快速測(cè)量發(fā)射率測(cè)量?jī)x設(shè)備制造

    參數(shù)介紹|半球發(fā)射率AE1/RD1：AE1/RD1輻射率儀測(cè)量材料的總半球發(fā)射率，測(cè)量?jī)x*對(duì)輻射熱傳輸響應(yīng)，并且輸出電壓和發(fā)射率成線性關(guān)系。D&S的標(biāo)度數(shù)字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數(shù)器，RD1通過(guò)可調(diào)旋鈕來(lái)設(shè)定電壓讀數(shù)和發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體的電壓一致，當(dāng)AE1測(cè)量待測(cè)樣品上時(shí)，RD1就能直接讀出發(fā)射率。把該儀器放在高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體（黑體）上，設(shè)定RD1來(lái)表示發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；然后儀器就會(huì)根據(jù)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，計(jì)算并直接讀出RD1上該被測(cè)目標(biāo)的發(fā)射率。AE1測(cè)量樣品直徑不小于（）?？蛇x附件AE-AD1和AE-AD3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品直徑不小于（），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。如需定制測(cè)量頭，可來(lái)上海明策咨詢！ 重復(fù)性：±操作簡(jiǎn)單：探測(cè)器采用電加熱設(shè)計(jì)，無(wú)須加熱樣品，也不需要測(cè)量溫度。 快速測(cè)量：預(yù)熱約30分鐘?？焖贉y(cè)量發(fā)射率測(cè)量?jī)x設(shè)備制造

發(fā)射率測(cè)量?jī)x可用于航天熱控涂層所謂的熱控涂層簡(jiǎn)單的說(shuō)就是兩個(gè)字—保溫，讓升上天的那些航空元器件不至于暴露在**溫環(huán)境下?lián)p壞。發(fā)射率測(cè)量?jī)x這時(shí)候就很重要。測(cè)量這種航天熱控涂層，需要測(cè)量涂層的法向發(fā)射率、半球發(fā)射率、太陽(yáng)光反射率，以計(jì)算涂層的熱輻射性能（就是一束太陽(yáng)光照過(guò)來(lái)，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，這樣就能計(jì)算出在不同光照下，涂層大概會(huì)維持在什么溫度范圍，這個(gè)就是對(duì)航空器件的控溫要求的一種保證）。像這種應(yīng)用的話TESA2000發(fā)射率測(cè)量?jī)x是很合適的。發(fā)射率測(cè)量?jī)x可應(yīng)用于節(jié)能建筑、LEED認(rèn)證等研究都是有用到的。DS發(fā)射率測(cè)量?jī)x特性并且輸出電壓和發(fā)射率成線性關(guān)系，D&S的標(biāo)度數(shù)字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數(shù)器。

AE1/RD1可選配件（用于AE1型發(fā)射率計(jì)）發(fā)射率測(cè)量?jī)x適配器—型號(hào)AE-AD3。AE1和AE-AD3適配器的發(fā)射率測(cè)量可以在直徑約為1.0英寸（2.54厘米）的平坦區(qū)域進(jìn)行。典型應(yīng)用包括對(duì)材料的小樣品試樣進(jìn)行測(cè)量，并在一個(gè)較大的樣本上測(cè)量一個(gè)小的可用的平面區(qū)域。適配器可以在要測(cè)量的區(qū)域上有效阻隔1英寸高度的垂直障礙物影響。發(fā)射率測(cè)量?jī)x適配器—型號(hào)AE-AD1。AE1和AE-AD1適配器的發(fā)射率測(cè)量?jī)x可以實(shí)現(xiàn)在直徑為1.5英寸（3.8厘米）的平坦區(qū)域小目標(biāo)測(cè)量。典型的應(yīng)用是在太陽(yáng)能吸收板上的管子進(jìn)行測(cè)量，或者測(cè)量小于直徑2.25英寸（5.7cm）的區(qū)域。發(fā)射率測(cè)量?jī)x端口適配器—型號(hào)ADP。AE-ADP端口內(nèi)徑為1.5英寸。該模型用于測(cè)量較小的樣品尺寸，具有低導(dǎo)熱性的材料，大曲率圓柱形表面（>2英寸）粗糙或紋理表面。

