江西離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽(yáng)極轉(zhuǎn)移），相對(duì)的電極還原成本來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現(xiàn)象（類(lèi)似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱(chēng)為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以通過(guò)電阻值顯現(xiàn)出來(lái)。表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試是通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)，觀察線(xiàn)路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過(guò)表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。傳統(tǒng)的電阻器件在測(cè)量電阻時(shí)可能存在一定的誤差。江西離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格

科技**未來(lái)，GWHR256為PCBA質(zhì)量把關(guān)》在追求零缺陷的電子制造行業(yè)中，預(yù)防總是優(yōu)于糾正。GWHR256系統(tǒng)憑借其高度智能化的設(shè)計(jì)，不僅能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)，還能通過(guò)自檢功能確保自身的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，為PCBA的生產(chǎn)過(guò)程加上了一道保險(xiǎn)鎖。在系統(tǒng)內(nèi)部，先進(jìn)的溫濕度監(jiān)測(cè)模塊，確保測(cè)試環(huán)境的恒定，排除外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾，讓每一次測(cè)試都準(zhǔn)確可靠?！经h(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)，操作便捷】考慮到實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境的多樣性，GWHR256系統(tǒng)設(shè)計(jì)有良好的環(huán)境適應(yīng)性，能在不同溫濕度條件下穩(wěn)定工作，且配備有不間斷電源配置，保證測(cè)試連續(xù)性。其操作界面友好，數(shù)據(jù)可視化直觀，無(wú)論是曲線(xiàn)展示還是Excel格式導(dǎo)出，都能輕松實(shí)現(xiàn)，為工程師提供高效、便捷的測(cè)試體驗(yàn)。廣東多功能電阻測(cè)試前景四線(xiàn)法（Four-Wire Method），也被稱(chēng)為Kelvin四線(xiàn)法或Kelvin連接法，是一種用于測(cè)量電阻的方法。

電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場(chǎng)與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機(jī)械開(kāi)封機(jī)械開(kāi)封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示，可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹(shù)枝狀結(jié)晶，由一端電極往另一端電極方向生長(zhǎng)，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1]，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。

銅鏡實(shí)驗(yàn)IPC-TM-650方法_2.3.32用來(lái)測(cè)試未加熱的助焊劑如何與銅反應(yīng)，也叫做助焊劑誘發(fā)腐蝕測(cè)試。本質(zhì)上講，就是滴一滴定量的助焊劑到涂敷了一層銅膜的玻璃片上，然后在特定環(huán)境中放置一段時(shí)間。這個(gè)環(huán)境接近室溫環(huán)境，相對(duì)濕度是50%。24小時(shí)后清理掉助焊劑，并在白色背景下觀察銅膜被腐蝕掉多少。腐蝕穿透銅膜的程度決定了助焊劑的活性等級(jí)，通常用L、M和H表示。銅板腐蝕實(shí)驗(yàn)IPC-TM-650方法2.6.15是用來(lái)測(cè)試極端條件下，助焊劑殘留物對(duì)銅的腐蝕性。助焊劑和焊料在銅板上加熱直到形成焊接。然后把銅板放置在一個(gè)溫度為40°C的潮濕環(huán)境，這樣可以加速助焊劑殘留物和銅可能發(fā)生的反應(yīng)。銅板需要在測(cè)試前和測(cè)試后仔細(xì)檢查其表面顏色的變化來(lái)確定是否有腐蝕的跡象。觀察結(jié)果通?？梢杂肔、M和H來(lái)表示腐蝕性的等級(jí)。一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說(shuō)明和操作手冊(cè)。

廣州維柯多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-500，通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)測(cè)試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測(cè)試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測(cè)試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測(cè)試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測(cè)量范圍1x106-1x1014Ω電阻測(cè)量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%測(cè)試間隔時(shí)間1-600分鐘（可設(shè)置）取值速度20mS/所有通道測(cè)試電壓穩(wěn)定時(shí)間1-600秒（可設(shè)置）高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護(hù)電流閾值5–500uA數(shù)據(jù)顯示數(shù)據(jù)可曲線(xiàn)顯示限流電阻1MΩ電源配置配置不間斷電源UPS測(cè)試線(xiàn)線(xiàn)材特氟龍鍍銀屏蔽線(xiàn)（≥1014?，200℃）長(zhǎng)度標(biāo)配3.5m操作系統(tǒng)Windows系統(tǒng)選配溫濕度監(jiān)測(cè)模塊不含windows操作系統(tǒng)，office軟件、數(shù)據(jù)庫(kù)選擇智能電阻時(shí)，用戶(hù)需要考慮精度和穩(wěn)定性。江蘇電阻測(cè)試市場(chǎng)

智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣，可以滿(mǎn)足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。江西離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-500，可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試樣品，觀察并記錄被測(cè)樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過(guò)曲線(xiàn)、表格的形式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理，客戶(hù)根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式，對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹(shù)脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測(cè)試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測(cè)試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測(cè)試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測(cè)試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測(cè)量范圍1x106-1x1014Ω電阻測(cè)量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。江西離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格