無損檢測(cè)形式：渦流檢測(cè)（ECT）應(yīng)用：根據(jù)試件的形狀和測(cè)試目的，可以使用不同形式的線圈，通常包括貫穿式、探針式和插入式線圈。通過線圈用于檢測(cè)管道、棒材和電線。其內(nèi)徑略大于待檢物體。使用時(shí)，待檢物體以一定速度通過線圈，可以發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜物、凹坑和其他缺陷。探頭線...

無損檢測(cè)設(shè)備特點(diǎn)：1。非破壞性：非破壞性-這意味著當(dāng)獲得測(cè)試結(jié)果時(shí)，除了拒收不合格產(chǎn)品外，零件不會(huì)丟失。因此，檢查規(guī)模不受零件數(shù)量的限制。如有必要，可采用抽樣檢驗(yàn)或一般檢驗(yàn)。因此，它更靈活（一般檢查和現(xiàn)場(chǎng)檢查）和可靠。2.相互兼容：相互兼容是指檢驗(yàn)方法的相互兼...

無損檢測(cè)簡(jiǎn)介：無損檢測(cè)又稱無損檢測(cè)，是一種利用射線、超聲波、紅外、電磁等原理和技術(shù)，結(jié)合儀器，在不損壞或影響被測(cè)物體使用性能的情況下，檢測(cè)材料、零件和設(shè)備的缺陷、化學(xué)和物理參數(shù)的技術(shù)。常見的例子包括焊縫裂紋的超聲波檢查。中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無損檢測(cè)學(xué)會(huì)是中國(guó)無損檢...

為什么很多企業(yè)購(gòu)買X射線無損檢測(cè)設(shè)備？X射線檢測(cè)設(shè)備是利用X射線穿透與材料密度之間的關(guān)系。使用差分吸收可以區(qū)分不同密度的材料。如果被測(cè)物體具有破碎的形狀、不同的厚度和不同的形狀，那么X射線的吸收是不同的，生成的圖像也是不同的。因此，它可以形成差分圖像。實(shí)現(xiàn)無損...

無損檢測(cè)形式：滲透檢測(cè)（PT）：原理：零件表面涂上含熒光染料或染料的滲透劑后，滲透劑在毛細(xì)管作用下一段時(shí)間后可滲透到表面開放缺陷中；去除零件表面多余的滲透劑后，在零件表面涂抹顯影劑。同樣，在毛細(xì)管的作用下，顯影劑會(huì)吸引殘留在缺陷中的滲透劑，滲透劑會(huì)滲透回顯影劑...

掃描電鏡原位加載系統(tǒng)：掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域，它可以將材料宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來，這對(duì)研發(fā)高性能新型材料非常有幫助。但電鏡原位實(shí)驗(yàn)從來都不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工作，有的時(shí)候甚至還需要一些運(yùn)氣。掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品...

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)應(yīng)用：1、在大視場(chǎng)、低放大倍數(shù)下觀察樣品，用掃描電鏡觀察試樣的視場(chǎng)大：視場(chǎng)、低倍數(shù)觀察樣品的形貌對(duì)有些領(lǐng)域是很必要的，如刑事偵察和考古。2、進(jìn)行從高倍到低倍的連續(xù)觀察：掃描電鏡的放大倍數(shù)范圍很寬（從5到20萬倍連續(xù)可調(diào)），且一次聚焦好...

基于掃描電鏡的原位加載裝置的制作方法：材料的宏觀破壞往往是由微觀失效累積引起的，比如金屬多晶材料，其破壞往往是從晶界斷裂開始的，加之對(duì)于宏觀材料的宏觀力學(xué)性能研究已經(jīng)比較成熟，目前相關(guān)學(xué)者們將研究視野逐漸轉(zhuǎn)向了材料的微尺度力學(xué)性能研究，這必然要涉及到到微觀變形...

掃描電鏡原位加載系統(tǒng)：掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域，它可以將材料宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來，這對(duì)研發(fā)高性能新型材料非常有幫助。但電鏡原位實(shí)驗(yàn)從來都不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工作，有的時(shí)候甚至還需要一些運(yùn)氣。掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品...

