有哪些光譜共焦

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-12

高精度光譜共焦位移傳感器具有非常高的測(cè)量精度 。它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)的位移測(cè)量,對(duì)于晶圓表面微小變化的檢測(cè)具有極大的優(yōu)勢(shì)。在半導(dǎo)體行業(yè)中,晶圓的表面質(zhì)量對(duì)于芯片的制造具有至關(guān)重要的影響,因此需要一種能夠jing'q精確測(cè)量晶圓表面位移的傳感器來(lái)保證芯片的質(zhì)量。其次,高精度光譜共焦位移傳感器具有較高的測(cè)量速度。它能夠迅速地對(duì)晶圓表面進(jìn)行掃描和測(cè)量,極大地提高了生產(chǎn)效率。在晶圓制造過(guò)程中,時(shí)間就是金錢(qián),因此能夠準(zhǔn)確地測(cè)量晶圓表面位移對(duì)于生產(chǎn)效率的提高具有重要意義。另外,高精度光譜共焦位移傳感器具有較強(qiáng)的抗干擾能力。它能夠在復(fù)雜的環(huán)境下進(jìn)行穩(wěn)定的測(cè)量,不受外界干擾的影響。在半導(dǎo)體制造廠房中,存在各種各樣的干擾源,如電磁干擾、光學(xué)干擾等,而高精度光譜共焦位移傳感器能夠抵御這些干擾,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性 。光譜共焦位移傳感器可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料的變化情況,對(duì)于研究材料的力學(xué)性能具有重要意義;有哪些光譜共焦

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是加工現(xiàn)場(chǎng)常用的高精度產(chǎn)品尺寸及形位公差檢測(cè)設(shè)備,具有通用性強(qiáng),精確可靠等優(yōu)點(diǎn)。本文面向一種特殊材料異型結(jié)構(gòu)零件內(nèi)曲面的表面粗糙度測(cè)量要求,提出一種基于高精度光譜共焦位移傳感技術(shù)的表面粗糙度集成在線測(cè)量方法,利用工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)常用的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)平臺(tái)執(zhí)行輪廓掃描,并記錄測(cè)量掃描位置實(shí)時(shí)空間橫坐標(biāo),根據(jù)空間坐標(biāo)關(guān)系,將測(cè)量掃描區(qū)域的微觀高度信息和掃描采樣點(diǎn)組織映射為微觀輪廓,經(jīng)高斯濾波處理和評(píng)價(jià)從而得到測(cè)量對(duì)象的表面粗糙度信息 。工廠光譜共焦源頭直供廠家光譜共焦技術(shù)可以在不破壞樣品的情況下進(jìn)行分析。

玻璃基板是液晶顯示屏必不可少的零部件之一,一張液晶顯示屏要用二張玻璃基板,各自做為底層玻璃基板和彩色濾底版應(yīng)用。玻璃基板的品質(zhì)對(duì)控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、凈重、可視角度等數(shù)據(jù)都是有關(guān)鍵危害。玻璃基板是組成液晶顯示屏元器件一個(gè)基本上構(gòu)件。這是一種表層極為平坦的方法生產(chǎn)制造薄玻璃鏡片?,F(xiàn)階段在商業(yè)上運(yùn)用的玻璃基板,其厚度為0.7 mm及0.5m m,且將要邁進(jìn)特薄厚度之制造。大部分,一片TFT-LCD控制面板需用到二片玻璃基板。因?yàn)椴AЩ搴穸群鼙?,而厚度?guī)格監(jiān)管又比較嚴(yán)格,一般在0.01mm的公差,關(guān)鍵清晰地測(cè)量夾層玻璃厚度、漲縮和平面度。選用創(chuàng)視智能自主生產(chǎn)研發(fā)的高精度光譜共焦位移傳感器可以非常好的處理這一難題,一次測(cè)量就可以完成了相對(duì)高度值、厚度系數(shù)的收集,再加上與此同時(shí)選用多個(gè)感應(yīng)器測(cè)量,不僅提高了效率,并且防止觸碰測(cè)量所造成的二次損害 。

在容器玻璃生產(chǎn)過(guò)程中,圓度和壁厚是重要的質(zhì)量特征,需要進(jìn)行檢查。任何有缺陷的容器都會(huì)被判定為不合格產(chǎn)品并返回到玻璃熔體中。為了實(shí)現(xiàn)快速的非接觸式測(cè)量,并確保不損壞瓶子,需要高處理速度。對(duì)于這種測(cè)量任務(wù),光譜共焦傳感器是一種合適的選擇。該系統(tǒng)在兩個(gè)點(diǎn)上同步測(cè)量并通過(guò)EtherCAT接口實(shí)時(shí)輸出數(shù)據(jù) ,厚度校準(zhǔn)功能允許在傳感器的整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)進(jìn)行精確的厚度測(cè)量。此外,自動(dòng)曝光控制可以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同玻璃顏色的測(cè)量的穩(wěn)定性。光譜共集技術(shù)在電子制造領(lǐng)域可以用于電子元件的精度檢測(cè)和測(cè)量。

光譜共焦測(cè)量技術(shù)是共焦原理和編碼技術(shù)的結(jié)合 。白色光源和光譜儀可以完成一個(gè)相對(duì)高度范圍的準(zhǔn)確測(cè)量。光譜共焦位移傳感器的準(zhǔn)確測(cè)量原理如圖1所示。在光纖和超色差鏡片的幫助下,產(chǎn)生一系列連續(xù)而不重合的可見(jiàn)光聚焦點(diǎn)。當(dāng)待測(cè)物體放置在檢測(cè)范圍內(nèi)時(shí),只有一種光波長(zhǎng)能夠聚焦在待測(cè)物表面并反射回來(lái),產(chǎn)生波峰信號(hào)。其他波長(zhǎng)將失去對(duì)焦。使用干涉儀的校準(zhǔn)信息可以計(jì)算待測(cè)物體的位置,并創(chuàng)建對(duì)應(yīng)于光譜峰處波長(zhǎng)偏移的編碼。超色差鏡片通過(guò)提高縱向色差,可以在徑向分離出電子光學(xué)信號(hào)的不同光譜成分,因此是傳感器的關(guān)鍵部件,其設(shè)計(jì)方案非常重要。激光位移傳感器的應(yīng)用主要是用于非標(biāo)的特定檢測(cè)設(shè)備中。有哪些光譜共焦

光譜共焦技術(shù)在電子制造領(lǐng)域可以用于電子元件的精度檢測(cè)和測(cè)量。有哪些光譜共焦

由于每一個(gè)波長(zhǎng)都可以固定一個(gè)距離值,因此,通過(guò)將光譜山線峰值波長(zhǎng)確定下來(lái),就可以將精確的距離值推算出來(lái)。假設(shè)傳感器與物體表面存在相對(duì)移動(dòng),此時(shí)物體表面的中心點(diǎn)恰好處在單色光(A1)的像點(diǎn)處,可以作出光譜儀探測(cè)到的光譜曲線。通過(guò)測(cè)量得到不同的波長(zhǎng)值,可以將物體表面不同點(diǎn)之間的相對(duì)位移值計(jì)算出來(lái)。如果配上精細(xì)的掃描機(jī)構(gòu),就可以對(duì)整體的二維表面輪廓及形貌進(jìn)行精確的測(cè)量。相比其他傳統(tǒng)的位移傳感器 ,光譜共焦傳感器憑借獨(dú)特的測(cè)量原理,具有測(cè)量效率高、精度高、體積小、非接觸等特點(diǎn),在各個(gè)領(lǐng)域都得到了大量的應(yīng)用。有哪些光譜共焦