山東新一代智能AOI外觀檢測

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-01-18

    AOI檢測原理:通過攝像技術(shù)將被檢測物體的反射光強(qiáng),以定量化的灰階值輸出,通過與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較,分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過程。AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼,AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦,即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié),在整個(gè)AOI檢測中,其工作邏輯可以簡單地分為:Step1:圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集);Step2:數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換);Step3:圖像分析段(特征提取與模板比對(duì));Step4:缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段(缺陷大小類型分類等)。在整個(gè)AOI系統(tǒng)運(yùn)作中,所有的判定基礎(chǔ)都是基于攝影得到的圖像,因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與系統(tǒng)中的模板做對(duì)比,所以獲取圖像信息的精確性對(duì)于檢測結(jié)果非常重要!若圖像采集器看不清楚或看不到被檢測物體的特征點(diǎn),那么也就無法談到準(zhǔn)確的檢出。 一般都將離線AOI檢測設(shè)備設(shè)置在生產(chǎn)線的中段,在這個(gè)位置,設(shè)備可以產(chǎn)生的過程控制信息。山東新一代智能AOI外觀檢測

山東新一代智能AOI外觀檢測,AOI

在現(xiàn)代工業(yè)自動(dòng)化生產(chǎn)中,連續(xù)大批量生產(chǎn)中每一個(gè)制作過程都是有一定的次品率的,單獨(dú)去看雖然比率很小,但是相乘后卻成為企業(yè)難以提高良率的重要瓶頸,并且在經(jīng)過完整制程后再次去剔除次品,成本會(huì)高很多(例如,如果錫膏印刷工序存在定位偏差,且該問題直到芯片貼裝后的在線測試才被發(fā)現(xiàn),那么返修的成本將會(huì)是原成本的100倍以上),因此及時(shí)檢測以及次品剔除對(duì)質(zhì)量控制和成本控制是非常重要的,也是制造業(yè)進(jìn)一步升級(jí)的重要基石。湖北新一代智能AOI檢測設(shè)備在線AOI光學(xué)檢測是一種連接網(wǎng)絡(luò)來對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測的一種方式,這種檢測模式解決需要將產(chǎn)品進(jìn)行送檢的麻煩。

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照明光源按照波長分類可以分為可見波長光源,特殊波長光源。可見波長光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測設(shè)備中較常用的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源,一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長光源,比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用,例如通過相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差,可以測量出被測物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長。

    本系統(tǒng)采用的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ConvolutionalNeuralNetworks,CNN)是一類包含卷積計(jì)算且具有深度結(jié)構(gòu)的前饋神經(jīng)網(wǎng)(FeedforwardNeuralNetworks),是深度學(xué)習(xí)(deeplearning)的表示算法之一。卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)仿造生物的視知覺(visualperception)機(jī)制構(gòu)建,可以進(jìn)行監(jiān)督學(xué)習(xí)和非監(jiān)督學(xué)習(xí)。作為圖像識(shí)別領(lǐng)域的算法之一,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)充足時(shí)有穩(wěn)定的表現(xiàn)。針對(duì)本系統(tǒng)所處理的大規(guī)模圖像分類問題,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)將用于提取圖像的判別特征,再通過分類器進(jìn)行學(xué)習(xí)和識(shí)別。畫面顯示:1、主圖畫面都有顯示器件框,便于觀察器件是否被識(shí)別;2、根據(jù)底板顏色可以自由選擇器件框顏色;3、可依據(jù)客戶需求,自由定義器件中文名;4、不良器件圖靜態(tài)顯示;程序制作靈活性:1、無需設(shè)置參數(shù);2、在線抓拍首件板系統(tǒng)輔助做程序,且支持持續(xù)補(bǔ)充學(xué)習(xí),學(xué)習(xí)后自動(dòng)建模比例更高(80%+);---自動(dòng)框圖器件種類多(60+),比例高。3、支持中文、英文、中英文混合輸入;4、批量復(fù)制、粘貼、剪切、刪除等支持快捷鍵操作。---硬件條件和安裝尺寸不發(fā)生變化。 光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。

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愛為視(AIVS)新一代爐前智能插件檢測設(shè)備,全球第1款不用設(shè)置參數(shù)的AOI!極速編程10分鐘上手好!關(guān)鍵優(yōu)勢之“支持局部檢測”支持器件本體大部分特征相同,局部有差異的器件檢測,比如:外形一樣,顏色不同的音頻座。愛為視(AIVS)新一代爐前智能插件檢測設(shè)備,全球第1款不用設(shè)置參數(shù)的AOI!極速編程10分鐘上手好!為您提供插件爐前錯(cuò)、漏、反、多、歪斜等缺陷檢測方案!全智能!全智能!愛為視(AIVS)新一代爐前智能插件檢測設(shè)備,全球第1款不用設(shè)置參數(shù)的AOI!極速編程10分鐘上手好!關(guān)鍵優(yōu)勢之“不用設(shè)置任何參數(shù)”:1.采用智能算法,自動(dòng)框圖比例高;2.無需抽色、無需調(diào)飽和度、色相,無需調(diào)閾值、容忍度!自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)的速度是人類所不能奇跡的,較寬的光譜響應(yīng)范圍使得其可以實(shí)現(xiàn)人眼所不能看到的紅外測量。山東專業(yè)AOI設(shè)備

在價(jià)格適中的AOI檢測儀系統(tǒng)中,被測物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì)。山東新一代智能AOI外觀檢測

    光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD(chargeCouplingdiode)和CMOS(complementarymetaloxidesemiconductor)兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同,工作原理如下圖所示,CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)街虚g模數(shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)很難集成很多的感光單元,制造成本高且功耗大;而CMOS采用無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,每個(gè)像素都可以被定位,而無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低,但其缺點(diǎn)是半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會(huì)有一些問題,同時(shí),為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)域。芯片表面上的光敏區(qū)域部分。 山東新一代智能AOI外觀檢測

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