EL檢測(cè)儀，又稱場(chǎng)致發(fā)光測(cè)試，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件進(jìn)行缺陷檢測(cè)及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測(cè)試設(shè)備。利用機(jī)器視覺檢測(cè)方式對(duì)電池片表面檢測(cè)成像分析，從而可以查看是否有電池片組件內(nèi)部有電池片破裂、隱裂、黑心片、燒結(jié)斷柵嚴(yán)重、虛焊、脫焊等情況。目前在在太陽(yáng)能電池片質(zhì)量檢測(cè)中使用較多的為EL檢測(cè)儀。EL檢測(cè)儀測(cè)驗(yàn)的進(jìn)程即晶體硅太陽(yáng)電池外加正向偏置電壓，直流電源向晶體硅太陽(yáng)電池注入很多非平衡載流子，太陽(yáng)電池依托從分散區(qū)注入的很多非平衡載流子不斷地復(fù)合發(fā)光，放出光子，也就是光伏效應(yīng)的逆進(jìn)程；再使用ccd相機(jī)捕捉到這些光子，經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理后以圖畫的方式顯現(xiàn)出來(lái)，整個(gè)進(jìn)程都在暗室中進(jìn)行。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測(cè)，有想法的不要錯(cuò)過(guò)哦！山東pl檢測(cè)儀
不同的隱裂，對(duì)電池片功能造成的影響是不一樣的。對(duì)電池片功能影響比較大的，是平行于主柵線的隱裂（第4類）。根據(jù)研究結(jié)果，50%的失效片來(lái)自于平行于主柵線的隱裂。45°傾斜裂紋（第3類）的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。垂直于主柵線的裂紋（第5類）幾乎不影響細(xì)柵線，因此造成電池片失效的面積幾乎為零。有研究結(jié)果顯示，組件中某單個(gè)電池片的失效面積在8%以內(nèi)時(shí)，對(duì)組件的功率影響不大，組件中2/3的斜條紋對(duì)組件的功率穩(wěn)定沒有影響。寧夏視覺檢測(cè)儀器價(jià)格檢測(cè)，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，有想法可以來(lái)我司咨詢！
光伏電站的收益好壞，取決于光伏組件的發(fā)電效率，而影響光伏組件發(fā)電效率的因素可通過(guò)EL檢測(cè)分析出來(lái)并加以改善。EL英文全稱ElectroLuminescence，即電致發(fā)光，也可以叫電子發(fā)光檢測(cè)。是根據(jù)半導(dǎo)體輻射復(fù)合釋放光子的特點(diǎn)，對(duì)組件施加正向電壓注入非平衡載流子，并通過(guò)光子探測(cè)器接收非平衡載流子輻射復(fù)合釋放的光子，非平衡載流子濃度越高（正常區(qū)域）釋放的光子越多，EL顯示圖像越亮；非平衡載流子濃度越低（缺點(diǎn)區(qū)域）釋放的光子越少，EL圖像越暗，通過(guò)圖像明暗關(guān)系即可反應(yīng)組件內(nèi)部電池缺點(diǎn)情況。
發(fā)光成像方法為太陽(yáng)電池缺點(diǎn)檢測(cè)提供了一種非常好的解決方案，這種檢測(cè)技術(shù)使用方便，類似的二維化面檢測(cè)。本文討論的是光致發(fā)光技術(shù)在檢測(cè)晶體Si太陽(yáng)電池上的應(yīng)用。光致發(fā)光(photoluminescence，PL)檢測(cè)過(guò)程大致包括激光被樣品吸收、能量傳遞、光發(fā)射及CCD成像四個(gè)階段。通常利用激光作為激發(fā)光源，提供一定能量的光子，Si片中處于基態(tài)的電子在吸收這些光子后而進(jìn)入激發(fā)態(tài)，處于激發(fā)態(tài)的電子屬于亞穩(wěn)態(tài)，在短時(shí)間內(nèi)會(huì)回到基態(tài)，并發(fā)出以1150 nm的紅外光為波峰的熒光。利用冷卻的照相機(jī)鏡頭進(jìn)行感光，將圖像通過(guò)計(jì)算機(jī)顯示出來(lái)。發(fā)光的強(qiáng)度與本位置的非平衡少數(shù)載流子的密度成正比，而缺點(diǎn)處會(huì)成為少數(shù)載流子的強(qiáng)復(fù)合中心，因此該區(qū)域的少數(shù)載流子密度變小導(dǎo)致熒光效應(yīng)減弱，在圖像上表現(xiàn)出來(lái)就成為暗色的點(diǎn)、線，或一定的區(qū)域，而在電池片內(nèi)復(fù)合較少的區(qū)域則表現(xiàn)為比較亮的區(qū)域。因此，通過(guò)觀察光致發(fā)光成像能夠判斷Si片或電池片是否存在缺點(diǎn)。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測(cè)，有想法可以來(lái)我司咨詢。
識(shí)別“隱裂”的方法EL(Electroluminescence，電致發(fā)光)是一種太陽(yáng)能電池或組件的內(nèi)部缺點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備，是簡(jiǎn)單有效的檢測(cè)隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過(guò)辨率的紅外相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺點(diǎn)。具有靈敏度高、檢測(cè)速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點(diǎn)。形成“隱裂”的原因外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運(yùn)、安裝、施工等過(guò)程中會(huì)受外力，當(dāng)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、設(shè)備故障或操作不當(dāng)時(shí)會(huì)造成隱裂。高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過(guò)預(yù)熱，然后在短時(shí)間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會(huì)造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過(guò)高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。原材料：原材料的缺點(diǎn)也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司檢測(cè)服務(wù)值得放心。江蘇視覺檢測(cè)設(shè)備廠家
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上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，EL檢測(cè)儀，又稱太陽(yáng)能組件電致發(fā)光缺點(diǎn)檢測(cè)儀，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件進(jìn)行缺點(diǎn)檢測(cè)及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測(cè)試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會(huì)發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測(cè)試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個(gè)波長(zhǎng)的光并成像于電腦上。因?yàn)橥姲l(fā)的光與PN結(jié)中離子濃度有很大的關(guān)系，因此可以根據(jù)圖像來(lái)判斷硅片內(nèi)部的狀況。EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑域，該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光，故紅外相片中反映出黑心，此類發(fā)光現(xiàn)象和硅襯底少數(shù)載流子濃度有關(guān)。這種電池片中心部位的電阻率偏高。山東pl檢測(cè)儀