在短時(shí)間內(nèi)模擬冷熱環(huán)境的變化,以求能更快的反映出試驗(yàn)物品在大自然的溫度變化中產(chǎn)生的性能變化。利用風(fēng)機(jī)將不同的溫度的空氣吹向測(cè)試物品,使用風(fēng)路切換的方式,每次只能吹入高溫或著低溫的風(fēng),這種方式所以也叫做冷熱沖擊試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的冷熱溫度均可調(diào),低溫區(qū)的溫度可以從-70°C~RT常溫,高溫區(qū)的溫度可以從常溫RT~200°C的溫度可調(diào)。另外,高溫區(qū)從常溫上升至最高溫度需要的時(shí)間約為35分鐘,低溫區(qū)從常溫下降至低溫所需要的時(shí)間為55分鐘。并且在做冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí),沖擊次數(shù)可達(dá)9999次,每次的溫度沖擊的時(shí)間可達(dá)999小時(shí)。冷熱沖擊試驗(yàn)箱會(huì)用到什么制冷方式?河南全自動(dòng)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子好
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于航空、航太、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗(yàn)。供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗(yàn),以便對(duì)試品或試品試驗(yàn)行為作出評(píng)價(jià)。
主要用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。 廣東三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子好冷熱沖擊試驗(yàn)箱的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn)怎么規(guī)定?
在溫度沖擊測(cè)試中,為關(guān)鍵的是建立起不同材料熱脹冷縮不一致造成的應(yīng)力。實(shí)際熱沖擊可能發(fā)生在受試產(chǎn)品的外部,有關(guān)資料指出不必達(dá)到整個(gè)產(chǎn)品溫度穩(wěn)定,而只要受試產(chǎn)品外表溫度與測(cè)試溫度一致就行。這一意見(jiàn)是雖有一定道理,實(shí)施起來(lái)也有一定困難,因?yàn)椴豢赡茉诋a(chǎn)品表面安裝許多傳感器,此外產(chǎn)品各部分傳熱能力不一致,受試產(chǎn)品內(nèi)部鄰近部件熱容量也不一致,確定起來(lái)有難度。
1、GJB150.5規(guī)定了下限1h,即溫度穩(wěn)定時(shí)間小于1h,必有要1h;若大于1h,則用該大于1h的時(shí)間;
2、GB2423.22中給出10min到3h的5個(gè)時(shí)間等級(jí),同使用表根據(jù)冷熱沖擊測(cè)試箱測(cè)得的產(chǎn)品溫度穩(wěn)定時(shí)間,采用與其相近的時(shí)間或可選時(shí)間等級(jí),直接采用與其相近的時(shí)間作為保持時(shí)間;
3、810F方法503.4中則不規(guī)定具體時(shí)間或可選時(shí)間等級(jí),直接采用產(chǎn)品達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間或產(chǎn)品在環(huán)境中真實(shí)暴露時(shí)間。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱的過(guò)流保護(hù)
設(shè)備的過(guò)流保護(hù)通常由過(guò)流繼電器實(shí)現(xiàn)。將過(guò)流繼電器線圈串聯(lián)到被保護(hù)線路中。當(dāng)電流達(dá)到其固定值時(shí),過(guò)流繼電器工作時(shí),經(jīng)常關(guān)閉接頭串聯(lián)到接器線圈所在的支路中,使接器線圈斷電,然后通過(guò)主電路中接口器的主觸頭斷開(kāi),使電機(jī)電源及時(shí)斷開(kāi)。
過(guò)載保護(hù)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱過(guò)載是指電機(jī)運(yùn)行電流超過(guò)額定電流但小于1.5倍額定電流的運(yùn)行狀態(tài),在過(guò)流運(yùn)行狀態(tài)范圍內(nèi)。如果電機(jī)長(zhǎng)時(shí)間過(guò)載,繞組溫升會(huì)超過(guò)允許值,絕緣老化或損壞。過(guò)負(fù)荷保護(hù)要求不受電動(dòng)機(jī)短時(shí)間過(guò)負(fù)荷沖擊電流或短路電流的影響,通常使用熱繼電器作為過(guò)載保護(hù)元件。設(shè)備超過(guò)6倍的額定電流通過(guò)熱繼電器時(shí),該設(shè)備需要5s才能工作,在熱繼電器工作之前,熱繼電器的加熱元件可能已經(jīng)燒壞。因此,當(dāng)使用熱繼電器進(jìn)行過(guò)載保護(hù)時(shí),必須同時(shí)安裝短路保護(hù)裝置,如保險(xiǎn)絲或低壓斷路器。 冷熱沖擊試驗(yàn)箱常見(jiàn)問(wèn)題。
以下是常見(jiàn)的實(shí)際生產(chǎn)或使用環(huán)境中存在的具有代表性的冷熱沖擊環(huán)境,這些冷熱沖擊環(huán)境常常是導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要原因。
溫度的極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn);
啟動(dòng)馬達(dá)時(shí)周?chē)骷臏囟燃彼偕?,關(guān)閉馬達(dá)時(shí)周?chē)骷?huì)出現(xiàn)溫度驟然下降;
設(shè)備從溫度較高的室內(nèi)移到溫度相對(duì)較低的室外,或者從溫度相對(duì)較低的室外移到溫度較高的室內(nèi);
設(shè)備可能在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上,導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度,在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭的溫度梯度;
設(shè)備可能會(huì)因?yàn)榻涤甓蝗焕鋮s;
當(dāng)航空器起飛或者降落時(shí),航空器機(jī)載外部器材可能會(huì)出現(xiàn)溫度的急劇變化,升溫/降溫速率不低于 30 ℃/min。溫度變化范圍很大,同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。 汽車(chē)?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱,保障汽車(chē)品質(zhì)的重要工具!河南全自動(dòng)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子好
冷熱沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及使用介紹。河南全自動(dòng)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子好
在如今的技術(shù)發(fā)展日新月異的時(shí)代,芯片作為電子設(shè)備的重要部件,其穩(wěn)定性和可靠性的保障顯得尤為重要。為了確保芯片在不良環(huán)境下仍能正常運(yùn)行,冷熱沖擊試驗(yàn)箱成為了不可少的工具。本文將為您詳細(xì)介紹芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱的原理、功能和應(yīng)用!
芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用于模擬不良環(huán)境下的溫度變化,來(lái)測(cè)試芯片在這些條件下的穩(wěn)定性和可靠性的設(shè)備。它具有在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行溫度變化、快速恢復(fù)溫度的特點(diǎn),可以模擬芯片在不良溫度條件下的工作狀態(tài)。這種試驗(yàn)箱通常由控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度傳感器等部分組成,能夠在一定范圍內(nèi)無(wú)需人為干預(yù)地實(shí)現(xiàn)溫度的循環(huán)變化,來(lái)滿足芯片冷熱沖擊試驗(yàn)的需求。
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