嘉興衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一般都是以這三個(gè)物理量為基礎(chǔ)的。嘉興衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動(dòng)能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個(gè)晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測出功函數(shù)和電子的動(dòng)能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理?；茨涎苌鋬x批發(fā)廠家衍射儀的制作方法難嗎？上海澤權(quán)告訴您。

XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線，稱為特征X射線。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。

測角儀是粉末衍射儀上精密的機(jī)械部件，用來精確測量衍射角。接收狹縫測角儀上用來限制所接收的衍射光束的寬度。接收狹縫是為了限制待測角度位置附近區(qū)域之外的X射線進(jìn)入檢測器，它的寬度對衍射儀的分辨能力、線的強(qiáng)度以及峰高/背底比有著重要的影響作用。脈沖計(jì)數(shù)率：在衍射儀方法中，X射線的強(qiáng)度用脈沖計(jì)數(shù)率表示，單位為每秒脈沖數(shù)（cps）。檢測器在單位時(shí)間輸出的平均脈沖數(shù)，直接決定于檢測器在單位時(shí)間接收的光子數(shù)。如果檢測器的量子效率為100%，而系統(tǒng)又沒有計(jì)數(shù)損失（漏計(jì)），那么每秒脈沖數(shù)便是每秒光子數(shù)。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。研究和發(fā)展先進(jìn)材料，這項(xiàng)工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應(yīng)用范圍從空間科學(xué)和**科技到消費(fèi)類產(chǎn)品。X射線衍射（XRD）是研究先進(jìn)材料的主要技術(shù)，包括下列功能：相的識別和定量，相的結(jié)晶度判定，晶體結(jié)構(gòu)，晶體取向和織構(gòu)，極圖等。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對各種樣品類型，從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料，液體和半導(dǎo)體晶片。專業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為材料科學(xué)應(yīng)用提供一系列解決方案。一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉。湖州衍射儀代理公司有哪些

X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。嘉興衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

X射線衍射分析的應(yīng)用實(shí)例：金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個(gè)平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。對于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測試時(shí)合 理選擇響應(yīng)的方向平面。對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力，測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強(qiáng)度低，峰形不好，分辨率低。要了解樣品的物理化學(xué)性質(zhì)，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)。粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。嘉興衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些