而且光驅(qū)的聚焦與尋道很大程度上與盤片本身不無關(guān)系。目前市場上不論是正版盤還是盜版盤都會存在不同程度的中心點偏移以及光介質(zhì)密度分布不均的情況。當(dāng)光盤高速旋轉(zhuǎn)時，造成光盤強烈震動的情況，不但使得光驅(qū)產(chǎn)生風(fēng)噪，而且迫使激光頭以相應(yīng)的頻率反復(fù)聚焦和尋跡調(diào)整，嚴(yán)重影響光驅(qū)的讀盤效果與使用壽命。在36X-44X的光驅(qū)產(chǎn)品中，普遍采用了全鋼機芯技術(shù)，通過重物懸垂實現(xiàn)能量的轉(zhuǎn)移。 但面對每分鐘上萬轉(zhuǎn)的高速產(chǎn)品，全鋼機芯技術(shù)顯得有些無能為力，市場上已經(jīng)推出了以ABS技術(shù)為中心光驅(qū)產(chǎn)品。ABS技術(shù)主要是通過在光盤托盤下配置一副鋼珠軸承，當(dāng)光盤出現(xiàn)震動時，鋼珠會在離心力的作用下滾動到質(zhì)量較輕的部分進(jìn)行填補，以起到瞬間平衡的作用，從而改善光驅(qū)性能。光盤上有兩種狀態(tài)，即凹點和空白，它們的反射信號相反，很容易經(jīng)過光檢測器識別。甘肅光驅(qū)
光驅(qū)是光盤驅(qū)動器，裝載數(shù)據(jù)信息的載體被稱之為光盤。向光盤讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)的叫光驅(qū)。 光盤的特點有：容量大、成本低廉、穩(wěn)定性好、使用壽命長、便于攜帶。 光盤驅(qū)動器簡稱光驅(qū)是一個結(jié)合光學(xué)、機械及電子技術(shù)的產(chǎn)品。在光學(xué)和電子結(jié)合方面，激光光源來自于一個激光二極管，它可以產(chǎn)生波長約0.54-0.68微米的光束，經(jīng)過處理后光束更集中且能精確控制，光束首先打在光盤上，再由光盤反射回來，經(jīng)過光檢測器捕捉信號。 光盤上有兩種狀態(tài)，即凹點和空白，它們的反射信號相反，很容易經(jīng)過光檢測器識別。云南推薦的光驅(qū)配置激光頭會根據(jù)尋跡信號對姿態(tài)進(jìn)行適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。
此外，一些光驅(qū)為了提高容錯能力，提高了激光頭的功率。當(dāng)光頭功率增大后，讀盤能力確實有一定的提高，但長時間“超頻”使用會使光頭老化，嚴(yán)重影響光驅(qū)的壽命。一些光驅(qū)在使用三個月后就出現(xiàn)了讀盤能力下降的現(xiàn)象，這就很可能是光頭老化的結(jié)果。這種以壽命來換取容錯性的方法是不可取的。那么，如何判斷您購買的光驅(qū)是否被“超頻”呢？在購買的時候，你可以讓光驅(qū)讀一張質(zhì)量稍差的盤片，如果在盤片退出后表面溫度很高，甚至燙手，那就有可能是被“超頻”了。不過也不能排除是光驅(qū)主軸馬達(dá)發(fā)熱量大的結(jié)果。
其中，CLv技術(shù)(Constant Linem Velocity，恒定線速度)是12倍速以下光驅(qū)普遍采用的一種技術(shù)。CLV技術(shù)指從盤片的內(nèi)道(內(nèi)圈)向外道移動過程中，單位時間內(nèi)讀過的軌道弧線長度相等。由于CD盤片的內(nèi)環(huán)半徑比外環(huán)小，因此檢測光頭靠近內(nèi)環(huán)時的旋轉(zhuǎn)速度自然比靠近外環(huán)時快，也只有這樣才能滿足數(shù)據(jù)傳輸速率保持不變這一要求。 