上海落下可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供以下可靠性測(cè)試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可焊性測(cè)試(Solderability test) IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試 電源拉扭力測(cè)試 LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級(jí)測(cè)試常見的可靠性測(cè)試有哪些？上海落下可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

先來看看MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，它指的是：環(huán)境工程考察和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。它是一項(xiàng)美國jun用標(biāo)準(zhǔn)，強(qiáng)調(diào)通過環(huán)境測(cè)試手段，發(fā)現(xiàn)問題，反復(fù)修改設(shè)備的初始設(shè)計(jì)完善產(chǎn)品。簡單的說，就是筆記本從*初設(shè)計(jì)到用料選材再到制造的整個(gè)環(huán)節(jié)都必須嚴(yán)格符合軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，只有這樣*終才能夠順利通過MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

下面是MIL-STD-810G的幾個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目：

跌落測(cè)試：顧名思義就是把產(chǎn)品托舉到一定高度，然后使其自由落體，之后再檢查它是否完好。該測(cè)試模擬我們?nèi)粘９ぷ髦胁簧鲗⒐P記本跌落的狀況。

加速度沖擊性測(cè)試：筆記本在工作臺(tái)上被物體以加速形態(tài)沖撞，然后落地，基本就是模擬受到突發(fā)性沖撞。

耐久度測(cè)試：主要考察筆記本頻繁使用過程中的可靠性，尤其考驗(yàn)轉(zhuǎn)軸、排線等配件，該項(xiàng)測(cè)試一般都會(huì)經(jīng)歷幾十萬次開合。 老化試驗(yàn)可靠性測(cè)試第三方實(shí)驗(yàn)室可靠性測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。

測(cè)試可靠性的較簡單的一個(gè)方法是使用隨機(jī)輸入，這種類型的測(cè)試通過提供虛假的不合邏輯的輸入，努力使應(yīng)用程序發(fā)生故障或掛起。輸入可以是鍵盤或鼠標(biāo)事件、程序消息流、Web頁、數(shù)據(jù)緩存或任何其他可強(qiáng)制進(jìn)入應(yīng)用程序的輸入情況。應(yīng)該使用隨機(jī)破壞測(cè)試測(cè)試重要的錯(cuò)誤路徑，并公開軟件中的錯(cuò)誤。這種測(cè)試通過強(qiáng)制失敗以便可以觀察返回的錯(cuò)誤處理來改進(jìn)代碼質(zhì)量。在隔離的受保護(hù)的測(cè)試環(huán)境中可靠的軟件，在真實(shí)環(huán)境的部署中可能并不可靠。雖然隔離測(cè)試在早期的可靠性測(cè)試進(jìn)程中是有用的，但真實(shí)環(huán)境的測(cè)試環(huán)境才能確保并行應(yīng)用程序不會(huì)彼此干擾。

上海天梯檢測(cè)，輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試 一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差，往往發(fā)生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷，帶載時(shí)欠壓，斷后，由于電源內(nèi)阻原因，負(fù)載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開發(fā)的狀態(tài)。 電源模塊帶滿載運(yùn)行，輸入電壓從（輸入欠壓點(diǎn)－3V）到（輸入欠壓點(diǎn)＋3V）緩慢變化，時(shí)間設(shè)置為5～8分鐘，反復(fù)循環(huán)運(yùn)行，電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運(yùn)行較少0.5小時(shí)，電源模塊性能無明顯變化?？煽啃栽囼?yàn)測(cè)試的目的是什么？

軟件可靠性是影響軟件開發(fā)質(zhì)量的重要要素之一，保障軟件可靠性的方法主要有軟件測(cè)試和軟件可靠性測(cè)試，軟件測(cè)試主要是軟件功能性和非功能性方面的測(cè)試，軟件可靠性測(cè)試主要是通過軟件可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)對(duì)軟件有效性進(jìn)行判斷，軟件可靠性測(cè)試系統(tǒng)作為軟件可靠性評(píng)價(jià)與軟件可靠性測(cè)試的載體。工業(yè)產(chǎn)品的可靠性是指工業(yè)生產(chǎn)的元器件、設(shè)備、系統(tǒng)在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，無故障穩(wěn)定的執(zhí)行指定功能的能力或可能性。工業(yè)產(chǎn)品實(shí)際使用的可靠性叫做工作可靠性，包括工業(yè)產(chǎn)品固有可靠性和工業(yè)產(chǎn)品使用可靠性?？煽啃詼y(cè)試是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段，檢測(cè)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。軟件可靠性是軟件系統(tǒng)在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)以及規(guī)定的環(huán)境條件下，完成規(guī)定功能的能力。上海跌落可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

可靠性測(cè)試是檢驗(yàn)和試驗(yàn)產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)。上海落下可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

上海天梯檢測(cè)——輸入電壓跌落及輸出動(dòng)態(tài)負(fù)載 一次模塊在實(shí)際使用過程中，當(dāng)輸入電壓跌落時(shí)，電源模塊突加負(fù)載的極限情況是可能發(fā)生的，此時(shí)功率器件、磁性元件工作在較大瞬態(tài)電流狀態(tài)，試驗(yàn)可以檢驗(yàn)控制時(shí)序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計(jì)的合理性。 A、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)＋5V（持續(xù)時(shí)間為5s）、過壓點(diǎn)-5V（持續(xù)時(shí)間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在較大負(fù)載（較大額定容量，持續(xù)時(shí)間為500ms）、空載（持續(xù)時(shí)間為500ms）之間跳變，運(yùn)行1小時(shí)； B、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)＋5V（持續(xù)時(shí)間為5s）、過壓點(diǎn)-5V（持續(xù)時(shí)間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在較大負(fù)載（較大額定容量，持續(xù)時(shí)間為1s）、空載（持續(xù)時(shí)間為500ms）之間跳變，運(yùn)行1小時(shí)。上海落下可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念，先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的商務(wù)服務(wù)中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同上海天梯檢測(cè)技術(shù)供應(yīng)和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！