本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測試機及芯片測試方法，本發(fā)明的芯片測試機的結(jié)構(gòu)緊湊、體積較小，占地面積只一平米左右，可以滿足小批量的芯片測試要求。其技術(shù)方案如下：本發(fā)明在一實施例中公開了一種芯片測試機。該芯片測試機包括機架，以及設(shè)置于機架上的移載裝置、測試裝置、自動上料裝置、自動下料裝置及不良品放置臺，所述自動上料裝置包括頭一料倉及自動上料機構(gòu)，所述自動上料機構(gòu)在所述頭一料倉內(nèi)上下移動；所述自動下料機構(gòu)包括第二料倉及自動下料機構(gòu)，所述自動下料機構(gòu)在所述第二料倉內(nèi)上下移動，所述移載裝置位于所述自動上料裝置、自動下料裝置、測試裝置及不良品放置臺的上方，所述移載裝置將自動上料裝置的待測試芯片移動至測試裝置，并將測試完成的芯片移動至自動下料裝置或不良品放置臺，所述移載裝置還將自動上料裝置的空tray盤移動至自動下料裝置。芯片測試機可以進行測試數(shù)據(jù)的剖析和分析，以找到較優(yōu)的測試方案。湖南CPU芯片測試機
x軸移動組件22包括x軸伺服電缸220、x軸拖鏈221，x軸伺服電機、x軸拖鏈221分別固定于y軸移動底板213上，頭一z軸移動組件23和第二z軸移動組件24均與x軸伺服電機和x軸拖鏈221相連。頭一z軸移動組件23包括滑臺氣缸230、雙桿氣缸231、吸嘴基板232、氣缸固定座233，吸嘴基板232與x軸移動相連，滑臺氣缸230固定于吸嘴基板232上，氣缸固定座233與滑臺氣缸230相連，雙桿氣缸231固定于氣缸固定座233上。真空吸盤25與雙桿氣缸231相連?；_氣缸230移動時，帶動氣缸固定板相連，氣缸固定座233帶動雙桿氣缸231移動，雙桿氣缸231可驅(qū)動真空吸盤25移動，從而帶動真空吸盤25向上或向下移動。湖南CPU芯片測試機利用芯片測試機，可以減少制造過程中的失敗率。
常見的測試手段，CP（Chip Probing）測試和FT（Final Test）測試：CP測試。芯片測試分兩個階段，一個是CP（Chip Probing）測試，也就是晶圓（Wafer）測試。另外一個是FT（Final Test）測試，也就是把芯片封裝好再進行的測試。CP（Chip Probing）指的是晶圓測試。CP測試在整個芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝之間。晶圓（Wafer）制作完成之后，成千上萬的裸DIE（未封裝的芯片）規(guī)則的分布滿整個Wafer。由于尚未進行劃片封裝，芯片的管腳全部裸露在外，這些極微小的管腳需要通過更細(xì)的探針臺來與測試機臺連接。
設(shè)計公司主要目標(biāo)是根據(jù)市場需求來進行芯片研發(fā)，在整個設(shè)計過程中，需要一直考慮測試相關(guān)的問題，主要有下面幾個原因：1） 隨著芯片的復(fù)雜度原來越高，芯片內(nèi)部的模塊越來越多，制造工藝也是越來越先進，對應(yīng)的失效模式越來越多，而如何能完整有效地測試整個芯片，在設(shè)計過程中需要被考慮的比重越來越多。2） 設(shè)計、制造、甚至測試本身，都會帶來一定的失效，如何保證設(shè)計處理的芯片達(dá)到設(shè)計目標(biāo)，如何保證制造出來的芯片達(dá)到要求的良率，如何確保測試本身的質(zhì)量和有效，從而提供給客戶符合產(chǎn)品規(guī)范的、質(zhì)量合格的產(chǎn)品，這些都要求必須在設(shè)計開始的頭一時間就要考慮測試方案。3） 成本的考量。越早發(fā)現(xiàn)失效，越能減少無謂的浪費；設(shè)計和制造的冗余度越高，越能提供較終產(chǎn)品的良率；同時，如果能得到更多的有意義的測試數(shù)據(jù)，也能反過來提供給設(shè)計和制造端有用的信息，從而使得后者有效地分析失效模式，改善設(shè)計和制造良率。芯片測試機通常集成了多個測試模塊。
優(yōu)先選擇地，預(yù)定位裝置100還包括至少兩個光電傳感器105，機架10上固定有預(yù)定位氣缸底座106，預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101固定于預(yù)定位氣缸底座106上，預(yù)定位氣缸底座106上設(shè)有相對設(shè)置的四個定位架107，預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103位于四個定位架107支之間，兩個光電傳感器105分別固定于兩個定位架107上。當(dāng)芯片需要進行預(yù)定位時，首先選擇將芯片移載至預(yù)定位槽104內(nèi)，然后由預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101帶動轉(zhuǎn)向定位底座103旋轉(zhuǎn)，從而帶動芯片正向或反向旋轉(zhuǎn)90度。通過預(yù)定位裝置100對芯片的放置方向進行調(diào)整，保障芯片測試的順利進行。芯片測試完成后再移動至預(yù)定位裝置100進行方向調(diào)整，保障測試完成后的芯片的放置方向與芯片的來料方向一致。芯片測試機可以進行集成電路的質(zhì)量檢測。湖南CPU芯片測試機
芯片測試機可以進行傳輸門延時測試，用于檢測電路的延時性能。湖南CPU芯片測試機
自動上料機構(gòu)42上料時，將放滿待測芯片的多個tray盤上下疊放在頭一料倉41的第二移動底板47上，且位于較上層的tray盤位于頭一料倉41的開口部。移載裝置20首先吸取位于較上層的tray盤中的芯片進行測試，當(dāng)位于較上層的tray盤中的芯片測試完成后，將空的tray盤移載至自動下料機構(gòu)52。然后伺服電機43驅(qū)動滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動，滾珠絲桿45通過頭一移動底板46帶動第二移動底板47向上移動，帶動位于下方的tray盤向上移動，直至所有的tray盤中的芯片全部測試完成。湖南CPU芯片測試機
深圳市泰克光電科技有限公司是一家半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料的研發(fā)與銷售，半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件開發(fā)及銷售；國內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進出口。（法律、行政法規(guī)決定禁止的項目除外，限制的項目須取得許可后方可經(jīng)營）半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料，半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件生產(chǎn)。的公司，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實、誠實可信的企業(yè)。泰克光電擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團隊，以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供探針臺，芯片測試機，藍(lán)膜編帶機，分光編帶機。泰克光電致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對用戶產(chǎn)品上的貼心，為用戶帶來良好體驗。泰克光電始終關(guān)注能源市場，以敏銳的市場洞察力，實現(xiàn)與客戶的成長共贏。