光伏電站發(fā)電的元器件是光伏組件，熱斑形成的緣由和光伏組件檢測方法、隱裂形成的緣由和光伏組件檢測方法、功率衰減分類和光伏組件檢測方法等是光伏組件檢測的三大方法。對光伏電站元器件組件進行檢測與維護，是為了讓光伏電站發(fā)電量能正常運作。熱斑、隱裂和功率衰減這些都是光伏組件常見的問題。因為這些質量問題隱蔽在電池板內部，或光伏電站運作一段時間后才發(fā)生，所以在電池板進場驗收的時候不容易識別，進行光伏組件檢測就要借助到專業(yè)設備了。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，讓您滿意，期待您的光臨！上海pl檢測
隱裂是電池片的缺陷。由于晶體結構的自身特性，晶硅電池片十分容易發(fā)生破裂。晶體硅組件生產的工藝流程長，許多環(huán)節(jié)都可能造成電池片隱裂（據(jù)西安交大楊宏老師的資料，電池生產階段就有約200種原因）。隱裂產生的本質原因，可歸納為在硅片上產生了機械應力或熱應力。近幾年，晶硅組件廠家為了降低成本，晶硅電池片一直向越來越薄的方向發(fā)展，從而降低了電池片防止機械破壞的能力。2011年，德國ISFH公布了他們的研究結果：根據(jù)電池片隱裂的形狀，可分為5類：樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。浙江電池片檢測儀器廠家上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，有需要可以聯(lián)系我司哦！
組件發(fā)展的宗旨是減少封裝損失,提高組件單位面積發(fā)電效率。目前有兩個組件技術，一是提高發(fā)電功率如多主柵組件和半片組件，二是提高發(fā)電密度如疊瓦組件。多主柵技術通過增加電池片上主柵數(shù)量提升了受光面積；使電池片上電阻、電流分布更加均勻，從而降低阻抗損失。半片組件技術是將傳統(tǒng)電池片一切為二，不改變后續(xù)組件制備工藝。其增效原理是通過降低電路電流來減少電阻損失。疊瓦組件是將電池切片后，按照疊瓦的設計將一個切片電池的邊緣疊蓋在另一個切片的邊緣。其使用導電膠實現(xiàn)切片電池直接銜接導電，摒棄傳統(tǒng)組件利用焊帶方式的間距銜接導電。相比較而言，半片在技術上相對更容易控制，設備投資門檻較低，不少廠商將導入半片組件，大廠將會大量提升半片產能，預期很快能成為主流產品之一。多主柵也是未來的重點趨勢，但短期內難以形成規(guī)模。疊片技術的技術及資金門檻更高，發(fā)展要比半片和多主柵技術更緩慢。
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細小裂紋，電池片的隱裂會加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時電池片的隱裂會在機械載荷下擴大，有可能導致開路性破壞，隱裂還可能會導致熱斑效應。隱裂的產生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或在運輸、倒運過程中劇烈的抖動都有可能造成電池片的隱裂。光伏組件在出廠前會進行EL成像檢測，所使用的儀器為EL檢測儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用辨率的CCD相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺點。EL檢測儀能夠檢測光伏電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異常現(xiàn)象。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，歡迎您的來電哦！
隱裂、熱斑、PID效應，是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素。隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺點，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂(micro-crack)。晶硅組件由于其自身晶體結構的特性，十分容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產生的根本原因，可歸納為硅片上產生了機械應力或熱應力?，F(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發(fā)展，降低了電池片防止機械破壞的能力，更容易產生隱裂。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，歡迎您的來電！北京組件檢測儀器
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