集成電路芯片的測試（ICtest）分類包括：分為晶圓測試（wafertest）、芯片測試（chiptest）和封裝測試（packagetest）wafertest是在晶圓從晶圓廠生產(chǎn)出來后，切割減薄之前的測試。其設(shè)備通常是測試廠商自行開發(fā)制造或定制的，一般是將晶圓放在測試平臺上，用探針探到芯片中事先確定的測試點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數(shù)測試。對于光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能測試。晶圓測試主要設(shè)備：探針平臺。輔助設(shè)備：無塵室及其全套設(shè)備。芯片測試機還可以進行電壓測試以測試電壓飽和和開路。浙江半導體芯片測試機廠家
一般說來，是根據(jù)設(shè)計要求進行測試，不符合設(shè)計要求的就是不合格。而設(shè)計要求，因產(chǎn)品不同而各不相同，有的IC需要測試大量的參數(shù)，有的則只需要測試很少的參數(shù)。事實上，一個具體的IC，并不一定要經(jīng)歷上面提到的全部測試，而經(jīng)歷多道測試工序的IC，具體在哪個工序測試哪些參數(shù)，也是有很多種變化的，這是一個復(fù)雜的系統(tǒng)工程。例如對于芯片面積大、良率高、封裝成本低的芯片，通?？梢圆贿M行wafertest，而芯片面積小、良率低、封裝成本高的芯片，Z好將很多測試放在wafertest環(huán)節(jié)，及早發(fā)現(xiàn)不良品，避免不良品混入封裝環(huán)節(jié)，無謂地增加封裝成本。湖南PD芯片測試機價格芯片測試機可以測試芯片的信號幅度和靈敏度。
本發(fā)明在另一實施例中公開一種芯片測試機的測試方法。該測試方法包括以下步驟：將多個待測試芯片放置于多個tray盤中，每一個tray盤中放置多個待測試芯片，將多個tray盤放置于自動上料裝置，并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤；移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進行測試；芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中；當自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置。
Open/Short Test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。DC TEST: 驗證器件直流電流和電壓參數(shù)。Eflash TEST: 測試內(nèi)嵌flash的功能及性能，包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數(shù)。Function TEST: 測試芯片的邏輯功能。AC Test: 驗證交流規(guī)格，包括交流輸出信號的質(zhì)量和信號時序參數(shù)。Mixed Signal Test: 驗證DUT數(shù)?；旌想娐返墓δ芗靶阅軈?shù)。RF Test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數(shù)。芯片測試設(shè)備原理說明，對于芯片行業(yè)來說，其生產(chǎn)成本是很高的，因此，其芯片測試設(shè)備在一定程度上建議采用我們的芯片測試設(shè)備來降低企業(yè)運行成本，所以，芯片測試設(shè)備的運行原理我們也不得不了解清楚。利用芯片測試機，可以加速檢測過程并提高測試的準確性。
而probe card則換成了load board,其作用是類似的，但是需要注意的是load board上需要加上一個器件—Socket,這個是放置package device用的，每個不同的package種類都需要不同的socket，如下面圖（7）所示，load board上的四個白色的器件就是socket。Handler 必須與 tester 相結(jié)合(此動作叫 mount 機)及接上interface才能測試, 動作為handler的手臂將DUT放入socket，然后 contact pusher下壓, 使 DUT的腳正確與 socket 接觸后, 送出start 訊號, 透過 interface 給 tester, 測試完后, tester 送回 binning 及EOT 訊號; handler做分類動作。芯片測試機可以用于進行芯片的時序分析。湖南PD芯片測試機價格
芯片測試機可以檢測芯片的性能和缺陷。浙江半導體芯片測試機廠家
當芯片需要進行高溫加熱時，可以先將多個待測試芯片移動至預(yù)加熱工作臺95的多個預(yù)加熱工位96進行預(yù)加熱，在測試的時候，可以減少高溫加熱頭71的加熱時間，提高測試效率。當自動上料裝置40上的來料芯片的放置方向與測試裝置30測試時需要放置的芯片的方向不一致時，需要首先對待測試芯片進行預(yù)定位，故本實施例在機架10上還設(shè)置有預(yù)定位裝置100。預(yù)定位裝置100包括預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101、預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103，預(yù)定位底座102與預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101相連，預(yù)定位底座102位于預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101與轉(zhuǎn)向定位底座103之間，轉(zhuǎn)向定位底座103上開設(shè)有凹陷的預(yù)定位槽104。浙江半導體芯片測試機廠家
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