電力設(shè)施抗震地震CNAS檢測報告

上海天梯檢測，輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測試 一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差，往往發(fā)生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷，帶載時欠壓，斷后，由于電源內(nèi)阻原因，負(fù)載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時反復(fù)開發(fā)的狀態(tài)。 電源模塊帶滿載運(yùn)行，輸入電壓從（輸入欠壓點(diǎn)－3V）到（輸入欠壓點(diǎn)＋3V）緩慢變化，時間設(shè)置為5～8分鐘，反復(fù)循環(huán)運(yùn)行，電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運(yùn)行較少0.5小時，電源模塊性能無明顯變化。地震是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一。電力設(shè)施抗震地震CNAS檢測報告

上海天梯檢測技術(shù)有限公司振動測試： 振動是自然界較普遍的現(xiàn)象之一，是指物體在平衡位置附近的往復(fù)運(yùn)動，在振動的過程中，振動物體的一些物理參數(shù)，如位移、速度等，將發(fā)生反復(fù)變化，由此對日常生活和電子工程帶來一定的危害。對于電工電子產(chǎn)品而言，在產(chǎn)品包裝運(yùn)輸、安裝及使用過程中，都會發(fā)生振動，這種振動一般是隨機(jī)且無規(guī)律的，為提前確保產(chǎn)品到客戶手里可正常使用，國家標(biāo)準(zhǔn)中針對電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)，也明確定義了振動的測試標(biāo)準(zhǔn)。 振動的危害 振動會影響精密儀器設(shè)備的功能，加劇構(gòu)件的疲勞和磨損，從而縮短機(jī)器和結(jié)構(gòu)物的使用壽命 引起結(jié)構(gòu)的大變形破壞，產(chǎn)生巨大損失 導(dǎo)致產(chǎn)品性能和工作狀態(tài)的不穩(wěn)定，甚至產(chǎn)品的損壞 降低行業(yè)產(chǎn)品競爭力 破壞企業(yè)品牌形象 產(chǎn)生更高的費(fèi)用和售后人力電力設(shè)施抗震地震CNAS檢測報告常用地震試驗(yàn)分類有哪些？

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 1、低溫試驗(yàn)： 低溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T 2423.1-2008，只做：溫度≥-70℃。 2、高溫試驗(yàn)： 高溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 只做：溫度≤300℃。 3、恒定濕熱試驗(yàn)： 濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。 4、交變濕熱試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測試項目，上海天梯檢測技術(shù)有限公司為客戶提供以下地震測試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測試 恒溫恒濕測試 交變濕熱測試 低溫存儲測試 高溫存儲測試 高低溫沖擊測試 鹽霧測試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測試(Switch electrical test) 膠帶附著力測試(The tape adhesion test) 振動測試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測試(Drop test) 元器件推拉力測試(Push And Pull) 蒸氣老化測試(Steam Aging test) 元器件可焊性測試(Solderability test) IP等級防護(hù)測試 電源拉扭力測試 LED光衰壽命測試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級測試有人了解地震測試嗎？

振動測試 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 … 沖擊測試 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 … 碰撞測試 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20 跌落測試 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 RCA紙帶摩擦測試 ASTM F 2357 酒精，橡皮，鉛筆摩擦測試 GB/T 6739 ASTM D 3363 接觸電阻測試 EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-STD-202 絕緣電阻測試 EIA-364-21 MIL-STD-202 耐電壓測試 EIA-364-20 MIL-STD-202 劃格測試 ASTM D 3359 插拔力測試 EIA-364-13 耐久性測試 EIA-364-09 線材搖擺測試 EIA-364-41地震測試可以分為哪些呢？上海測試地震

環(huán)境地震測試包含了哪些呢？電力設(shè)施抗震地震CNAS檢測報告

高壓空載，低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測試說明： 高壓空載運(yùn)行是測試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測試模塊在較大輸入電流時，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時，效率較低，此時模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 試驗(yàn)是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進(jìn)行的，即焊點(diǎn)由于自身的電阻，當(dāng)有電流通過時會發(fā)熱，而不工作時焊點(diǎn)恢復(fù)到室溫，從高溫到室溫意味著焊點(diǎn)經(jīng)受高低溫的變化，在汽車電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點(diǎn)升溫會達(dá)剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點(diǎn)升溫還會更高。故該試驗(yàn)方法實(shí)用性強(qiáng)，但試驗(yàn)周期長費(fèi)用高，試驗(yàn)前應(yīng)做好充分準(zhǔn)備。電力設(shè)施抗震地震CNAS檢測報告

上海天梯檢測技術(shù)有限公司成立于2013年，總部設(shè)在上海交大金橋國家科技園，是中國合格評定國家認(rèn)可委員會(CNAS)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室(No. CNAS L7352)，計量認(rèn)證(CMA)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室(170921341417)，上海交大金橋科技園檢測公共服務(wù)平臺，上海市研發(fā)公共服務(wù)平臺服務(wù)企業(yè)，上海市浦東新區(qū)科技服務(wù)機(jī)構(gòu)發(fā)展促進(jìn)會會員單位，上海市****。我們有前列的測試設(shè)備，專業(yè)的工程師及**團(tuán)隊。公司成立以來著重于產(chǎn)品的環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)，材料性能實(shí)驗(yàn)，在汽車，造船，醫(yī)療，運(yùn)輸?shù)刃袠I(yè)為企業(yè)提供了專業(yè)的測試技術(shù)服務(wù)，堅持‘準(zhǔn)確，及時，真實(shí)，有效，提升’的質(zhì)量方針，憑過硬的檢測技術(shù)和工作質(zhì)量，向廣大客戶提供準(zhǔn)確，高效的檢測服務(wù)，我們的檢測報告具有國際公信力，得到了23個經(jīng)濟(jì)體的37個國家和地區(qū)的客戶認(rèn)可。