湖南國內(nèi)電阻測試以客為尊

來源: 發(fā)布時間:2023-06-23

CAF形成過程:1、常規(guī)FR4 P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問題1) 樹脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳 ;2) 玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良 ;3) 樹脂之硬化劑不良,容易吸水 ;4) 膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實填飽  造成氣泡殘存。SIR測試參考標(biāo)準(zhǔn):JIS Z 3197 Test methods for soldering fluxes釬焊熔劑的試驗方法。湖南國內(nèi)電阻測試以客為尊

電阻測試

電阻表面枝晶狀遷移物SEM放大形貌和EDS能譜分析見圖2所示,枝晶狀遷移物由一端電極往另一端電極方向生長,圖2(b)EDS測試結(jié)果表明枝晶狀遷移物主要含有Sn,Pb等元素,局部區(qū)域存在Cl元素,此產(chǎn)品生產(chǎn)中采用的SnPb焊料為Sn63Pb37,說明SnPb焊料中的Sn,Pb金屬元素發(fā)生電化學(xué)遷移導(dǎo)致枝晶的生長,連通電阻兩極,導(dǎo)致電阻短路失效。對失效電阻樣品表面遷移物區(qū)域和原工藝生產(chǎn)用SnPb焊料取樣進(jìn)行離子色譜分析,所得的結(jié)果如表1所示。從表1中可以得出失效電阻表面存在Cl-的含量為1.403mg/cm2。目前行業(yè)內(nèi)為避免印刷電路板發(fā)生腐蝕和電化學(xué)遷移而導(dǎo)致失效,控制表面殘留的Cl-含量不高于0.5mg/cm2。但本案中的失效樣品表面所測的Cl-含量明顯超出了行業(yè)規(guī)范的要求,Cl-可以誘導(dǎo)陽極金屬表面鈍化膜的破裂,誘發(fā)局部腐蝕。廣西銷售電阻測試系統(tǒng)解決方案SIR測試對象:PCB軟板、助焊劑、清洗劑 、錫膏、錫渣還原劑。

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為SAC305開發(fā)了加熱曲線,其熔點范圍為217–220°C。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線,分別為標(biāo)準(zhǔn)回流曲線、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線、自然冷卻條件下的較低峰值曲線,以及延長冷卻條件下的低峰值曲線。圖4中所示的爐溫曲線是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線,和由電偶測量的返工臺的曲線。返修工位曲線升溫時間更短,為了便于峰位和TAL的比較,對溫度曲線進(jìn)行了輕微的偏移。為SAC305開發(fā)了加熱曲線,其熔點范圍為217–220°C。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線,分別為標(biāo)準(zhǔn)回流曲線、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線、自然冷卻條件下的較低峰值曲線,以及延長冷卻條件下的低峰值曲線。圖4中所示的爐溫曲線是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線,和由電偶測量的返工臺的曲線。返修工位曲線升溫時間更短,為了便于峰位和TAL的比較,對溫度曲線進(jìn)行了輕微的偏移。

金屬離子在陰極沉積過程在陰極區(qū),陽極溶解生成的金屬離子(主要為錫離子和鉛離子)在電場的作用下,在電解液中遷移到陰極得到電子直接生成金屬單質(zhì);或者與陰極生成的氫氧根離子相遇而生成氫氧化物的沉淀物,氫氧化物的沉淀物發(fā)生脫水分解為氧化物,氧化物繼續(xù)還原為金屬單質(zhì)。伴隨著枝晶的生長過程,陰極區(qū)還發(fā)生的反應(yīng)為電解質(zhì)中溶解氧氣的還原反應(yīng)及水的還原反應(yīng),反應(yīng)方程式如下:Pb2++2e-→PbSn2++2e-→SnSn4++4e-→SnO2+2H2O+4e-→4OH-2H2O+2e-→H2+2OH-Pb2++2OH-→Pb(OH)2→PbO+H2OSn2++2OH-→Sn(OH)2→SnO+H2OSn4++4OH-→Sn(OH)4→SnO2+2H2O為建立可抑制電化學(xué)遷移中陰極還原沉積過程,可能的有效途徑為可以在陰極表面添加不同的活性劑,使陰極沉積物由樹枝狀結(jié)構(gòu)變?yōu)榉稚⒃陉帢O表面,由此可有效避免由樹枝狀枝晶的生長而造成的短路失效。根據(jù)客戶實際需求定制,比如接入對應(yīng)ERP系統(tǒng)。

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測量電阻。采用50V的直流偏置電壓,用100V的測試電壓測試每塊板的菊花鏈網(wǎng)絡(luò)的絕緣電阻前至少充電60S的時間。偏置電壓的極性和測試電壓的極性必須隨時保持一致。4、在初始的絕緣電阻測量后關(guān)閉測試系統(tǒng),使樣品在65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH、無偏壓的環(huán)境下靜置96個小時(±30分鐘)。96個小時(±30分鐘)的靜置期后,在每個菊花鏈網(wǎng)絡(luò)和地之間測試絕緣電阻。5、確認(rèn)所有的測試樣品的連接是有效的,每個測試電路對應(yīng)適當(dāng)?shù)南蘖麟娮?。然后將測試板與電源相連開始進(jìn)行T/H/B部分的CAF測試。廣州維柯信息技術(shù)有限公司的高低阻(CAF/TCH)測試系統(tǒng)可以做到與其它方法比較,SIR的優(yōu)點是除了可偵測局部的污染之外,還可以測量離子與非離子污染物對PCB可靠性的影響。貴州sir電阻測試誠信合作

實現(xiàn)多通道電流同時采集,實時監(jiān)控測試樣品離子和材料絕緣劣化過程。湖南國內(nèi)電阻測試以客為尊

    類型1~2000V通道數(shù)16-256測試組數(shù)1-16組工作時間1-9999小時偏置電壓1-2000VDC(步進(jìn))測試電壓1-2000VDC(步進(jìn))電阻測量范圍1x104-1x1014Ω電阻測量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%測試間隔時間1-600分鐘測試速度20mS/所有通道測試電壓穩(wěn)定時間1-600秒(可設(shè)置)高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護(hù)電流閥值5–500uA保護(hù)電阻1MΩ測試電纜線材耐高溫特氟綸線(≧1014Ω,200℃)長度標(biāo)配,office軟件、數(shù)據(jù)庫GWHR-256產(chǎn)品優(yōu)勢:1、精度高:優(yōu)于同業(yè)產(chǎn)品;2、測試速度快:20ms/所有通道;3、結(jié)構(gòu)、配置靈活:板卡設(shè)計,可選擇16路*N(1≥N≤16);4、測試配置靈活:每組板卡可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多任務(wù)測試;5、容錯機制強:任何一組板卡發(fā)生故障不影響其它通道的正常測試;6、接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實驗室LIMS系統(tǒng);7、操作方便:充分考慮實驗室應(yīng)用場景,方便工程師實施工作。 湖南國內(nèi)電阻測試以客為尊

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