掃描電子顯微鏡工作原理：光柵掃描，逐點(diǎn)成像：電子設(shè)備發(fā)射電子束，電壓加速、磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑約5nm的電子束。電子束在偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，在樣品上做光柵狀掃描，激發(fā)多種電子信號(hào)。探測(cè)器收集電子信號(hào)，經(jīng)過電信號(hào)放大器加以放大處理，在顯示系統(tǒng)上成像。二次電子的...

加速電壓會(huì)對(duì)掃描電鏡的觀測(cè)造成哪些影響呢？掃描電鏡激發(fā)試樣的能量主要取決于入射束的加速電壓，當(dāng)高能量的電子束入射到同一試樣中時(shí)，入射電子束與試樣相互作用區(qū)范圍的大小隨加速電壓的升高而增大；在同一加速電壓下，隨試樣組分密度的增大而減小。電鏡圖像的反差通常也會(huì)隨加...

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)：1、熱游離方式電子設(shè)備有鎢(W)燈絲及六硼化鑭(LaB6)燈絲兩種，它是利用高溫使電子具有足夠的能量去克服電子設(shè)備材料的功函數(shù)(workfunction)能障而逃離。對(duì)發(fā)射電流密度有重大影響的變量是溫度和功函數(shù)，但因操作電子設(shè)...

原位加載掃描電鏡技術(shù)：將掃描電鏡與原位加載臺(tái)結(jié)合,對(duì)材料的損傷破壞過程從細(xì),微觀角度進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè),有助于深入研究影響材料力學(xué)性能的主要因素.綜述了近年來原位加載掃描電鏡技術(shù)及其相關(guān)的新技術(shù)在材料細(xì)觀損傷力學(xué)研究中的應(yīng)用,并對(duì)該技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中的發(fā)展方向...

原位加載掃描電鏡技術(shù)：將掃描電鏡與原位加載臺(tái)結(jié)合,對(duì)材料的損傷破壞過程從細(xì),微觀角度進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè),有助于深入研究影響材料力學(xué)性能的主要因素.綜述了近年來原位加載掃描電鏡技術(shù)及其相關(guān)的新技術(shù)在材料細(xì)觀損傷力學(xué)研究中的應(yīng)用,并對(duì)該技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中的發(fā)展方向...

加速電壓會(huì)對(duì)掃描電鏡的觀測(cè)造成哪些影響呢？加速電壓越高，電子束波長(zhǎng)越短，掃描電鏡的分辨力越高。當(dāng)對(duì)不同試樣進(jìn)行不同目的地觀測(cè)時(shí)，往往要調(diào)節(jié)加速電壓和束流參數(shù)。在選擇加速電壓時(shí)，要考慮到高/低壓各自的優(yōu)缺點(diǎn)，全盤考慮、衡量之后再做決定。選擇較低的加速電壓有可能會(huì)...

數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：原位加載掃描電鏡或其擴(kuò)展技術(shù)觀測(cè)到的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象單是對(duì)材料力學(xué)性能的定性研究，對(duì)材料的力學(xué)變化規(guī)律無法實(shí)現(xiàn)定量的分析和比較，影響了研究的深人。近年來，隨著數(shù)字圖像分析技術(shù)的不斷深入，對(duì)基于原位加載掃描電鏡研究的結(jié)果進(jìn)...

掃描電鏡原位加載設(shè)備：基本結(jié)構(gòu)：掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號(hào)是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是很主...

掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進(jìn)展：利用原位拉伸掃描電鏡研究了新型環(huán)氧樹脂復(fù)合材料在拉伸與剪切等作用下的細(xì)觀損傷過程，通過對(duì)裂紋尺寸的測(cè)量和計(jì)算，得到斷裂過程中的破壞強(qiáng)度，進(jìn)一步通過有限元計(jì)算分析了在材料基體中的應(yīng)力分布因子，對(duì)不同破壞模式下材料界面的破壞機(jī)理進(jìn)行了...

掃描電鏡的基本原理是什么？掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理，臺(tái)式掃描電鏡與傳統(tǒng)的大型掃描電子顯微鏡相比，臺(tái)式掃描電子顯微鏡具有體積小、操作簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、抽真空速度快等優(yōu)點(diǎn)。臺(tái)式掃描電子顯微鏡的分辨率可以滿足大多數(shù)材料的顯微觀察。臺(tái)式掃描電鏡填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型...

掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進(jìn)展：在掃描電鏡中組裝具有拉伸、壓縮、彎曲、剪切等功能的附加加載裝置后，可以將加載作用與對(duì)材料表面結(jié)構(gòu)的顯微觀測(cè)研究結(jié)合起來，甚至與材料的宏觀力學(xué)性能研究相結(jié)合，從而為研究影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素提供有力支撐。從上世紀(jì)60年代末期開始...

uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)...

數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：研究發(fā)現(xiàn),對(duì)材料在不同延伸率下分形維數(shù)進(jìn)行作圖，分形維數(shù)變化的拐點(diǎn)預(yù)示了固體顆粒與粘合劑脫濕變化的發(fā)生，具有統(tǒng)計(jì)學(xué)的比較意義;利用分形維數(shù)變化速率及變化拐點(diǎn)的比較，可以對(duì)固體推進(jìn)劑的力學(xué)規(guī)律進(jìn)行分析研究。該研究的...

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：掃描電鏡原位加載技術(shù)是觀測(cè)材料在拉伸作用下斷裂破壞行為很方便、直觀的觀測(cè)設(shè)備，但是，該技術(shù)也存在一定的缺陷，如:由于SEM的成本太高，實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)難以大量普及;SEM加載腔的有限尺寸使得原位拉伸臺(tái)必須通過精密的加工工藝材料生產(chǎn)與組裝，又...

掃描電鏡原位加載設(shè)備：特點(diǎn)：制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等，對(duì)于導(dǎo)電材料，可直接放入樣品室進(jìn)行分析，對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層?；窘Y(jié)構(gòu)：掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理...

數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：原位加載掃描電鏡或其擴(kuò)展技術(shù)觀測(cè)到的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象單是對(duì)材料力學(xué)性能的定性研究，對(duì)材料的力學(xué)變化規(guī)律無法實(shí)現(xiàn)定量的分析和比較，影響了研究的深人。近年來，隨著數(shù)字圖像分析技術(shù)的不斷深入，對(duì)基于原位加載掃描電鏡研究的結(jié)果進(jìn)...

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)：1、熱游離方式電子設(shè)備有鎢(W)燈絲及六硼化鑭(LaB6)燈絲兩種，它是利用高溫使電子具有足夠的能量去克服電子設(shè)備材料的功函數(shù)(workfunction)能障而逃離。對(duì)發(fā)射電流密度有重大影響的變量是溫度和功函數(shù)，但因操作電子設(shè)...

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)：SEM樣品若為金屬或?qū)щ娦粤己茫瑒t表面不需任何處理，可直接觀察。若為非導(dǎo)體，則需鍍上一層金屬膜或碳膜協(xié)助樣品導(dǎo)電，膜層應(yīng)均勻無明顯特征，以避免干擾樣品表面。金屬膜較碳膜容易鍍，適用于SEM影像觀察，通常為Au或Au-Pd合金或...

掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進(jìn)展：利用原位拉伸掃描電鏡研究了新型環(huán)氧樹脂復(fù)合材料在拉伸與剪切等作用下的細(xì)觀損傷過程，通過對(duì)裂紋尺寸的測(cè)量和計(jì)算，得到斷裂過程中的破壞強(qiáng)度，進(jìn)一步通過有限元計(jì)算分析了在材料基體中的應(yīng)力分布因子，對(duì)不同破壞模式下材料界面的破壞機(jī)理進(jìn)行了...

原位加載掃描電鏡技術(shù)與運(yùn)用：材料的力學(xué)性能是其諸多性能中的關(guān)鍵性能之一，對(duì)于材料獲得大范圍的應(yīng)用具有重要意義。因此，對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行研究,尋求提高材料力學(xué)性能的途徑，成為材料科學(xué)研究中的重要工作。但目前對(duì)材料性能的研究多是基于宏觀的試驗(yàn)研究，測(cè)試結(jié)果雖與材...

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)應(yīng)用：1、直接觀察大試樣的原始表面：它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對(duì)試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實(shí)觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度（背散射電子象）。2、觀察厚...