絕緣不良是電氣設備失效和安全事故的常見原因。廣州維柯信息技術有限公司深知這一點,因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng),專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長時間使用或特定環(huán)境下可能會老化,導致表面電阻下降,進而影響整個系統(tǒng)的安全性。通過定期進行SIR測試,可以早期發(fā)現(xiàn)這些問題,及時采取措施,避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測試系統(tǒng),以其高度的自動化和智能化,能夠在各種條件下快速、準確地完成測試任務,**提高了檢測效率和準確性。對于制造商而言,這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強,也是對品牌信譽的有力背書。電阻測試結(jié)果的解讀需結(jié)合元件的標稱值及允許誤差范圍。湖南sir電阻測試以客為尊
線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素:無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度,還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物(包括助焊劑殘留物)。由于這種失效機制是動態(tài)變化的,理想狀況是對每種設計和裝配都進行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題:如何比較好地描述一個組件的電化學遷移傾向。表面電子組件的電化學遷移的發(fā)生機理取決于四個因素:銅、電壓、濕度和離子種類。當環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時,能夠與表面上的任何離子相互作用,使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應,它們在電壓的作用下,被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟:水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。湖南sir電阻測試以客為尊電阻測試不僅是硬件測試的一部分,也是系統(tǒng)集成測試的重要環(huán)節(jié)。
當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。
CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染,做好標記,用無污染手套移動樣品。做好預先準備,防止短路和開路。清潔后連接導線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進行預處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。采用特殊材料和工藝,如低CAF風險的樹脂基板,結(jié)合SIR監(jiān)測,提升PCB在惡劣環(huán)境下的可靠性和壽命。
電阻測試過程中的自動化和智能化水平仍有待提高。目前,許多電阻測試仍然依賴于人工操作,不僅效率低下,而且容易引入人為誤差。為了解決這個問題,科研人員正在開發(fā)智能電阻測試系統(tǒng),通過引入人工智能和大數(shù)據(jù)技術,實現(xiàn)測試過程的自動化和智能化。這些系統(tǒng)能夠自動識別和分類測試數(shù)據(jù),提高測試效率和準確性,同時降低人為誤差的風險。在電阻測試數(shù)據(jù)的處理和分析方面,也面臨著一些挑戰(zhàn)。由于測試數(shù)據(jù)的海量性和復雜性,傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理方法已經(jīng)難以滿足需求。為了解決這個問題,研究人員正在探索新的數(shù)據(jù)處理和分析技術,如機器學習和深度學習等。這些技術能夠從大量數(shù)據(jù)中提取有用的信息,提高數(shù)據(jù)分析的準確性和效率,為電阻測試的決策提供有力支持。監(jiān)測系統(tǒng)通過定期測量PCB的SIR值,可早期預警CAF,及時采取措施,如清洗、涂覆或更換材料,防止故障發(fā)生。廣西pcb絕緣電阻測試直銷價
常規(guī)電阻測試可通過四線法提高測量精度,減少引線電阻影響。湖南sir電阻測試以客為尊
當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn),但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會被環(huán)氧基板編織布所吸收,增強基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會增電化學遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學劑。湖南sir電阻測試以客為尊