柔性相控陣探頭:柔性相控陣探頭可分為一維柔性相控陣探頭和二維柔性相控陣探頭。一維柔性相控陣探頭通過機(jī)械裝置將探頭內(nèi)各個(gè)晶片壓在工件表面,利用工件輪廓測(cè)量?jī)x測(cè)出表面形狀,隨后根據(jù)計(jì)算機(jī)對(duì)該輪廓的延時(shí)律算法進(jìn)行實(shí)時(shí)處理;二維柔性相控陣探頭是在二維矩陣的表面涂抹一層柔軟的彈性樹脂,彈性樹脂能與工件表面緊密貼合,從而實(shí)現(xiàn)三維成像。柔性相控陣探頭主要應(yīng)用于輪廓不規(guī)則工件的檢測(cè)中,如航天航空領(lǐng)域飛機(jī)機(jī)翼和機(jī)身復(fù)合板,承壓設(shè)備領(lǐng)域壓力管道的內(nèi)外壁、彎頭、三通等的檢測(cè)。其比較適宜大厚度工件的檢測(cè)。超聲換能器單元以陣列形式安置于柔性層介質(zhì)中或表面,而構(gòu)成柔性超聲換能器陣列,因柔性超聲換能器陣列能夠貼合各種具有不同形狀的工件表面,從而提高了檢測(cè)效率,避免了因表面不規(guī)則引起聲束扭曲、靈敏度下降等問題發(fā)生。相控陣探頭的近場(chǎng)是指接近探頭的區(qū)域。水楔塊相控陣探頭售價(jià)
相控陣探頭的比較分類:相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓,線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊,系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近,減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查:調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度,例如:扇形掃查范圍為30°-70°,調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊,前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波,固定探頭,分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”,較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查:移動(dòng)探頭找到探頭較大回波,閘門依次套住回波“得到位”,較后確定完成聲速校準(zhǔn)。水楔塊相控陣探頭售價(jià)相控陣探頭的帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。
相控陣工作原理:通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì):1.實(shí)時(shí)彩色成像,包括A/B/C/D和S-掃描,便于缺陷判讀,不會(huì)誤判或漏判缺陷;2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦,從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性,因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn);3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性,可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能,如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷,缺陷檢出率高,檢測(cè)范圍廣,定量、定位精度高。
相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些?斜探頭前沿距離是從斜探頭人射點(diǎn)到探頭底面前端的距離,此值在實(shí)際探測(cè)時(shí)可用來在工件表面上確定缺陷距探頭前端的水平投影距離。波束折射角(K值)表示經(jīng)折射透入工件的波束中心軸線與從人射點(diǎn)引出的工件表面法線之間的夾角(或折射角正切值),與探頭上標(biāo)稱折射角有一定誤差。K值系列斜探頭用K值(折射角正切值)表示。時(shí)基線性是表示超聲波相控陣探傷儀對(duì)距離不同的反射體所產(chǎn)生的一系列回波(通常是一組多次的底面回波)的顯示距離和反射體距離之間能按比例方式顯示的能力。相控陣探頭按陣列形式通??煞譃榫€形、矩陣形、環(huán)形和扇形等等。
對(duì)相控陣延遲的理解:相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成,延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束,各角度的聲束經(jīng)過楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間,紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù),但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差,楔塊磨損,掃查角度,耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應(yīng)用在醫(yī)療領(lǐng)域,從上個(gè)世紀(jì)80年代起,超聲相控陣技術(shù)開始應(yīng)用到核電領(lǐng)域。20多年以來,超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應(yīng)用范圍越來越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設(shè)備價(jià)格的不斷下降、人員培訓(xùn)規(guī)模的日益擴(kuò)大以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的逐步建立與完善,工業(yè)相控陣技術(shù)的應(yīng)用會(huì)越來越普及。隨著相控陣探頭晶片數(shù)量的增多,檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大。水楔塊相控陣探頭售價(jià)
常規(guī)縱波超聲相控陣探頭工作的方式如同可發(fā)出高頻機(jī)械振動(dòng)的活塞。水楔塊相控陣探頭售價(jià)
相控陣探頭電子束通過交替地發(fā)射線性相控陣給定數(shù)目的元件進(jìn)行電子轉(zhuǎn)換。這種技術(shù)替代了常規(guī)超聲單晶片探頭的機(jī)械移動(dòng)掃查的一種方法。線陣相控陣探頭的優(yōu)點(diǎn)是無需機(jī)械運(yùn)動(dòng)。相控陣探頭電子束聚焦通過對(duì)線性相控陣不同陣元施加對(duì)稱的聚焦法則。常規(guī)超聲通常使用幾種探頭來聚焦在不同深度。相控陣探頭電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)是通過一個(gè)探頭能聚焦在聲場(chǎng)覆蓋的每一個(gè)深度。用動(dòng)態(tài)聚焦快速檢測(cè)厚坯的完整體積,電子聚焦還可以補(bǔ)償由于柱面界面引起的聚焦畸變。相控陣探頭電子束通過將聚焦法則應(yīng)用于線性、圓形或矩陣陣列的不同陣元,通過電子偏轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)線陣和環(huán)陣探頭的2D波束控制,而矩陣陣列允許三維波束控制。這種技術(shù)實(shí)現(xiàn)使用一個(gè)探頭完成多種角度檢測(cè)的工作。在復(fù)雜幾何形狀件檢測(cè)時(shí),這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)可以與電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)結(jié)合起來快速檢測(cè)。水楔塊相控陣探頭售價(jià)
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