江蘇表面絕緣SIR電阻測試原理

從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進行微觀條件下的分析；ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來越多的產(chǎn)品被要求進行ECM/SIR/CAF測試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因為這些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管，導(dǎo)致ECM或CAF的生成，便會造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙；藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度（防焊前處理），這些對絕緣劣化影響很大的項目，可以大幅提升高密度電路板的信賴性。防止發(fā)生離子遷移故障的一個重要措施當然是要保持使用環(huán)境的干燥。江蘇表面絕緣SIR電阻測試原理

8、在整個測試過程中，建議每24到100個小時需要換用另外的電阻檢測器，確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中，為了保證測試的準確性，如果觀察到周期性的電阻突降，也應(yīng)該被算作一次失效。因為陽極導(dǎo)電絲是很細的，很容易被破壞掉。當50%的部分已經(jīng)失效了，測試即可停止。當CAF發(fā)生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。湖南sir電阻測試系統(tǒng)解決方案除了基本的電阻測試功能外，智能電阻還可以提供其他附加功能。

NO.3PCB制程鉆孔鉆孔參數(shù)不當或鉆針研磨次數(shù)太多會導(dǎo)致孔壁表面凹凸起伏大。在化學(xué)濕加工過程中，表面凹陷之處易聚集或包覆金屬鹽類溶液，易滲入到薄弱結(jié)合部的細微裂縫中，從而導(dǎo)致出現(xiàn)CAF的可靠性問題。因此需選擇較合適的鉆孔參數(shù)和較新的鉆針，以確保鉆孔的質(zhì)量。除膠渣除膠渣若參數(shù)選擇不當，除膠不凈會影響電鍍的質(zhì)量，增加CAF失效的機會。因此根據(jù)不同類型材料需選擇合適的除膠參數(shù)。壓合需要選擇合適的壓合程序，尤其是多層板要注意層壓參數(shù)的匹配性，確保壓合的質(zhì)量。

導(dǎo)電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重，究其原因，是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。HAST測試是目前所有半導(dǎo)體公司等行業(yè)對芯片等器件測試的標準測試之一。

一、產(chǎn)品特點1．**溫度監(jiān)測系統(tǒng)，使測試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗箱。2．采用高可靠性、高精度的測試儀器，并經(jīng)過CE認證，在計量方面均可溯源到國際標準。3．面向用戶開發(fā)的測試軟體，充分滿足不同用戶的獨特要求，使測試軟體的操作介面更完善、更方便。4．模組式的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，使維修方便、快捷；具有良好的可擴展性。5．采用反應(yīng)時間小于3毫秒并且壽命高達1000萬次的開關(guān)控制系統(tǒng)，確保測試的可靠性。6．**的UPS供電系統(tǒng)，使測試系統(tǒng)能夠保證測試資料的可靠性，可以保證在突然斷電時測量資料不丟失。7.細小的模塊外接插頭，使每個插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗的通孔。二、設(shè)計原理導(dǎo)通電阻的測試方式是先對被測物體施加一個恒定直流電流，再準確測量出該被測物上的電壓，根據(jù)歐姆定律換算出電阻值；對于測試小電阻時，由于測試引線上存在一定的電阻，該引線電阻會嚴重影響到測量的精度，為此，需要通過四線測試模式來達到在測試過程中消除引線電阻所帶來的測試誤差。表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時間的試驗。陜西SIR絕緣電阻測試

一個的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細的產(chǎn)品說明和操作手冊。江蘇表面絕緣SIR電阻測試原理

PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點場、熱能、機械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下，電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。江蘇表面絕緣SIR電阻測試原理