應(yīng)用電子技術(shù)方面的測(cè)試，印刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB（Printed circuit board），是重要的電子部件，是電子元件的支撐體，是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術(shù)制作的，故被稱為“印刷”電路板。在印制電路板出現(xiàn)之前，電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。電路面包板只是作為有效的實(shí)驗(yàn)工具而存在，而印刷電路板在電子工業(yè)中已經(jīng)成了占據(jù)了一定統(tǒng)治的地位。各種功能測(cè)試系統(tǒng)：涵蓋各類電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專業(yè)測(cè)試解決方案。無(wú)錫自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)
ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法：模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。 若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 1.2 隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)單獨(dú)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。臺(tái)州可靠性試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)哪家好集成功能測(cè)試系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)試多個(gè)功能。
零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見的問(wèn)題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正，或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問(wèn)題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能，用軟件的方法去除噪聲?？刂茰y(cè)量過(guò)程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過(guò)在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。
測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Description Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。通用功能測(cè)試系統(tǒng)可適用于多種不同產(chǎn)品的功能驗(yàn)證。
技術(shù)特點(diǎn)：1、全自動(dòng)測(cè)試方法，對(duì)操作人員要求低；2、自動(dòng)準(zhǔn)確判斷每個(gè)細(xì)節(jié)，不產(chǎn)生遺漏和誤判；3、自動(dòng)多項(xiàng)目集中測(cè)試和多測(cè)試點(diǎn)同步測(cè)試，減少工位和工時(shí)；4、應(yīng)用優(yōu)越的自校準(zhǔn)技術(shù)，轉(zhuǎn)機(jī)種不需要高素質(zhì)工程人員；5、用戶界面友好，易于實(shí)現(xiàn)新機(jī)種自動(dòng)測(cè)試之編程和調(diào)試；6、治具結(jié)構(gòu)規(guī)范，利于統(tǒng)一管理和控制成本；7、測(cè)試結(jié)果由PC分析得出PASS或FAIL。8、對(duì)FAIL品可即時(shí)打印出相關(guān)數(shù)據(jù)，對(duì)整個(gè)測(cè)試過(guò)程可生成統(tǒng)計(jì)報(bào)表文件以供日后隨時(shí)調(diào)用，該文件可通過(guò)EXCEL打開。PCB測(cè)試：對(duì)印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。江蘇可靠性試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)
功能測(cè)試系統(tǒng)可幫助定位產(chǎn)品功能故障和改進(jìn)設(shè)計(jì)。無(wú)錫自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)
FrameScan電容藕合測(cè)試 FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1 夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2 測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3 電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測(cè)試成本稍高。無(wú)錫自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)