常容易導(dǎo)致片式元?dú)饧зN片鉭電容實(shí)際使用時(shí)的可靠性實(shí)際上可以通過計(jì)算得出來,而我們的很多用戶使用時(shí)設(shè)計(jì)余量不夠,魯棒性很差,小批實(shí)驗(yàn)通過純屬僥幸,在批生產(chǎn)時(shí)出現(xiàn)一致性質(zhì)量問題.此時(shí),問題原因往往簡單被推到電容器生產(chǎn)商身上,忽略對設(shè)計(jì)可靠性的查找.鉭電容器使用時(shí)的無故障間隔時(shí)間MTBF對于很多用戶來講還是一個(gè)陌生的概念.很多使用者對可靠性工程認(rèn)識膚淺.過于重視實(shí)驗(yàn)而忽略數(shù)學(xué)計(jì)算.導(dǎo)致分電路設(shè)計(jì)可靠性比整機(jī)可靠性低,因此,批量生產(chǎn)時(shí)不斷出現(xiàn)問題.不懂得失效是一個(gè)概率問題,非簡單的個(gè)體問題.實(shí)際上鉭電容器使用時(shí)容易出現(xiàn)的故障原因和現(xiàn)象還很多,無法在此一一論述.如果有使用時(shí)的新問題,可以及時(shí)交流.GCA55H-E-16V-150uF-M鉭電容的電容量取決于金屬板的面積和介電常數(shù)，與其他電容器相比具有較高的電容值。

    如果燒結(jié)后，試容出來容量大了怎么辦？算一下如果容量控制在+5%-----+10%,計(jì)算出的賦能電壓是否接近閃火電壓？如果接近就不能流入后道；如接近閃火電壓，可改規(guī)格，如16V10U，可改16V15U，10V15U，但是計(jì)算出的賦能電壓不能低于比較低賦能電壓，不能往高電壓改規(guī)格。實(shí)在不行只能返燒結(jié)，返燒結(jié)時(shí)要根據(jù)比容控制燒結(jié)溫度。h高溫時(shí)真空度不好，怎么處理？高溫時(shí)真空度如果突然不好，說明爐膛已漏氣。應(yīng)立即降溫。因?yàn)檠鯕膺M(jìn)入爐膛后，鉭塊、鉭絲、坩堝隔熱層、隔熱罩都是鉭制品，會跟氧發(fā)生氧化，出現(xiàn)發(fā)脆。i空燒正常燒結(jié)一個(gè)月，需進(jìn)行一次空燒，空燒溫度應(yīng)高于正常燒結(jié)溫度100度以上；如果一直是燒的低溫，突然要燒高溫，應(yīng)先進(jìn)行空燒。因?yàn)榈蜏仉s質(zhì)吸附在爐膛和坩堝上，如果不空燒，突然燒高溫，低溫雜質(zhì)會揮發(fā)到鉭塊上去，造成鉭塊漏電流大有一批估計(jì)就是因?yàn)榭諢?，裝爐量太大，壓制密度偏小所致。

