納米云紋法,云紋法是在20世紀60年代興起的物體表面全場變形的測量技術。從上世紀80年代以來,高頻率光柵制作技術已經(jīng)日趨成熟。目前高精度云紋干涉法通常使用的高密度光柵頻率已達到600~2400線mm,其測量位移靈敏度比傳統(tǒng)的云紋法高出幾十倍甚至上百倍。近年來云紋法的研究熱點已進入微納尺度的變形測量,并出現(xiàn)與各種高分辨率電鏡技術、掃描探針顯微技術相結合的趨勢。顯微幾何云紋法,在光學顯微鏡下通過調整放大倍數(shù)將柵線放大到頻率小于40線/mm,然后利用分辨率高的感光膠片分別記錄變形前后的柵線,兩種柵線干涉后即可獲得材料表面納米級變形的云紋。納米力學測試助力新能源材料研發(fā),提高能量轉換效率。湖南空心納米力學測試廠家直銷
微納米材料力學性能測試系統(tǒng)可移動范圍:250mm x 150mm;步長分辨率:50nm;Encoder 分辨率:500nm;較大移動速率:30mm/S;Z stage??梢苿臃秶?0mm;步長分辨率:3nm;較大移動速率:1.9mm/S。原位成像掃描范圍。XY 方向:60μm x 60μm;Z 方向:4μm;成像分辨率:256 x 256 像素點;掃描速率:3Hz;壓頭原位的位置控制精度:<+/-10nm;較大樣品尺寸:150mm- 200mm。納米壓痕試驗:測試硬度及彈性模量(包括隨著連續(xù)壓入深度的變化獲得硬度和彈性模量的分布)以及斷裂韌性、蠕變、應力釋放等。 納米劃痕試驗:獲得摩擦系數(shù)、臨界載荷、膜基結合性質。納米摩擦磨損試驗 :評價抗磨損能力。在壓痕、劃痕、磨損前后的SPM原位掃描探針成像: 獲得微區(qū)的形貌組織結構。廣州涂層納米力學測試服務解決方案之一:采用新型納米材料,提高力學性能,拓寬應用范圍。
原位納米片取樣和力學測試技術,原位納米片取樣和力學測試技術是一種新興的納米尺度力學測試方法,其基本原理是利用優(yōu)化的離子束打造方法,在含有待測塑料表面的納米區(qū)域內制備出超薄的平面固體材料,再對其進行拉伸、扭曲等力學測試。相比于傳統(tǒng)的拉伸試驗等方法,原位納米片取樣技術具有更優(yōu)的尺寸控制和納米量級精度,可以為納米尺度力學測試提供更加準確的數(shù)據(jù)。總之,原位納米力學測量技術的研究及應用是未來納米材料科學發(fā)展的重要方向之一,將為納米材料的設計、開發(fā)以及工業(yè)應用等領域的發(fā)展做出積極貢獻。
研究液相環(huán)境下的流體載荷對探針振動產(chǎn)生的影響可以將AFAM 定量化測試應用范圍擴展至液相環(huán)境。液相環(huán)境下增加的流體質量載荷和流體阻尼使探針振動的共振頻率和品質因子都較大程度上減小。Parlak 等采用簡單的解析模型考慮流體質量載荷和流體阻尼效應,可以在液相環(huán)境下從探針的接觸共振頻率導出針尖樣品的接觸剛度值。Tung 等通過嚴格的理論推導,提出通過重構流體動力學函數(shù)的方法,將流體慣性載荷效應進行分離。此方法不需要預先知道探針的幾何尺寸及材料特性,也不需要了解周圍流體的力學性能。納米力學測試通常在真空或者液體環(huán)境下進行,以保證測試的準確性。
2005 年,中國科學院上海硅酸鹽研究所的曾華榮研究員在國內率先單獨開發(fā)出定頻成像模式的AFAM,但不能測量模量。隨后,同濟大學、北京工業(yè)大學等單位也對這種成像模式進行了研究。2011 年初,我們研究組將雙頻共振追蹤技術用于AFAM,實現(xiàn)了快速的納米模量成像(一幅256×256 像素的圖像只需1~2min),并對其準確度和靈敏度進行了系統(tǒng)研究。較近幾年,AFAM 引起了越來越多國內外學者的關注。然而,相對于其他AFM 模式,AFAM 的測量原理涉及梁振動力學和接觸力學,初學者不容易掌握。納米力學測試在材料設計和產(chǎn)品開發(fā)中發(fā)揮著重要作用,能夠提供關鍵的力學性能參數(shù)。汽車納米力學測試儀
通過納米力學測試,我們可以深入了解納米材料在受到外力作用時的變形和破壞機制。湖南空心納米力學測試廠家直銷
隨著科學技術的發(fā)展,納米尺度材料的研究變得越來越重要。納米尺度材料具有獨特的力學性質,與傳統(tǒng)材料相比有著許多不同之處。為了深入了解和研究納米尺度材料的力學性質,科學家們不斷開發(fā)出各種先進的測試方法。在本文中,我將分享一些納米尺度下常用的材料力學性質測試方法,研究人員可以根據(jù)具體需求選擇適合的方法來進行材料力學性質的測試與研究。納米尺度下力學性質的研究對于深入了解材料的力學行為、提高材料性能以及開發(fā)新材料具有重要意義。希望本文所分享的方法能夠對相關研究和應用提供一定的指導和幫助。湖南空心納米力學測試廠家直銷