廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-26

1、保持測(cè)試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過5分鐘。表面絕緣阻抗(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度(包括加工、制造過程的殘留)。廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法

電阻測(cè)試

試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)(可以任意設(shè)定)低阻測(cè)試測(cè)試范圍1mΩ---103Ω測(cè)量精度±(1%RD+10μΩ)**小分辨率1μΩ測(cè)試電流0.05-3.00(A)測(cè)試速度≦0.5秒/通道測(cè)試時(shí)分組16通道/組,各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測(cè)試模式定時(shí)觸發(fā)、溫度觸發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)輸出圖表,EXCEL,TXT等格式,溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報(bào)警可設(shè)定配件測(cè)試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測(cè)0-4通道溫度監(jiān)測(cè)選件溫度范圍:-70℃~+200℃,精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試操作軟件,Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫由客戶自行購買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求,定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能湖南智能電阻測(cè)試發(fā)展在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。

廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法,電阻測(cè)試

為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施。首先,要保持PCB板的清潔。在制造過程中,要注意防止污染物的進(jìn)入,例如在操作過程中要戴手套,避免手部污染。其次,要選擇合適的材料。一些材料具有較好的絕緣性能,可以在PCB板的制造中使用。此外,還可以采用一些特殊的工藝,例如涂覆絕緣層或使用特殊的涂料,來提高PCB板的絕緣性能。PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法,用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。通過測(cè)量絕緣電阻,可以判斷PCB板的絕緣性能是否符合要求。為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施,例如保持清潔、選擇合適的材料和采用特殊的工藝。通過這些措施,可以提高PCB板的絕緣性能,確保電子產(chǎn)品的可靠性和安全性。復(fù)制

多功能電阻測(cè)試設(shè)備是一種集成了多種測(cè)試功能的設(shè)備,可以同時(shí)進(jìn)行多種電阻測(cè)試。它可以測(cè)量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個(gè)參數(shù),同時(shí)還可以進(jìn)行電阻的快速測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試等。這種設(shè)備的出現(xiàn),提高了電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性,為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代,對(duì)電阻測(cè)試設(shè)備的要求也越來越高。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試設(shè)備只能進(jìn)行簡(jiǎn)單的電阻測(cè)量,無法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測(cè)試需求。而多功能電阻測(cè)試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測(cè)試要求,包括手機(jī)、電腦、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域。因此,多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。

廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法,電阻測(cè)試

10、在500小時(shí)的偏壓加載后,可以進(jìn)行額外的T/H/B條件。然而,**少要進(jìn)行500小時(shí)加載偏置電壓的測(cè)試,來作為CAF測(cè)試的結(jié)果之一。11、在確定為CAF失效之前,應(yīng)該確認(rèn)連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區(qū)域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測(cè)試線纜的線路切斷。所有的測(cè)試結(jié)束后,如果發(fā)現(xiàn)某塊測(cè)試板連接線兩端的電阻確實(shí)小于菊花鏈區(qū)域的電阻,那么這塊測(cè)試板就不能作為數(shù)據(jù)分析的依據(jù)。常規(guī)結(jié)果判定:1.96小時(shí)靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆,即判定樣本失效;2.當(dāng)**終測(cè)試絕緣電阻R2<108歐姆,或者在測(cè)試過程中有3次記錄或以上出現(xiàn)R2<108歐姆即判定樣本失效。除了基本的電阻測(cè)試功能外,智能電阻還可以提供其他附加功能。廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法

在電子設(shè)備領(lǐng)域,表面阻抗測(cè)試SIR測(cè)試被認(rèn)為是評(píng)估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評(píng)估手段。廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法

AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程;從產(chǎn)生的條件來看(都需要符合下面3個(gè)條件):電解液環(huán)境,即濕度與離子(Electrolyte–humidityandionicspecies);施加偏壓(Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction);存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷,或線與線間存在雜物等;(“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode;Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects);加劇其產(chǎn)生的條件類似:高濕環(huán)境(Highhumidityrate);高電壓(HigherVoltagelevels);高溫環(huán)境(Highertemperature);廣西表面絕緣電阻測(cè)試方法