浙江多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)價格

來源: 發(fā)布時間:2022-03-14

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是一種應用雙波長的微波光子頻率測量設備,以及一種微波光子頻率測量設備的校正方法和基于此設備的微波頻率測量方法。在微波光子頻率測量設備中,本發(fā)明采用獨特的雙環(huán)耦合硅基光子芯片結(jié)構,可以形成兩個不同深度的透射譜線。該系統(tǒng)采用一定的校準方法,預先得到微波頻率和兩個電光探測器光功率比值的函數(shù),測量過程中,得到兩個電光探測器光功率比值后,直接采用查表法得到微波頻率。該系統(tǒng)將多個光學器件集成在硅基光學芯片上,從整體上減小了設備的體積,提高系統(tǒng)的整體可靠性。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:穩(wěn)定性好,精度高。浙江多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)價格

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硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:1、使用微調(diào)架將光纖端面與模斑變換器區(qū)域精確對準,調(diào)節(jié)至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;2、將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結(jié)構,具有模斑變換器;通過圖像系統(tǒng),微調(diào)架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側(cè)面緊挨光纖并固定在基板上;3、硅光芯片的輸入端和輸出端分別粘貼墊塊并支撐光纖未剝除涂覆層的部分。貴州老化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪家好硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸線更好等特點。

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測試是硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的主要作用,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要是用整機模擬一個實際使用的環(huán)境,測試設備在無線環(huán)境下的射頻性能,重點集中在天線附近一塊,即檢測天線與主板之間的匹配性。因為在天線硅光芯片耦合測試系統(tǒng)之前(SMT段)已經(jīng)做過相應的測試,所以可認為主板在射頻頭之前的部分已經(jīng)是好的了,剩下的就是RF天線、天線匹配電路部分,所以檢查的重點就是天線效率、性能等項目。通常來說耦合功率低甚至無功率的情況大多與同軸線、KB板和天線之間的裝配接觸是否良好有關。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)耦合掉電,是在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發(fā)電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現(xiàn)象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統(tǒng)過程中,點擊HQ_CFS的“開始”按鈕進行測試時一定要等到“請稍后”出現(xiàn)后才能插上USB進行硅光芯片耦合測試系統(tǒng),否則就會出現(xiàn)耦合充電,若測試失敗,可重新插拔電池再次進行測試,排除以上操作手法沒有問題后,還是出現(xiàn)充電現(xiàn)象,則是耦合驅(qū)動的問題了,若識別不到端口則是測試用的數(shù)據(jù)線損壞的緣故。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:高速性能。

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硅光芯片耦合測試系統(tǒng)組件裝夾完成后,通過校正X,Y和Z方向的偏差來進行的初始光功率耦合,圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,然后軟件驅(qū)動運動控制系統(tǒng)和運動平臺來補償偏差,以及給出提示,繼續(xù)手動調(diào)整角度滑臺。當三個器件完成初始定位,同時確認其在Z軸方向的相對位置關系后,這時需要確認輸入光纖陣列和波導器件之間光的耦合對準。點擊找初始光軟件會將物鏡聚焦到波導器件的輸出端面。通過物鏡及初始光CCD照相機,可以將波導輸出端各通道的近場圖像投射出來,進行適當耦合后,圖像會被投射到顯示器上。波導的傳輸性能好,因為硅光材料的禁帶寬度更大,折射率更高,傳輸更快。河南老化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)報價

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伴隨著光纖通信技術的快速發(fā)展,小到芯片間,大到數(shù)據(jù)中心間的大規(guī)模數(shù)據(jù)交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯(lián)。目前,主流的光互聯(lián)技術分為兩類。一類是基于III-V族半導體材料,另一類是基于硅等與現(xiàn)有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料?;贗II-V族半導體材料的光互聯(lián)技術,在光學性能方面較好,但是其成本高,工藝復雜,加工困難,集成度不高的缺點限制了未來大規(guī)模光電子集成的發(fā)展。硅光芯片器件可將光子功能和智能電子結(jié)合在一起以提供潛力巨大的高速光互聯(lián)的解決方案。浙江多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)價格