AF與ECM/SIR都是一個電化學(xué)過程;從產(chǎn)生的條件來看(都需要符合下面3個條件):電解液環(huán)境,即濕度與離子(Electrolyte–humidityandionicspecies);施加偏壓(Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction);存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷,或線與線間存在雜物等;(“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode;Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects);加劇其產(chǎn)生的條件類似:高濕環(huán)境(Highhumidityrate);高電壓(HigherVoltagelevels);高溫環(huán)境(Highertemperature);印刷電路板的電極之間會出現(xiàn)離子轉(zhuǎn)移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。廣西制造電阻測試發(fā)展
耐CAF評估樣品制作影響因素&建議:因CAF產(chǎn)生的條件是處于有金屬鹽類與潮濕并存的情況下,由于電場驅(qū)動,離子沿著玻璃纖維與樹脂界面遷移而發(fā)生。因此,**根本的措施是讓玻璃纖維與樹脂界面致密而牢固的結(jié)合在一起,不存在任何隙縫。同時,減低樹脂的吸水率,進一步提高材料的耐CAF能力。導(dǎo)致樣品的CAF產(chǎn)生因素有如下:﹒PCB板由于不良玻璃質(zhì)處理、壓層缺陷、機械應(yīng)力、熱應(yīng)力或耐化學(xué)性差,鉆孔后引起壓層界面削弱或破壞.溫度和濕度***了壓層缺陷反應(yīng)(可能有濕度閥值).pH值梯度促進CAF形成.導(dǎo)體間電壓梯度低至3伏到可能800伏.某些焊劑成分(聚乙二醇)或加工過程中產(chǎn)生的其它離子污染物江西制造電阻測試售后服務(wù)與其它方法比較,SIR的優(yōu)點是除了可偵測局部的污染之外,還可以測量離子與非離子污染物對PCB可靠性的影響。
溫度電阻測試是一種特殊的電阻測試方法,用于測量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時會發(fā)生變化,這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導(dǎo)致的。溫度電阻測試可以通過在待測電阻上施加一個恒定的電流或電壓,然后測量電路中的溫度來計算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測試廣泛應(yīng)用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準確性。還有一些其他的電阻測試方法,例如噪聲電阻測試、頻率電阻測試等。噪聲電阻測試用于測量電阻中的噪聲水平,以評估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測試用于測量電阻在不同頻率下的變化,以評估電路的頻率響應(yīng)特性。這些電阻測試方法在特定的應(yīng)用場景中具有重要的意義,可以幫助工程師優(yōu)化電路設(shè)計和改進產(chǎn)品性能。
為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施。首先,要保持PCB板的清潔。在制造過程中,要注意防止污染物的進入,例如在操作過程中要戴手套,避免手部污染。其次,要選擇合適的材料。一些材料具有較好的絕緣性能,可以在PCB板的制造中使用。此外,還可以采用一些特殊的工藝,例如涂覆絕緣層或使用特殊的涂料,來提高PCB板的絕緣性能。PCB離子遷移絕緣電阻測試是一項重要的測試方法,用于評估PCB板的絕緣性能。通過測量絕緣電阻,可以判斷PCB板的絕緣性能是否符合要求。為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施,例如保持清潔、選擇合適的材料和采用特殊的工藝。通過這些措施,可以提高PCB板的絕緣性能,確保電子產(chǎn)品的可靠性和安全性。復(fù)制系統(tǒng)測試可在IPC標準規(guī)定的環(huán)境條件下對試驗樣品進行高效、準確的絕緣電阻測試和漏電流監(jiān)測!
表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。根據(jù)客戶實際需求定制,比如接入對應(yīng)ERP系統(tǒng)。廣西制造電阻測試發(fā)展
SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:變更助焊劑和/或錫膏。廣西制造電阻測試發(fā)展
從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過放大鏡進行直觀的判斷;而CAF只能通過破壞性的切片進行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度,故越來越多的產(chǎn)品被要求進行ECM/SIR/CAF測試,如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因為這些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導(dǎo)致ECM或CAF的生成,便會造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對絕緣劣化影響很大的項目,可以大幅提升高密度電路板的信賴性。廣西制造電阻測試發(fā)展