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我們可以將這種較簡單的相控陣探頭的排列形式想象成包裝為一體的一系列單個晶片,實際情況是這些晶片要比常規(guī)探頭小得多,脈沖可以對這些被編成組的晶片進行激勵,以產(chǎn)生可直接進行控制的波前。這種“電子聲束形成”的方式可以在不移動探頭的情況下高速對多個檢測區(qū)域進行檢測與分析。相控陣探頭可以有各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量,所有這些探頭的共同特點是都裝有一個被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復合材料構(gòu)建,具體地說就是許多細小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會復雜一些,但是與在其它方面設計相似的壓電陶瓷探頭相比,這種復合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會高出10dB到30dB。分成小段的金屬鍍層用于將條狀的復合材料分割成若干可單獨接收電子脈沖激勵的晶片個體。這個被分割成小段的晶片被裝入探頭組合件中。探頭組合件包含一個保護性匹配層、一個背襯層、線纜連接器以及一個外殼。大多數(shù)工業(yè)相控陣檢測在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進行。河南水楔塊相控陣探頭采購
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別:晶片數(shù)量:較常用的相控陣探頭一般有16到128個晶片,有些探頭的晶片多達256個。隨著晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會增強,同時檢測所覆蓋的區(qū)域也會擴大,然而探頭和儀器的成本費用也會增加。每個晶片被單獨脈沖激勵,以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率:超聲缺陷探測一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會隨著頻率的升高而增強。工業(yè)相控陣探頭求購由相控陣探頭產(chǎn)生的聲波會沿直線傳播,直到遇到材料介質(zhì)的邊緣。
相控陣探頭的應用技術(shù):非垂直界面的反射和模式轉(zhuǎn)換:當在某種材料中傳播的聲波遇到一個介質(zhì)不同且與聲波傳播方向成一定角度(角度不為零)的材料時,聲能的一部分會以與入射角度相同的角度反射。與此同時,另一部分在第二種材料中傳播的聲能會根據(jù)斯涅爾定律產(chǎn)生折射。如果第二介質(zhì)的聲速高于第1介質(zhì),則在超出某些特定的角度時,折射現(xiàn)象還會伴有模式轉(zhuǎn)換,常見的轉(zhuǎn)換為縱波模式轉(zhuǎn)換為橫波模式。普遍應用的角度聲束檢測技術(shù)就是基于這個現(xiàn)象。隨著在第1個較慢介質(zhì)(如:楔塊或水)中入射角度的增加,在第二個較快介質(zhì)(如:金屬)中的折射縱波角度也會相應增加。當折射縱波角度接近90度時,越來越多的聲能被轉(zhuǎn)換為以斯涅爾定律規(guī)定的角度折射的、聲速較低的橫波。
相控陣探頭的應用技術(shù):超聲相控陣系統(tǒng)可被用于幾乎任何在傳統(tǒng)意義上可以使用常規(guī)超聲探傷儀的檢測應用中。焊縫檢測和裂縫探測為兩項重要的應用,因為在包括航空航天、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應、輸運管線建造與維護、結(jié)構(gòu)金屬,以及一般制造業(yè)在內(nèi)的各種工業(yè)領域中都會用到這兩項檢測。相控陣技術(shù)還可有效地用于腐蝕測量應用,以縱剖面圖形式表現(xiàn)材料的剩余壁厚。相控陣技術(shù)優(yōu)于常規(guī)超聲技術(shù)之處在于它可以使用單個探頭組合件中的多個晶片使聲束進行偏轉(zhuǎn)、聚焦和掃查。相控陣探頭的聲波散射程度會隨頻率的更加而增強。
相控陣探頭的應用技術(shù):在實際超聲NDT應用中,通常的做法是測量出衰減系數(shù),而不是計算出衰減系數(shù)。在任何介質(zhì)中,較高的頻率都會比較低的頻率衰減得更快,因此在檢測具有高衰減系數(shù)的材料時,通常使用較低的檢測頻率,如對低密度的塑料和橡膠的檢測。垂直界面的反射與透射:當在某種介質(zhì)中傳播的聲波遇到介質(zhì)不同且與聲波傳播方向垂直的材料時,聲能的一部分會被直接反射回來,另一部分會繼續(xù)向前傳播。這種反射與透射的比率與兩種材料各自的聲阻抗相關(guān),而聲阻抗被定義為材料密度乘以聲速。相控陣探頭的聲波散射情況會根據(jù)波長對晶粒邊界大小的比率發(fā)生變化。福建超聲相控陣探頭銷售
相控陣探頭的聲波散射情況會對其它散射體的比率發(fā)生變化。河南水楔塊相控陣探頭采購
相控陣探頭能影響檢測性能的參數(shù)有哪些?斜探頭前沿距離是從斜探頭人射點到探頭底面前端的距離,此值在實際探測時可用來在工件表面上確定缺陷距探頭前端的水平投影距離。波束折射角(K值)表示經(jīng)折射透入工件的波束中心軸線與從人射點引出的工件表面法線之間的夾角(或折射角正切值),與探頭上標稱折射角有一定誤差。K值系列斜探頭用K值(折射角正切值)表示。時基線性是表示超聲波相控陣探傷儀對距離不同的反射體所產(chǎn)生的一系列回波(通常是一組多次的底面回波)的顯示距離和反射體距離之間能按比例方式顯示的能力。河南水楔塊相控陣探頭采購
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