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原位x射線衍射，我想，應(yīng)該是作為X射線衍射實(shí)驗(yàn)的樣品，不要挪動(dòng)位置、保持在原先的既定位置上，直接拿去進(jìn)行X射線衍射測(cè)定。 這樣的要求，應(yīng)該是針對(duì)那些要求獲取既和原始位置有關(guān)的（在原始位置中，某物質(zhì)是處于何等晶格結(jié)構(gòu)的？它和周圍其它物質(zhì)的結(jié)合、相互作用怎么樣？等）、又與這一片材料物資本身的晶格結(jié)構(gòu)有關(guān)的信息！而前者似乎更重要！ 比如，在納米材料制備和研究中，在超導(dǎo)材料的制備研究中，向某一主要基體材料中添加極微量的摻雜成分，要研究摻雜物分子、原子對(duì)基體分子、原子是如何發(fā)揮超導(dǎo)作用的，就需要了解由原位x射線衍射實(shí)驗(yàn)測(cè)定獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。X射線衍射儀機(jī)身小巧，將性能強(qiáng)大的軟件和改進(jìn)的X射線探測(cè)器結(jié)合在一起使用，提高了檢測(cè)的速度和靈敏度。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣

X射線衍射法是一種研究晶體結(jié)構(gòu)的分析方法，而不是直接研究試樣內(nèi)含有元素的種類及含量的方法。當(dāng)X射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個(gè)晶面距為d的晶面時(shí)，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)），兩束光的相位一致，發(fā)生相長(zhǎng)干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射，晶體對(duì)X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當(dāng)于相干波之間的位相差，n=1，2…時(shí)各稱0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)……衍射線。反射級(jí)次不清楚時(shí)，均以n=1求d。晶面間距一般為物質(zhì)的特有參數(shù)，對(duì)一個(gè)物質(zhì)若能測(cè)定數(shù)個(gè)d及與其相對(duì)應(yīng)的衍射線的相對(duì)強(qiáng)度，則能對(duì)物質(zhì)進(jìn)行鑒定。黃山衍射儀代理費(fèi)用使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜。

衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解。但是，X射線衍射是因?yàn)閄射線與原子發(fā)生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向上的也有，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強(qiáng)很弱甚至為0的圖案、成為觀測(cè)區(qū)域內(nèi)的背景。X射線衍射儀特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)?；緲?gòu)造：X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩(wěn)定度X射線源　提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度?！皒射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器"。

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測(cè)器 1衍射儀進(jìn)展 衍射儀的進(jìn)展主要在三個(gè)方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測(cè)器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測(cè)器 探測(cè)器是用來(lái)記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會(huì)透過(guò)而不被吸收；它的計(jì)數(shù)線性范圍不大，強(qiáng)衍射不易測(cè)準(zhǔn)；而且，還會(huì)起“霧”；又由于要有暗室用化學(xué)法進(jìn)行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過(guò)程，因此被性能更好的光子計(jì)數(shù)器所取代。計(jì)數(shù)器探測(cè)器不需化學(xué)處理，可以通過(guò)電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方便了許多。初的計(jì)數(shù)器是蓋格計(jì)數(shù)器，但由于它的時(shí)間分辨率不高，計(jì)數(shù)的線性范圍不大，故不是一個(gè)良好的探測(cè)器。以后，正比計(jì)數(shù)器及閃爍計(jì)數(shù)器取代了蓋格計(jì)數(shù)器，成為普遍使用的探測(cè)器。隨著人類對(duì)自然的認(rèn)識(shí)越來(lái)越廣，越來(lái)越深，對(duì)實(shí)驗(yàn)的要求也越來(lái)越高，越多樣化，簡(jiǎn)單的正比或閃爍計(jì)數(shù)器亦不 能滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求，于是又陸續(xù)發(fā)展出許多不同的探測(cè)器。衍射儀的選材要求是什么？上海澤權(quán)告訴您。江蘇衍射儀代理服務(wù)

產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣

X射線衍射法，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí)。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉，通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多，分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)；根據(jù)測(cè)定結(jié)果，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿意。 浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