可重復(fù)性越高的AOI,其性能越穩(wěn)定,但由于AOI技術(shù)還不十分成熟,市面上AOI的可重復(fù)性一般為20%-30%。誤判率是越低越好,Z好的AOI的誤判率只有0.5%左右(按點算)。漏判率也是越低越好,Z好的AOI的漏判別率只有0.5%左右(按不良點算)。由以上論述不難看出,一臺性價比較優(yōu)的AOI必須具備以下條件:①AOI相機要是真正的面陣數(shù)字相機(CCD),這種相機不需要圖像采集卡;②AOI光源Z好是同軸碗狀光源;③AOI機械系統(tǒng)Z好是伺服電動機為驅(qū)動,用絲桿和導(dǎo)軌為傳動;④AOI軟件系統(tǒng)的開發(fā)語言Z好為VC++;⑤AOI軟件的可重復(fù)性要高;⑥AOI軟件的可操作性要人性化;⑦AOI誤判率和漏判率要低;⑧AOI檢測功能要全;⑨AOI要能與RPC實時工藝控制軟件進行對接。 線掃描圖像傳感器的掃描寬度方向只有一個像素,通過移動來獲得圖像,所有一般解析度比較好。江西自動AOI檢測儀
AOI技術(shù)實現(xiàn)要素:本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種AOI檢測方法,其可降低現(xiàn)場操作人員誤判的幾率,提高產(chǎn)品質(zhì)量。為達上述目的,一種AOI檢測方法,其通過一AOI檢測設(shè)備執(zhí)行,用于檢測待測PCBA板卡,其包括以下步驟:a.啟動一AOI檢測程序,對該待測PCBA板卡上的元件進行檢測獲得一檢測數(shù)據(jù),;b.判斷該檢測數(shù)據(jù)是否超過一預(yù)先設(shè)置的閾值,如果是則執(zhí)行步驟c,如果否則執(zhí)行步驟f;c.判斷該待測PCBA板卡的檢測數(shù)據(jù)是否大于一預(yù)先設(shè)置的第二閾值,如果是則執(zhí)行步驟d,如果否則執(zhí)行步驟e;d.判定該待測PCBA板卡為不合格產(chǎn)品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果;e.根據(jù)現(xiàn)場操作人員的輸入信息,儲存該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果;以及f.判定該待測PCBA板卡為合格產(chǎn)品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果。 上海什么是AOI測試由于電路板尺寸大小的改變提出更多的挑戰(zhàn),越來越多的原設(shè)備制造商采用AOI。
AOI又叫自動光學(xué)檢測儀,是應(yīng)用于表面貼裝生產(chǎn)流水線上的一種自動光學(xué)檢查裝置,可有效的檢測印刷質(zhì)量、貼裝質(zhì)量以及焊點質(zhì)量。AOI的中心是CCD攝像系統(tǒng)抓取圖片,然而通過圖像處理卡與計算機處理軟件系統(tǒng)等系列的算法處理后,與標(biāo)準(zhǔn)圖像進行對比,發(fā)現(xiàn)缺陷,并生產(chǎn)文件。使用AOI可以在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段,AOI將減少修理成本避免報廢不可修理的電路板。
AOI檢測原理是采用攝像技術(shù)將被檢測物體的反射光強以定量化的灰階值輸出,通過與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進行比較,分析判定缺陷并進行分類的過程。與人工檢查做一個形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時的自然光,AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼,AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦,即“看”與“判”兩個環(huán)節(jié)。因此,AOI檢測的工作邏輯可以簡單地分為圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集),數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換),圖像分析段(特征提取與模板比對)和缺陷報告階段四個階段(缺陷大小類型分類等)。為了支持和實現(xiàn)AOI檢測的上述四個功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺,成像系統(tǒng),圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個部分,是一個集成了機械,自動化,光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動化設(shè)備。主要用于生產(chǎn)問題明確、數(shù)量和速度為關(guān)鍵因素、產(chǎn)品混合度高的產(chǎn)品的檢測。
在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查較直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生?;亓骱盖啊z查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型地放置檢查機器的位置,因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速片機和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準(zhǔn)。這個位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)?;亓骱负?。在SMT工藝過程的之后步驟進行檢查,這是AOI較普及的選擇,因為這個位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤。回流焊后檢查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。 基于圖像檢查的基本原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以被檢查的。上海自動AOI配件
AOI檢測儀優(yōu)點是圖像的還原性較好,打光角度容易調(diào)易得到較清晰的圖像,相比線陣相機誤判率較低。江西自動AOI檢測儀
AOI檢測設(shè)備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源,一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源,比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用,例如通過相干光的干涉圖案計算出對應(yīng)的相位差和光程差,可以測量出被測物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達到亞波長,測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。(下圖為側(cè)光源與同軸光源實例) 江西自動AOI檢測儀
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