浙江奧林巴斯XRD代理哪家專業(yè)

x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料。由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器。浙江奧林巴斯XRD代理哪家專業(yè)

用x射線照射固體時，由于光電效應，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結合能為eb，射出固體后的動能為ec，則它們之間的關系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當入射x射線能量一定后，若測出功函數(shù)和電子的動能，即可求出電子的結合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結合能必然反應了表面化學成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理。上海奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理公司有哪些X射線衍射儀的用途是什么？

閃爍檢測器是各種晶體X射線衍射工作中通用性能好的檢測器。它的主要優(yōu)點是：對于晶體X射線衍射使用的X射線均具有很高甚至達到100%的量子效率；使用壽命長，穩(wěn)定性好；此外，它和PC一樣，具有很短的分辨時間（10-7秒數(shù)量級），因而實際上不必考慮由于檢測器本身的限制所帶來的計數(shù)損失；它和PC一樣，對晶體衍射工作使用的軟X射線也有一定的能量分辨本領。因此通常X射線粉末衍射儀配用的是閃爍檢測器。粉末衍射儀的一種工作方式（掃描方式）。試樣每轉(zhuǎn)動一步（固定的Δθ）就停下來，測量記錄系統(tǒng)開始測量該位置上的衍射強度。強度的測量也有兩種方式：定時計數(shù)方式和定數(shù)計時方式。然后試樣再轉(zhuǎn)過一步，再進行強度測量。

X射線衍射儀工作原理是什么？ x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。 對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。 X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領域。X射線衍射法是一種研究晶體結構的分析方法。

x射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用x射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應進行物質(zhì)結構分析的技術。每一種結晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)X射線照射到生物機體時，可使生物細胞受到抑制、破壞甚至壞死，致使機體發(fā)生不同程度的生理、病理和生化等方面的改變。不同的生物細胞，對X射線有不同的敏感度，可用于醫(yī)療人體的某些疾病，特別是瘤的醫(yī)療。在利用X射線的同時，人們發(fā)現(xiàn)了導致病人脫發(fā)、皮膚燒傷、工作人員視力障礙，白血病等射線傷害的問題，在應用X射線的同時，也應注意其對正常機體的傷害，注意采取防護措施。鑒于野外環(huán)境作業(yè)的需求，X射線衍射儀不只可以確保強大的功能，也充分滿足了“便攜”的需求。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD廠商

便攜式X射線衍射儀可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量。浙江奧林巴斯XRD代理哪家專業(yè)

X射線衍射分析的應用實例： 1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常。因此要求測試時合 理選擇響應的方向平面。 3、對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。 4、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強度低，峰形不好，分辨率低。要了解樣品的物理化學性質(zhì)，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)。 5、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。浙江奧林巴斯XRD代理哪家專業(yè)

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