北京測(cè)厚相控陣探頭批發(fā)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-12-17

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別:晶片數(shù)量:較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片,有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng),同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大,然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì),以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱(chēng)為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率:超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。用戶對(duì)相控陣探頭的類(lèi)型選擇需要考慮到被測(cè)材料的檢測(cè)速度。北京測(cè)厚相控陣探頭批發(fā)

相控陣探頭的類(lèi)型:根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類(lèi)型。在具體應(yīng)用中,被測(cè)材料的特性例如:表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等,都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類(lèi)型的選擇。尺寸:尺寸是指開(kāi)啟探頭晶片的直徑,或者晶片的長(zhǎng)度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率:頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù),通常用千赫(kHz)或兆赫(MHz)表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行,因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過(guò),用戶也可以買(mǎi)到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低,穿透力越強(qiáng);頻率越高,那么分辨力和聚焦力度越高。北京測(cè)厚相控陣探頭批發(fā)較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片。

對(duì)相控陣延遲的理解:相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成,延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束,各角度的聲束經(jīng)過(guò)楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間,紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過(guò)程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù),但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差,楔塊磨損,掃查角度,耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應(yīng)用在醫(yī)療領(lǐng)域,從上個(gè)世紀(jì)80年代起,超聲相控陣技術(shù)開(kāi)始應(yīng)用到核電領(lǐng)域。20多年以來(lái),超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應(yīng)用范圍越來(lái)越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設(shè)備價(jià)格的不斷下降、人員培訓(xùn)規(guī)模的日益擴(kuò)大以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的逐步建立與完善,工業(yè)相控陣技術(shù)的應(yīng)用會(huì)越來(lái)越普及。

相控陣探頭的應(yīng)用:超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合,由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列,然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片,所有晶片發(fā)射的超聲波相控陣形成一個(gè)整體波陣面,能有效地控制發(fā)射超聲束(波陣面)的形狀和方向,能實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波相控陣束,通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間,改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系,實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化,從而實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電子掃描相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)圖像成像。相控陣探頭的近場(chǎng)是指接近探頭的區(qū)域。

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別:類(lèi)型:大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型,與塑料楔塊、平直塑料靴(即零度楔塊)或延遲塊一起使用。此外,還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。相控陣探頭的頻率:超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸:隨著晶片寬度的減小,聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng),但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片,因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭普遍應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中。山東線陣相控陣探頭品牌

常規(guī)縱波超聲相控陣探頭工作的方式如同可發(fā)出高頻機(jī)械振動(dòng)的活塞。北京測(cè)厚相控陣探頭批發(fā)

相控陣探頭的波形持續(xù):波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。窄帶寬探頭要比寬帶寬探頭生成的波動(dòng)周期數(shù)量多。晶片直徑、基底材料、電子調(diào)諧、探頭激勵(lì)的方式都會(huì)影響波形持續(xù)。帶寬:帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。在這種情況下,應(yīng)該注意的是典型的NDT探頭不會(huì)生成獨(dú)特頻率的聲波,而只能在以額定的頻率值為中心的頻率范圍內(nèi)生成聲波。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將這個(gè)帶寬確定在–6dB(或半波幅)的位置處。靈敏度:靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。北京測(cè)厚相控陣探頭批發(fā)

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