江西SIR和CAF電阻測(cè)試咨詢

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-03

   定義CAF又稱導(dǎo)電性陽(yáng)極絲,是指印刷電路板電極間由于吸濕作用,吸附水分后加入電場(chǎng)金屬離子沿玻纖紗從一金屬電極向另一金屬電極移動(dòng)時(shí),分析出金屬與化合物的現(xiàn)象。CAF現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化。背景當(dāng)前,無(wú)論是多層板的層數(shù)還是通孔的孔徑,無(wú)論是布線寬度還是線距,都趨于細(xì)微化。由于絕緣距離的縮短以及電子設(shè)備便攜化的影響,導(dǎo)致電路板容易發(fā)生吸濕現(xiàn)象,進(jìn)而發(fā)生離子遷移。同時(shí),當(dāng)電路板發(fā)生離子遷移后,短時(shí)間內(nèi)極易產(chǎn)生故障。待測(cè)PCB其正負(fù)兩極間絕緣距離之規(guī)格分別為:兩通孔銅壁間的距離為(26mil)孔銅壁到內(nèi)層**近銅導(dǎo)體的距離為()孔環(huán)到外層**近導(dǎo)體的距離為()。 ,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無(wú)法加以確定。江西SIR和CAF電阻測(cè)試咨詢

電阻測(cè)試

在電子產(chǎn)品的制造和維修過程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問題。PCB絕緣電阻測(cè)試設(shè)備傳統(tǒng)的電阻器件在測(cè)量電阻時(shí)可能存在一定的誤差。

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電阻測(cè)試是一種常見的電子測(cè)試方法,用于測(cè)量電路中的電阻值。在電子設(shè)備制造和維修過程中,電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。然而,由于電阻測(cè)試設(shè)備的復(fù)雜性和使用技巧的要求,很多用戶在使用過程中會(huì)遇到各種問題。因此,提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備的供應(yīng)商來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說(shuō)明和操作手冊(cè)。這些文檔應(yīng)該包含設(shè)備的基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。用戶可以通過閱讀這些文檔來(lái)了解設(shè)備的功能和使用方法,從而更好地使用設(shè)備。此外,供應(yīng)商還可以提供在線視頻教程,幫助用戶更直觀地了解設(shè)備的使用方法。

Sir電阻測(cè)試是一種常用的電阻測(cè)試方法,它可以用來(lái)測(cè)量電路中的電阻值。在電子工程領(lǐng)域中,電阻是一種常見的電子元件,它用來(lái)限制電流的流動(dòng)。因此,了解電路中的電阻值對(duì)于電子工程師來(lái)說(shuō)非常重要。Sir電阻測(cè)試是一種非接觸式的測(cè)試方法,它利用電磁感應(yīng)原理來(lái)測(cè)量電路中的電阻值。這種測(cè)試方法不需要直接接觸電路,因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí),Sir電阻測(cè)試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以更加快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備的供應(yīng)商來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。

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在進(jìn)行電阻測(cè)試時(shí),需要注意一些關(guān)鍵的因素,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。首先,測(cè)試儀器的選擇非常重要,應(yīng)選擇具有高精度和穩(wěn)定性的測(cè)試儀器。其次,測(cè)試環(huán)境的控制也很重要,應(yīng)盡量避免干擾和噪聲的影響。,測(cè)試方法的選擇也需要根據(jù)具體的測(cè)試需求進(jìn)行,以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性,電阻測(cè)試是電子工程中不可或缺的一部分。不同的電阻測(cè)試方法適用于不同的測(cè)試需求,可以幫助工程師評(píng)估電路性能和改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)。在進(jìn)行電阻測(cè)試時(shí),需要注意測(cè)試儀器的選擇、測(cè)試環(huán)境的控制和測(cè)試方法的選擇,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。希望本文對(duì)讀者了解電阻測(cè)試種類和應(yīng)用有所幫助。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)。江西SIR和CAF電阻測(cè)試咨詢

防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥。江西SIR和CAF電阻測(cè)試咨詢

從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷;而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度,故越來(lái)越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試,如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導(dǎo)致ECM或CAF的生成,便會(huì)造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對(duì)絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目,可以大幅提升高密度電路板的信賴性。江西SIR和CAF電阻測(cè)試咨詢