廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試

離子遷移絕緣電阻測試廣泛應用于電子產品制造和質量控制過程中。它可以用于檢測電子元器件、印刷電路板、電子設備外殼等材料的質量。通過測試，可以及時發(fā)現材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常，從而采取相應的措施進行修復或更換，確保電子產品的質量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗、電壓加速試驗和絕緣電阻測量。濕度試驗是將材料置于高濕度環(huán)境中，通過觀察離子遷移現象來評估材料的質量。電壓加速試驗是在高電壓條件下進行離子遷移測試，以加速離子遷移速率，從而更快地評估材料的質量。絕緣電阻測量是通過測量材料的絕緣電阻值來評估材料的絕緣性能。用戶需要根據待測電阻的范圍選擇合適的智能電阻。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試

離子遷移的兩大階段離子遷移發(fā)生的主因是樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間一旦出現間隙（Gap）后，又在偏壓驅動之下，使得銅鹽獲得可移動的路徑后，于是CAF就進一步形成了。離子遷移的發(fā)生可分為兩階段：STEPl是高溫高濕的影響下，使得樹脂與玻纖之間的附著力出現劣化，并促成玻纖表面硅烷處理層產生水解，進而形成了對銅金屬腐蝕的環(huán)境。STEP2則已出現了銅腐蝕的水解反應，并形成了銅鹽的沉積物，已到達不可逆反應，其反應式如下：東莞SIR表面絕緣電阻測試服務離子在單位強度(V/m)電場作用下的移動速度稱之為離子遷移率，它是分辨被測離子直徑大小的一個重要參數。

一個的電阻測試設備供應商還可以提供定期的培訓和維修服務。定期的培訓可以幫助用戶了解設備的功能和使用技巧，提高他們的操作水平。維修服務可以幫助用戶解決設備的故障和維護問題，延長設備的使用壽命。供應商可以在全國范圍內設立維修中心，為用戶提供快速的維修服務。還可以通過建立在線社區(qū)或論壇來促進用戶之間的交流和互助。用戶可以在社區(qū)中分享使用經驗、解決問題的方法等。供應商的技術支持團隊也可以在社區(qū)中回答用戶的問題，提供幫助和建議。這種方式不僅可以提高用戶的滿意度，還可以增加供應商的品牌影響力。

8、在整個測試過程中，建議每24到100個小時需要換用另外的電阻檢測器，確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中，為了保證測試的準確性，如果觀察到周期性的電阻突降，也應該被算作一次失效。因為陽極導電絲是很細的，很容易被破壞掉。當50%的部分已經失效了，測試即可停止。當CAF發(fā)生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網絡的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。在電子設備領域，表面阻抗測試SIR測試被認為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。

絕緣電阻測量:-偏置電壓:100V+2V-測量電壓為100v時無極化變化-**小時間斜坡到100V=2秒-測量時間=60秒-被測樣品應與其他樣品電隔離限流電阻:**小1mohm與PCB串聯在線測試程序：1）PCB干燥后立即進行絕緣電阻測量;2）將樣品放入環(huán)境測試箱，并連接到在線測量設備。在試驗結束前，不能取出樣品，也不能打開試驗箱。（***組數據）3）施加溫度至85℃(持續(xù)時間3小時)，然后施加濕度至85%的相對濕度(持續(xù)時間另一個3小時)，沒有偏置電壓（第二組數據）。在85℃，85%濕度下放置96小時后，測量絕緣電阻為IR初始值（第三組數據）4）開始輸出偏置電壓100V-標記為0小時，開始試驗;其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。廣州CAF電阻測試原理

選擇智能電阻時，用戶需要根據具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產品。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試

試驗通道數1-256通道試驗時間0---9999小時（可以任意設定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時分組16通道/組，各組所有參數可以**設置高、低溫區(qū)限值可分別任意設置電阻測試模式定時觸發(fā)、溫度觸發(fā)測試數據輸出圖表，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報警可設定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃，精度±1℃*本系統只提供自有版權的導通電阻實時監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統、MS-office軟件及相關數據庫由客戶自行購買*該系統可根據客戶的不同需求，定制特殊要求以實現更多功能廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試