浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-06-21

電阻測(cè)試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測(cè)試,提高工作效率。選擇電阻測(cè)試配件時(shí),首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要,因此需要選擇具有高精度的電阻測(cè)試配件。電阻測(cè)試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測(cè)試配件可以保證測(cè)試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對(duì)電阻測(cè)試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來(lái)說(shuō),具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng)

電阻測(cè)試

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽(yáng)極轉(zhuǎn)移),相對(duì)的電極還原成本來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以通過(guò)電阻值顯現(xiàn)出來(lái)。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試是通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn),觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。湖北SIR表面絕緣電阻測(cè)試原理提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備的供應(yīng)商來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。

浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng),電阻測(cè)試

這種生長(zhǎng)可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過(guò)大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長(zhǎng)的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過(guò)電沉積形成的。電沉積過(guò)程是從陽(yáng)極溶解電離子,由電場(chǎng)運(yùn)輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過(guò)程中,隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長(zhǎng)時(shí),稱為導(dǎo)電陽(yáng)極絲或CAF,本文中不會(huì)討論這種情況,但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí),它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長(zhǎng),比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測(cè)試??煽康碾娮咏M裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn),例如:熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測(cè)試每一種考驗(yàn)因素對(duì)系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來(lái)測(cè)試。這也就是說(shuō),測(cè)試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對(duì)象主要是各種測(cè)試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長(zhǎng)

必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過(guò)分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測(cè)試(包括破壞性實(shí)驗(yàn))。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測(cè)試,是通過(guò)對(duì)樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。

浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng),電阻測(cè)試

絕緣不良是電氣設(shè)備失效和安全事故的常見(jiàn)原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點(diǎn),因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng),專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長(zhǎng)時(shí)間使用或特定環(huán)境下可能會(huì)老化,導(dǎo)致表面電阻下降,進(jìn)而影響整個(gè)系統(tǒng)的安全性。通過(guò)定期進(jìn)行SIR測(cè)試,可以早期發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題,及時(shí)采取措施,避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測(cè)試系統(tǒng),以其高度的自動(dòng)化和智能化,能夠在各種條件下快速、準(zhǔn)確地完成測(cè)試任務(wù),**提高了檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性。對(duì)于制造商而言,這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強(qiáng),也是對(duì)品牌信譽(yù)的有力背書(shū)。智能電阻可以直接通過(guò)連接到計(jì)算機(jī)或移動(dòng)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試。貴州CAF電阻測(cè)試原理

除了基本的電阻測(cè)試功能外,智能電阻還可以提供其他附加功能。浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng)

CAF測(cè)試方法案例:1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。浙江pcb板電阻測(cè)試系統(tǒng)