測(cè)量方法介紹輻射積分法：漫射光照射被測(cè)物表面，利用多個(gè)探測(cè)器探測(cè)一定角度上不同波段的發(fā)射輻射能，加權(quán)計(jì)算得到被測(cè)物表面太陽(yáng)反射比的方法。***光譜法：將試樣放置于積分球中心位置，通過(guò)測(cè)試試樣在規(guī)定波長(zhǎng)上的***光譜發(fā)射比，計(jì)算試樣太陽(yáng)光反射比的方法。相對(duì)光譜法：通過(guò)測(cè)試試樣在規(guī)定波長(zhǎng)上相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜發(fā)射比，計(jì)算試樣太陽(yáng)反射比的方法。光纖光譜儀：采用光纖作為信號(hào)耦合器件，將試樣反射光耦合到光譜儀中進(jìn)行光譜分析測(cè)定試樣反射比的儀器。上海明策不僅提供儀器與方案，更有現(xiàn)場(chǎng)專業(yè)服務(wù)！DS半球發(fā)射率AE1/RD1我們有全新現(xiàn)貨。可以提供一次測(cè)試服務(wù)。反射率有太陽(yáng)光譜反射率測(cè)量?jī)xSSR-ER、TESA2000反射率測(cè)量?jī)x等。操作簡(jiǎn)單:探測(cè)器采用電加熱設(shè)計(jì)，無(wú)須加熱樣品，也不需要測(cè)量溫度。

AE1/RD1半球發(fā)射率，測(cè)量?jī)x*對(duì)輻射熱傳輸響應(yīng)，并且輸出電壓和發(fā)射率成線性關(guān)系。D&S的標(biāo)度數(shù)字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數(shù)器，RD1通過(guò)可調(diào)旋鈕來(lái)設(shè)定電壓讀數(shù)和發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體的電壓一致，當(dāng)AE1測(cè)量待測(cè)樣品上時(shí)，RD1就能直接讀出發(fā)射率。操作簡(jiǎn)單，如果你想知道具體是如何操作的，可以隨時(shí)咨詢上海明策。AE1/RD1包含：AE1測(cè)量頭、兩個(gè)高發(fā)射率標(biāo)定塊、兩個(gè)低發(fā)射率標(biāo)定塊、熱沉裝置、小目標(biāo)適配器（含鋁配件）、大曲率測(cè)量適配器、通用100/240v50~60Hz電纜和電源、標(biāo)準(zhǔn)模塊化電源線、數(shù)字顯示儀表RD1、手提箱、CD、校準(zhǔn)證書(shū)、操作手冊(cè)、技術(shù)筆記、DVD教學(xué)視頻。對(duì)于小直徑圓柱形面樣品的測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。如需定制測(cè)量頭，請(qǐng)來(lái)電垂詢價(jià)格！DS發(fā)射率測(cè)量?jī)x特性

D&S 微型數(shù)字伏特計(jì)，型號(hào)RD1。快速測(cè)量發(fā)射率測(cè)量?jī)x設(shè)備制造

反射隔熱涂料檢測(cè)|AE1/RD1半球發(fā)射率來(lái)助力，什么是建筑反射隔熱涂料：以合成樹(shù)脂為基料，與功能性顏料及助劑等配置而成，施涂于建筑物外表面，具有較高太陽(yáng)光反射比、近紅外反射比和紅外半球發(fā)射率的涂料。因此在建筑行業(yè)會(huì)對(duì)該種材料做以上參數(shù)的檢測(cè)來(lái)評(píng)估涂料的性能。測(cè)量方法有：輻射積分法、***光譜法、相對(duì)光譜法、光纖光譜儀AE1RD1紅外半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x，專門(mén)針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，重復(fù)性±0.01，熱沉，標(biāo)準(zhǔn)版（低發(fā)射率拋光不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)板和高發(fā)射率黑色標(biāo)準(zhǔn)板?？焖贉y(cè)量發(fā)射率測(cè)量?jī)x設(shè)備制造

上海明策電子科技有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。公司自創(chuàng)立以來(lái)，投身于黑體校準(zhǔn)源，紅外測(cè)溫儀，高速攝像機(jī)，發(fā)射率測(cè)量?jī)x，是儀器儀表的主力軍。明策科技不斷開(kāi)拓創(chuàng)新，追求出色，以技術(shù)為先導(dǎo)，以產(chǎn)品為平臺(tái)，以應(yīng)用為重點(diǎn)，以服務(wù)為保證，不斷為客戶創(chuàng)造更高價(jià)值，提供更優(yōu)服務(wù)。明策科技始終關(guān)注儀器儀表市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長(zhǎng)共贏。