北京全自動探針臺定制

探針、探針夾具及電纜組件。（1）探針。待測點(diǎn)需要測試探針的連接，才能與測試儀器發(fā)生交流。常見的有：普通DC測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針。（2）探針夾具及電纜組件。探針夾具用于夾持探針、并將探針連接至測量儀器。電纜組件用于轉(zhuǎn)接、延展探針夾具上的電纜組件。根據(jù)測量應(yīng)用，可粗略地劃分為以下幾種：I-V/CV測試用、RF測試用、高壓大電流I-V/C-V測試用等。主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個(gè)測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測試等用途。探針臺的科學(xué)研究成果對推動人類的科學(xué)技術(shù)進(jìn)步有著舉足輕重的作用。北京全自動探針臺定制

重復(fù)定位探針先進(jìn)的過程，直到測試完所有必需的設(shè)備。這個(gè)過程都可以由操作員手動完成，但如果載物臺和機(jī)械手是電動的，并且顯微鏡連接到計(jì)算機(jī)視覺系統(tǒng)，那么這個(gè)過程可以變成半自動或全自動。這可以提高探針臺的生產(chǎn)力和吞吐量，并減少運(yùn)行多個(gè)測試所需的勞動力。作為半導(dǎo)體封測行業(yè)三大設(shè)備之一，探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的晶圓、芯片等器件的測試，研發(fā)難度大，國產(chǎn)化率低，進(jìn)口依賴度高，它的品質(zhì)和精度直接決定測試可靠性與否。探針臺加工廠家潮濕的環(huán)境及長時(shí)期保養(yǎng)不當(dāng)將很容易使定子發(fā)生銹蝕現(xiàn)象。河北探針臺行價(jià)探針臺擁有先進(jìn)的天文儀器，可以提供高質(zhì)量的觀測數(shù)據(jù)。

高低溫真空磁場探針臺是具備提供高低溫、真空以及磁場環(huán)境的高精度實(shí)驗(yàn)臺，它的諸多設(shè)計(jì)都是專門使用的。因此，高低溫磁場探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。例如，要求的磁場值，均勻區(qū)大小、均勻度大小、樣品臺的尺寸等，均于磁力線在一定區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生的磁通密度相關(guān)聯(lián)；位移臺還可與磁流體密封搭配，實(shí)現(xiàn)水平方向二維移動和樣品臺360度轉(zhuǎn)動；除此之外，該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙極性恒流電源搭配使用戶，可以磁場的高穩(wěn)定性。因此，該類型的探針臺主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。

什么是探針臺，它是如何工作的？半導(dǎo)體探針臺是一種成熟的工具，用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備——但它是什么以及它是如何工作的？探針臺允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上，然后測試該設(shè)備對外部刺激（電子、光學(xué)或射頻）的響應(yīng)。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測試。探針臺可以在整個(gè)晶圓上或被鋸成單個(gè)芯片后運(yùn)行測試。整個(gè)晶圓級的測試允許制造商在整個(gè)生產(chǎn)過程的不同階段多次測試設(shè)備，并密切監(jiān)控制造以查看是否存在任何缺陷。探針臺提供了探索宇宙的有效途徑。

探針臺特性1:裝載部件，令客戶滿意的測試環(huán)境，可以提供從前部開始的通常的8"，12"及基本檢查單元。也為自動物料輸送系統(tǒng)應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。特性2:TTG(一點(diǎn)即到)，更加方便的操作，UF3000采用在顯示屏上點(diǎn)一下，相關(guān)的屏幕就會切換到新的位置顯示。相關(guān)的設(shè)定十分方便。屏幕的顯示模式也可以由客戶自行定義。晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺的聯(lián)動，在測試過程中，測試機(jī)臺并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。探針臺的建設(shè)需要克服地球環(huán)境和宇宙環(huán)境的技術(shù)差距。北京全自動探針臺定制

探針臺需要高度的保密性和安全措施。北京全自動探針臺定制

半自動型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y電動移動行程200mm/150mm，chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡，針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆，顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"，可搭配Probe card測試，適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。電動型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金），X,Y電動移動行程300mm x 300mm，chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，微調(diào)精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡，針座擺放個(gè)數(shù)8～12顆，顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“，材質(zhì)：花崗巖臺面+不銹鋼，可搭配Probe card測試，適用領(lǐng)域：12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。北京全自動探針臺定制

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