無(wú)錫衍射儀批發(fā)商

便攜式X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得X射線信號(hào)的特征，并通過(guò)處理得到衍射圖樣。利用光譜信息不只可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的位相測(cè)定，還可以觀察晶體中是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷。衍射儀具有檢測(cè)速度快、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)，普遍應(yīng)用于粉體、單晶、多晶等大塊材料的測(cè)量。所有系統(tǒng)，從X射線源到光學(xué)元件、測(cè)角儀、樣品臺(tái)和探測(cè)器，都可以自動(dòng)調(diào)節(jié)。當(dāng)自動(dòng)調(diào)整開(kāi)始時(shí)，儀器將自動(dòng)調(diào)整高度、角度、CBO光學(xué)系統(tǒng)、入射單色儀、狹縫高度、樣品表面位置和探測(cè)器角度至良好狀態(tài)。上海澤權(quán)告訴您衍射儀的選擇方法。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！無(wú)錫衍射儀批發(fā)商

晶體的X射線衍射圖像實(shí)質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細(xì)復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會(huì)因?yàn)樗N物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對(duì)照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個(gè)相后，根據(jù)各相花樣的強(qiáng)度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對(duì)各種組分進(jìn)行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會(huì)（JCPDS）”負(fù)責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進(jìn)行物相分析。溫州衍射儀品牌X射線粉末衍射儀的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？

X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末; X射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 ! X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.X射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例.6,計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途。

X射線衍射工作原理： X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線 滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=nλ 應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng)，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。 XRD分析常用的軟件有有Pcpdgwin，Search match，High score和Jade，比較常用的是后兩種。衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，反映著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。

用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級(jí)的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級(jí)上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動(dòng)能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對(duì)它的吸引外，還必須克服整個(gè)晶體對(duì)它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見(jiàn)，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測(cè)出功函數(shù)和電子的動(dòng)能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測(cè)得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測(cè)試原理。X射線衍射儀在軟件方面，分析儀使用SwiftMin軟件簡(jiǎn)潔直觀?；幢毖苌鋬x代理商有哪些

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