鉭電容器一般可貯存14年以上（可焊接除外），但貯存2年以上或進(jìn)行浸錫處理的鉭電容器，在使用前比較好施加額定電壓、電源內(nèi)阻不大于3Ω（非固體鉭需通過一個(gè)1100Ω（比較大）的電阻器）85℃老化4～8小時(shí)，并進(jìn)行電性能測量（雙極性產(chǎn)品應(yīng)每小時(shí)換向一次，漏電流測量也應(yīng)兩個(gè)方向分別測量）。4.7電路的開或關(guān)，都會產(chǎn)生過渡狀態(tài)下的瞬時(shí)電壓，一般其值要大于工作電壓，而且產(chǎn)生相應(yīng)沖擊電流。如果電源和負(fù)載的電阻均較小，這樣瞬時(shí)電流值相當(dāng)大，容易引起電解電容器氧化膜的損傷，特別固體鉭電容器更為嚴(yán)重。因?yàn)楣腆w鉭電容器不耐大的沖擊電流，容易在氧化膜的薄弱區(qū)域發(fā)熱促使氧化膜晶化提早發(fā)生，并降低耐壓能力。所以為提高使用壽命，電容器應(yīng)避免發(fā)頻繁的充、放電。4.8產(chǎn)品應(yīng)避免超溫使用。超溫下會使材料的性能發(fā)改變，因產(chǎn)品用的各種材料熱膨脹系數(shù)不同，可能產(chǎn)生內(nèi)部應(yīng)力而使產(chǎn)品失效；產(chǎn)品在高溫下長時(shí)間貯存，產(chǎn)品可能產(chǎn)生內(nèi)部應(yīng)力導(dǎo)致失效。因此，產(chǎn)品必須在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫度范圍內(nèi)使用。在設(shè)計(jì)音頻設(shè)備時(shí)，需要考慮鉭電容的音頻頻率響應(yīng)和信號質(zhì)量等指標(biāo)，以保證音頻信號的穩(wěn)定傳輸。

鉭電容器漏電流偏大導(dǎo)致實(shí)際耐壓不夠此問題的出現(xiàn)一般都由于鉭電容器的實(shí)際耐壓不夠造成.當(dāng)電容器上長時(shí)間施加一定場強(qiáng)時(shí),如果其介質(zhì)層的絕緣電阻偏低,此時(shí)產(chǎn)品的實(shí)際漏電流將偏大.而漏電流偏大的產(chǎn)品,實(shí)際耐壓就會下降.出現(xiàn)此問題的另外一個(gè)原因是關(guān)于鉭電容器的漏電流標(biāo)準(zhǔn)制定的過于寬松,導(dǎo)致有些根本不具備鉭電解電容器生產(chǎn)能力的公司在生產(chǎn)質(zhì)量低劣的鉭電容器.普通的室溫時(shí)漏電流就偏大的產(chǎn)品,如果工作在較高的溫度下,其漏電流會成指數(shù)倍增加,因此其高溫下的實(shí)際耐壓就會大幅度下降.在使用溫度較高時(shí)就會非常容易出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象.高溫時(shí)漏電流變化較小是所有電容器生產(chǎn)商努力的重要目標(biāo)之一,因此,此指標(biāo)對可靠性的決定性影響不言而愈.如果你選擇使用的鉭電容器的漏電流偏大,實(shí)際上它已經(jīng)是廢品,出問題因此成為必然.鉭電容具有一定的自恢復(fù)能力，但在過電壓嚴(yán)重的情況下，仍有可能發(fā)生故障。THCL-80V-260uF-K-C02

高頻電路中的鉭電容需要選擇具有較低等效串聯(lián)電阻的型號，以減少信號損失和噪聲。CAK45F-Y-6.3V-680uF-K

在使用鉭電容時(shí)，需要注意一些技術(shù)問題。例如，需要確保電容器的工作電壓和電流不超過其額定值；需要防止電容器在電路中出現(xiàn)短路等情況；需要根據(jù)不同的應(yīng)用場景選擇不同規(guī)格的電容器等。 隨著科技的不斷發(fā)展，鉭電容在未來也可能會得到更廣泛的應(yīng)用。例如，隨著電動汽車和智能電網(wǎng)等新興技術(shù)的發(fā)展，需要更高性能的電子元件來支持這些技術(shù)的發(fā)展。在這種情況下，鉭電容可能會成為一種重要的電子元件選擇?？偟膩碚f，鉭電容是一種性能出色、應(yīng)用廣的電子元件。其高穩(wěn)定性和低漏電流等特點(diǎn)使其在計(jì)算機(jī)、通訊設(shè)備、電源、醫(yī)療設(shè)備等多個(gè)領(lǐng)域得到了應(yīng)用。CAK45F-Y-6.3V-680uF-K