CAV技術(shù)(Constant Angular Velocity，恒定角速度)是20倍速以上光驅(qū)常用的一種技術(shù)。CAV技術(shù)的特點是為保持旋轉(zhuǎn)速度恒定，其數(shù)據(jù)傳輸速率是可變的。即檢測光頭在讀取盤片內(nèi)環(huán)與外環(huán)數(shù)據(jù)時，數(shù)據(jù)傳輸速率會隨之變化。比如一個20倍速產(chǎn)品在內(nèi)環(huán)時可能只有10倍速，隨著向外環(huán)移動數(shù)據(jù)傳輸速率逐漸加大，直至在外環(huán)時可達(dá)到20倍速。在36X-44X的光驅(qū)產(chǎn)品中，普遍采用了全鋼機芯技術(shù)，通過重物懸垂實現(xiàn)能量的轉(zhuǎn)移。
相對于讀盤速度而言，光驅(qū)的容錯性顯得更加重要?；蛘哒f，穩(wěn)定的讀盤性能是追求讀盤速度的前提。由于光盤是移動存儲設(shè)備，并且盤片的表面沒有任何保護，因此難免會出現(xiàn)劃傷或沾染上雜物質(zhì)情況，這些小毛病都會影響數(shù)據(jù)的讀取。為了提高光驅(qū)的讀盤能力，廠商獻(xiàn)計獻(xiàn)策，其中，“人工智能糾錯（AIEC）”是一項比較成熟的技術(shù)。AIEC通過對上萬張光盤的采樣測試，“記錄”下適合他們的讀盤策略，并保存在光驅(qū)BIOS芯片中。以方便光驅(qū)針對偏心盤、低反射盤、劃傷盤進(jìn)行自動的讀盤策略的選擇。由于光盤的特征千差萬別，所以目前市面上少數(shù)光驅(qū)產(chǎn)品還專門采用了可擦寫B(tài)IOS技術(shù)，使得DIYer可以通過在現(xiàn)方式對BIOS進(jìn)行實時的修改，所以說Flash BIOS技術(shù)的采用，對于光驅(qū)整體性能的提高起到了巨大的作用。它主要負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)的讀取工作，因此在清理光驅(qū)內(nèi)部的時候要格外小心。黑龍江工程光驅(qū)技術(shù)指導(dǎo)
光盤的特點有：容量大、成本低廉、穩(wěn)定性好、使用壽命長、便于攜帶。甘肅光驅(qū)
P－CAV技術(shù)(Partial CAV：局部恒定角速度)則是融合了CLV和CAV兩者精華形成的一種技術(shù)。當(dāng)檢測光頭讀盤片的內(nèi)環(huán)數(shù)據(jù)時，旋轉(zhuǎn)速度保持不變，使數(shù)據(jù)傳輸速率得以增加；而當(dāng)檢測光頭讀取外環(huán)數(shù)據(jù)時，則對旋轉(zhuǎn)速度進(jìn)行提升。 CPU占用時間(CPIU Loading)指CD—ROM光驅(qū)在維持一定的轉(zhuǎn)速和數(shù)據(jù)傳輸速率時所占用CPU的時間。該指標(biāo)是衡量光驅(qū)性能的一個重要指標(biāo)，從某種意義上講，CPU的占用率可以反映光驅(qū)的BIOS編寫能力。優(yōu)良產(chǎn)品可以盡量減少CPU占用率，這實際上是一個編寫B(tài)IOS的軟件算法問題，當(dāng)然這只能在質(zhì)量比較好的盤片上才能反映。如果碰上一些磨損非常嚴(yán)重的光盤，CPU占用率自然就會直線上升，如果用戶想節(jié)約時問，就必須選購那些讀“磨損嚴(yán)重光盤”的能力較強、CPu占用率較低的光驅(qū)。從測試數(shù)據(jù)可以看出，在讀質(zhì)量較好的盤片時，好的與差的成績相差不會超過兩個百分點，但是在讀質(zhì)量不好的盤片時，差距就會增大。甘肅光驅(qū)
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